专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学测量装置和光学层析方法-CN201410072077.X在审
  • 大泽贤太郎;富田大辅;向尾将树 - 日立乐金光科技株式会社
  • 2014-02-28 - 2015-03-18 - A61B5/00
  • 本发明提供一种抑制层间串扰和散斑等因光学干涉引起的噪声的小型且价廉的光学测量装置和光学层析方法。光学测量装置包括:出射激光的光源;在驱动上述光源的驱动电流上叠加高频电流的高频叠加单元;使上述激光分束为信号光和参考光的光分束元件;使上述信号光会聚照射在测量对象上的物镜;使上述信号光的会聚位置扫描的会聚位置扫描单元;调整上述信号光与上述参考光之间的光程差的光程差调整单元;使被上述测量对象反射或散射的信号光与上述参考光合束,生成相位关系彼此不同的多束干涉光的干涉光学系统;和检测上述干涉光的光检测器。
  • 光学测量装置层析方法
  • [发明专利]偏振光感应型测光装置-CN201310544585.9有效
  • 大泽贤太郎;井手达朗;向尾将树 - 日立视听媒体股份有限公司
  • 2013-11-06 - 2014-06-11 - G01J4/02
  • 本发明提供一种测光装置,能够以比现有技术少的测定次数取得测定对象的偏振光信息。具有以下构成:把从光源(101)射出的光分支成照射到测定对象(107)的检查光和不照射到测定对象的参照光,把检查光通过被测定对象反射或散射而得到的信号光分离成相互正交的两个偏振分量即第一分支信号光和第二分支信号光,使第一分支信号光和参照光输入到第一干涉光学系统(113a)而相干涉,生成相位关系相互不同的三个以上的干涉光,使第二分支信号光和上述参照光输入到第二干涉光学系统(113b)而相干涉,生成相位关系相互不同的三个以上的干涉光,检测出由第一干涉光学系统生成的干涉光和由第二干涉光学系统生成的干涉光。
  • 偏振光感应测光装置
  • [发明专利]物镜-CN200810145099.9无效
  • 岛野健;向尾将树 - 日立麦克赛尔株式会社
  • 2008-08-07 - 2009-05-27 - G11B7/135
  • 本发明目的是实现把应补偿的相位差量抑制到很小,并防止电极的宽度过细,减小电极的引出线的区域面积的BD/HD互换透镜。通过在对HD必要的数值孔径(NA)的范围,具有BD和HD的衬底厚度的中间厚度的非球面形状,在BD专用的NA范围,具有BD专用的非球面形状的复合非球面透镜,做成BD再生时和HD再生时的HD的必要NA范围的像差波面形状具有形状相同仅符号反转的形状。再有,在HD的NA范围,与使其像差波面的最大倾角为最小的散焦的球面像差波面对应,使环状透明电极图案最佳化。施加的相位差在无视像差的整数波长成分的±1/2波长以内,将施加相同电压的环状电极从有效光瞳直径范围的内侧到外侧一笔画状连接并引出布线。
  • 物镜
  • [发明专利]物镜光学元件和光学头装置-CN200810211041.X无效
  • 向尾将树;岛野健 - 日立麦克赛尔株式会社
  • 2008-08-20 - 2009-02-25 - G11B7/135
  • 提供一种物镜光学元件和光学头装置,能用1个光盘装置处理使用相同的波长的激光但基板厚度不同的2个光盘,也能重放多层光盘。具有折射透镜部和液晶元件,以便使激光以第1数值孔径会聚在薄的基板厚度的光盘上,并使激光以比第1数值孔径小的第2数值孔径会聚在厚的基板厚度的光盘上。折射透镜部设计成在第2数值孔径的范围内对于2个光盘的中间的基板厚度RMS波面像差为极小,在第2数值孔径的外侧的区域中对于光盘的基板厚度RMS波面像差为0.05λ以下。互换用的液晶元件校正因两个光盘的基板厚度的差引起的球面像差,多层用的液晶元件校正基于多层光盘的层选择的球面像差。
  • 物镜光学元件装置

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