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[发明专利]一种同步辐射分光晶体热负荷变形的测量方法-CN202211129025.2在审
发明人：李中亮;张越;司尚禹;薛莲 -专利权人：中国科学院上海高等研究院
申请日： 2022-09-16 - 公布日： 2023-01-20 - 主分类号： G01N25/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种同步辐射分光晶体热负荷变形的测量方法，包括：在单色器的出光口处放置一块正交的分析晶体，同步辐射光束依次经过第一晶体、第二晶体、分析晶体后，产生衍射光束，衍射光束入射至成像探测器，获取第一晶体热变形时的杜蒙德图；根据杜蒙德图，获取第一晶体热变形时出射光强度在第一晶体；利用X射线仿真软件，获取不同失谐角下的出射光强度分布；根据出射光强度在第一晶体表面的分布和不同失谐角下的出射光强度分布，获取第一晶体表面不同位置的失谐角分布；构建几何模型，根据几何模型和第一晶体表面不同位置的失谐角分布，获取第一晶体表面不同位置的热变形分布，实现同步辐射分光晶体热负荷变形的测量。
一种同步辐射分光晶体负荷变形测量方法

[发明专利]一种同步辐射光束带宽的检测系统及方法-CN202211128236.4在审
发明人：李中亮;张越;司尚禹;薛莲 -专利权人：中国科学院上海高等研究院
申请日： 2022-09-16 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本发明涉及一种同步辐射光束带宽的检测系统，包括沿光路走向依次排布的分析晶体和测量装置，所述分析晶体安装于滚角调节台上，所述滚角调节台的下方依次排布有投角调节台、衍射角调节台、垂直调节台和水平调节台，且所述测量装置与所述衍射角调节台连接。本发明还涉及一种同步辐射光束带宽的检测方法。本发明通过分析晶体的正交配置，解耦同步辐射单色器出射光束波长和角度的耦合，提高了光束带宽的检测精度。本发明利用分析晶体高能量分辨、成像探测器高空间分辨的特性，简化了检测过程，实现了光束能量在空间分布的精确测量。本发明可直接测量光束的角度特性，能够更加真实地反映单色器双晶衍射过程中光束带宽的特性。
一种同步辐射光束带宽检测系统方法

[发明专利]一种用于同步辐射光束线光子能量标定的系统及方法-CN202211128240.0在审
发明人：李中亮;赵昌哲;司尚禹;黄楠顺;邓海啸 -专利权人：中国科学院上海高等研究院
申请日： 2022-09-16 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于同步辐射光束线光子能量标定的系统，包括沿光路走向依次排布的双晶单色器和分光晶体，所述分光晶体设置于精密转台上，所述精密转台与垂直位移台、水平位移台依次连接，所述分光晶体的正前方设有第一探测器，且所述分光晶体的正上方设有第二探测器。本发明利用色散情况下晶体的本征衍射，可以达到高精度标定X束线光子能量的要求。根据布拉格晶体衍射公式，利用晶体衍射面族，本发明可以实现多种X光子能量的标定，实现了一晶多用。另外，本发明的机械结构易于实现，分光晶体结构设计巧妙，可以准确实现一次晶体衍射和两次晶体衍射的切换，实现X束线光子能量的快速高精度标定。
一种用于同步辐射光束光子能量标定系统方法

[发明专利]镧掺杂铌镁酸铅‑钛酸铅透明陶瓷的制备方法-CN201410299641.1有效
发明人：张永成;卢朝靖;司尚禹;叶万能;张军然 -专利权人：青岛大学
申请日： 2014-06-27 - 公布日： 2017-02-15 - 主分类号： C04B35/499 文献下载
摘要：本发明属于物理化学材料制备技术领域，具体涉及一种镧掺杂铌镁酸铅‑钛酸铅透明陶瓷的制备方法，先以MgO、Nb2O5、PbO、TiO2和La2O3为原料，用高能球磨法制备La掺杂PMN‑PT粉体，再用干压成型或冷等静压工艺压制陶瓷坯体，去塑后在氧气氛条件下间歇抽真空烧结得到La掺杂PMN‑PT透明陶瓷。本发明的优点在于(1)采用上述方法制备的La掺杂PMN‑PT陶瓷，具有不含焦绿石相的纯钙钛矿相，致密度高，红外波段透光率最高可达67％，接近其理论透光率。(2)采用高能球磨，而不是传统工艺中的行星球磨，转速快，得到的粉体粒径小、成分均匀，而且耗时短。(3)使用廉价的普通烧结炉，采用一步烧结，降低粉体制备工艺耗时，可以制备复杂形状透明陶瓷，适合工业化批量生产。
掺杂铌镁酸铅钛酸铅透明陶瓷制备方法