|
|
钻瓜专利网为您找到相关结果 14个，建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]倾斜度调整机构-CN201811329747.6有效
-
佐野秀和;冈部宪嗣
-
株式会社三丰
-
2018-11-09
-
2022-06-17
-
G02B7/02
- 一种倾斜度调整机构，包括第一构件，该第一构件可附接到可连接到镜筒的透镜单元的连接部分；第二构件，其面向第一构件并且可附接到可连接到透镜单元的镜筒的连接部分；固定到第一构件的接触构件，其从第一构件朝向第二构件突出，并且接触第二构件；以及调整/固定构件，其能够调整第一构件相对于第二构件的倾斜度并且能够将第一构件固定到第二构件。第二构件具有与接触构件接触的倾斜表面，并且每个接触构件具有与倾斜表面接触的弯曲表面。
- 倾斜度调整机构
- [发明专利]光谱共焦传感器-CN201710997257.2在审
-
松宫贞行;冈部宪嗣;久保光司;金子展也
-
株式会社三丰
-
2017-10-20
-
2018-04-27
-
G01B11/00
- 一种光谱共焦传感器，包括光源部，用于射出具有不同波长的多个光束；物镜，用于使所述多个光束会聚于不同的聚焦位置处；射出口，其中所述多个光束中的在所述聚焦位置处被待测物体反射的测量光从所述射出口射出；位置计算部，用于基于所射出的测量光来计算所述待测物体的位置；观察部，其包括图像传感器和用于射出观察光的观察光源；以及分束器，用于使穿过所述物镜的所述测量光的至少一部分射出到所述射出口，并且使穿过所述物镜并被所述待测物体反射的所述观察光的至少一部分射出到所述图像传感器。
- 光谱传感器
- [发明专利]光学测量设备-CN201110423282.2有效
-
冈部宪嗣;长滨龙也;金子展也
-
株式会社三丰
-
2011-12-16
-
2012-07-04
-
G01N21/84
- 本发明涉及光学测量设备。在本发明所公开的一种光学测量设备中，目视观测部包括：能够发出白光的白光源；设置在白光源和测量对象之间的第一物镜，从白光源发出的白光以及来自测量对象的返回光透射通过第一物镜；多个筒状镜头，用于将通过第一物镜的返回光的倍率改变为预定倍率；以及镜头切换机构，其可选择性地切换筒状镜头，以选择多个筒状镜头中要设置在返回光上的一个筒状镜头，而且特殊观测部包括：能够发出特殊光的特殊光源；以及设置在特殊光源和测量对象之间的第二物镜，从特殊光源发出的特殊光以及来自测量对象的返回光透射通过第二物镜。
- 光学测量设备
- [发明专利]激光加工装置-CN200910139046.0有效
-
冈部宪嗣;田中祥一;黑川昌史
-
株式会社三丰
-
2009-05-15
-
2009-11-18
-
B23K26/00
- 本发明公开一种激光加工装置(1)。在设置有位于激光振荡部(10)中的激光化学汽相淀积用激光振荡器(11)和激光修理用激光振荡器(12)的激光加工装置(1)中，通过本体部(1000)的激光振荡器切换程序(510A)切换激光振荡器(11)或(12)而发射的激光光束通过光路形成部(30)而沿着同一缝部到达样本并进行激光加工。此外，物镜配置成通过物镜部(60)的物镜切换部(61)而切换为具有对应于从激光振荡部(10)发射的激光光束的波长的倍率的物镜。
- 激光加工装置
- [发明专利]光学式测定装置-CN200810088658.7有效
-
松宫贞行;冈部宪嗣;下川清治
-
三丰株式会社
-
2008-04-10
-
2008-10-15
-
G01B11/00
- 一种光学式测定装置(1)，具备：具有基准线的屏幕(11)、能移动的载物台(12)、检测载物台(12)的移动量的检测机构(121)、把放置在载物台(12)上的测定对象物的光学图像在屏幕(11)上成像的第一成像机构(13)和第二成像机构(14)、记录光学图像的记录机构(171)，第一成像机构(13)具备：对光学图像进行摄像的摄像机构、把摄像机构摄像的光学图像作为数字形式的图像数据进行输出的输出机构、根据输出机构输出的图像数据把光学图像向屏幕(11)投影的投影机构，记录机构(171)记录输出机构输出的图像数据。
- 光学测定装置
- [发明专利]光学式测定装置-CN97110317.8无效
-
立花俊作;依田幸二;冈部宪嗣
-
株式会社三丰
-
1997-04-04
-
2004-04-07
-
G01B11/00
- 以自由旋转的方式将反射镜保持环(21)设置在光学系统(3)的物镜(12)的外周，将光路变向反射镜(22)的上端部以自由旋转的方式支撑在该反射镜保持环(21)上。在光路变向反射镜(22)与光学系统(3)的光轴平行的状态下，来自光学系统(3)的光垂直向下照射在被测物的上表面上。以上端部为支点使光路变向反射镜(22)旋转，相对于光学系统(3)的光轴倾斜45度时，来自光学系统(3)的光改变90度方向而照射在被测物的侧面。因此不改变被测物的姿态就能测定侧面的形状等。
- 光学测定装置
|
