|
|
钻瓜专利网为您找到相关结果 24个，建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [实用新型]一种小型变温样品台装置-CN202123391009.4有效
-
何秀芳
-
厦门行者科创科技有限公司
-
2021-12-30
-
2023-03-24
-
B01L7/00
- 本实用新型提供了一种小型变温样品台装置，可放置于常规小样品仓中，通用于光谱仪、X射线衍射仪、成像仪器及其它等多种有变温需求的检测场景，实现样品的宽温区高低温变温性能检测。所述装置包括隔热系统和变温系统，采用加热片升温，实现样品的高温性能检测；采用冷媒降温，实现样品的低温性能检测，在不开启变温系统时，也能进行样品的常温性能检测，变温范围大；并可满足多种样品材料的测试环境需求，可在空气、保护性气体或真空环境中进行样品的高低温变温特性检测；所述装置还包括电极系统，可以检测导电型待测样品的变温电学相关特性，满足各类材料的测试需求；设计轻巧，结构紧凑，方便耦合各种测试仪器完成样品变温相关性能测试，应用前景广泛。
- 一种小型样品装置
- [发明专利]一种积分半球装置及其应用-CN202210867210.5在审
-
何秀芳
-
厦门行者科创科技有限公司
-
2022-07-21
-
2022-09-20
-
G01M11/02
- 本申请公开了一种积分半球装置及其应用，所述积分半球装置包括沿光路方向设置的积分半球体、激发光入射模块和发射光出射模块；所述积分半球体由外壳、半球腔体和石英样品罩组成，所述激发光入射模块由进光孔、第一旋转电机和第一反射镜组成，所述发射光出射模块包括出光孔I、出光孔II、第二旋转电机、主动齿轮、从动齿轮、推拉电机、第二反射镜以及聚四氟乙烯板组成。所述装置可以分别进行发光试样的光谱测试、发光量子效率测试和发光成像，可以极大地提高材料光致发光特性测试效率。同时发光试样被石英样品罩阻隔在积分球之外，换样时不需要打开半球腔体，避免了反复开启半球腔体或装样不慎导致的积分球污染问题。
- 一种积分半球装置及其应用
- [实用新型]一种微区力致发光测量系统-CN202123446105.4有效
-
何秀芳
-
厦门行者科创科技有限公司
-
2021-12-30
-
2022-09-20
-
G01N21/70
- 本实用新型提供了一种微区力致发光测量系统，包括力致发光模块、光源、第一电动反射镜、第二电动反射镜、相机和光谱仪，可以进行受外部光源光激活后的发光材料的力致发光性能检测。发光材料经力致发光模块加压发射的荧光先进入相机进行发光面积成像，由外部程序计算力致发光实际面积，与压力传感器测得压力共同计算得到发光材料所受压强；然后通过切换电动反射镜角度，发光材料经力致发光模块加压发射的荧光被电动反射镜反射进入光谱仪得到光谱数据，经过分析处理得到发光材料在各压强下的力致发光特性。所述微区力致发光测量系统可以对发光材料力致发光区域进行精准成像，实现高精度的发光材料力致发光性能检测。
- 一种微区力致发光测量系统
- [实用新型]一种半积分球测样系统-CN202220230388.4有效
-
何秀芳
-
厦门行者科创科技有限公司
-
2022-01-26
-
2022-08-30
-
G01N21/64
- 本实用新型提供了一种半积分球测样系统，包括半积分球装置、装样台、光源、相机和光谱仪。可以进行发光材料的发光成像，光源发射的激发光经反射片反射至半积分球体球壁和高反平面进行漫反射后均匀照射待测样品，待测样品发射的光被相机收集成像；可以进行发光材料的发光量子效率测量，光源发射的激发光经反射片反射照射待测样品，待测样品发射的光经半积分球球壁和高反平面进行多次漫反射后被光谱仪收集得到样品光谱数据。本实用新型通过内置反射镜延长光程，大幅减小散射光通过入射口的直接反馈损失，换样无需打开半积分球，避免了装样不慎导致的积分球污染问题，并且还可同时获得发光材料的发光图像和光谱信息。
- 一种积分球测样系统
- [发明专利]一种小型变温样品台装置-CN202111652879.4在审
-
何秀芳
-
厦门行者科创科技有限公司
-
2021-12-30
-
2022-08-12
-
B01L7/00
- 本发明提供了一种小型变温样品台装置，可放置于常规小样品仓中，通用于光谱仪、X射线衍射仪、成像仪器及其它等多种有变温需求的检测场景，实现样品的宽温区高低温变温性能检测。所述装置包括隔热系统和变温系统，采用加热片升温，实现样品的高温性能检测；采用冷媒降温，实现样品的低温性能检测，在不开启变温系统时，也能进行样品的常温性能检测，变温范围大；并可满足多种样品材料的测试环境需求，可在空气、保护性气体或真空环境中进行样品的高低温变温特性检测；所述装置还包括电极系统，可以检测导电型待测样品的变温电学相关特性，满足各类材料的测试需求；设计轻巧，结构紧凑，方便耦合各种测试仪器完成样品变温相关性能测试，应用前景广泛。
- 一种小型样品装置
- [发明专利]一种微区力致发光测量系统-CN202111652899.1在审
-
何秀芳
-
厦门行者科创科技有限公司
-
2021-12-30
-
2022-08-12
-
G01N21/70
- 本发明提供了一种微区力致发光测量系统，包括力致发光模块、光源、第一电动反射镜、第二电动反射镜、相机和光谱仪，可以进行受外部光源光激活后的发光材料的力致发光性能检测。发光材料经力致发光模块加压发射的荧光先进入相机进行发光面积成像，由外部程序计算力致发光实际面积，与压力传感器测得压力共同计算得到发光材料所受压强；然后通过切换电动反射镜角度，发光材料经力致发光模块加压发射的荧光被电动反射镜反射进入光谱仪得到光谱数据，经过分析处理得到发光材料在各压强下的力致发光特性。所述微区力致发光测量系统可以对发光材料力致发光区域进行精准成像，实现高精度的发光材料力致发光性能检测。
- 一种微区力致发光测量系统
- [发明专利]一种半积分球测样系统-CN202210099345.1在审
-
何秀芳
-
厦门行者科创科技有限公司
-
2022-01-26
-
2022-04-15
-
G01N21/64
- 本发明提供了一种半积分球测样系统，包括半积分球装置、装样台、光源、相机和光谱仪。可以进行发光材料的发光成像，光源发射的激发光经反射片反射至半积分球体球壁和高反平面进行漫反射后均匀照射待测样品，待测样品发射的光被相机收集成像；可以进行发光材料的发光量子效率测量，光源发射的激发光经反射片反射照射待测样品，待测样品发射的光经半积分球球壁和高反平面进行多次漫反射后被光谱仪收集得到样品光谱数据。本发明通过内置反射镜延长光程，大幅减小散射光通过入射口的直接反馈损失，换样无需打开半积分球，避免了装样不慎导致的积分球污染问题，并且还可同时获得发光材料的发光图像和光谱信息。
- 一种积分球测样系统
- [实用新型]一种显微镜用全内反射模块-CN202121875342.X有效
-
何秀芳
-
厦门行者科创科技有限公司
-
2021-08-11
-
2022-02-22
-
G02B21/00
- 本实用新型提供了一种显微镜用全内反射模块。所述一种显微镜用全内反射模块主要由载样台和转角器组成，所述载样台包括样品架、棱镜架、半圆柱棱镜和弹簧压板，所述转角器包括驱动电机、电机保护箱、直角旋转臂、准直镜固定架、准直镜和反射镜。可通用于各种类型的显微镜，电动校准光束入射角度，操作简单，仅需装样、打开激发光和调整激发光路即可进行全内反射显微成像。准直镜、反射镜和半圆柱棱镜的相互位置固定，激发光始终垂直入射所述半圆柱棱镜至圆心位置激发待测样品；利用驱动电机实现电动调整激发光角度，实现极微小入射角度调整，不仅节省样品测试时间，并且方便耦合各类显微镜，在普通显微镜上实现全内反射显微成像。
- 一种显微镜用全内反射模块
|
