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- [实用新型]射频芯片测试的装置-CN201720963675.5有效
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陈良波;贺云朋;沈哲豪;陈俊霖;蔡长贵;方嘉宇
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全智科技股份有限公司
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2017-08-03
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2018-04-06
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G01R31/28
- 本实用新型公开了一种射频芯片测试的装置，主要装置结构包括一第一测试装置、及一设于该第一测试装置一侧的第二测试装置，其中第一测试装置系具有第一测试组件及第二测试组件，而第二测试装置具有第三测试组件及第四测试组件，并且在对待测物进行量测时，其第一测试组件及第三测试组件系可同时对待测物的量测端口进行信息连接，予以产生一第一量测信息，而第二测试组件及第四测试组件在信息连接待测物的量测埠时，乃优先单独连接第二测试组件或第四测试组件，意谓第二测试组件及第四测试组件系在不同时间上去连结量测埠，并不会同时连结，因此可达到在测试过程中不会发生干扰的问题，尤其在测试谐波(Harmonic)时效果更明显。
- 射频芯片测试装置
- [实用新型]射频测试装置-CN201621097900.3有效
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沈哲豪;贺云朋;陈良波
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全智科技股份有限公司
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2016-09-30
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2017-09-29
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H04B17/15
- 本实用新型所公开的一种射频测试装置，其包括有一测试本体、复数界定于测试本体上之端口、复数界定于测试本体上之收发装置、及复数设于测试本体上且链接设置于各收发装置与各端口间之切换元件；安装时系将复数量测设备分别与各端口连结设置即可，使用时则是藉由各切换元件作动来控制及切换各收发装置与特定量测设备信息链接以进行量测，且于量测完成后由各切换元件作动使各收发装置改与另一量测设备信息链接，以直接进行下一阶段的量测，藉此令本新型达到可整合不兼容的系统，且量测精准多样及方便快速，并降低成本之实用进步性。
- 射频测试装置
- [发明专利]多站循环测试装置-CN201410402822.2有效
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严自陵;徐毓堃;贺云朋;陈良波
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全智科技股份有限公司
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2014-08-14
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2017-08-29
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G01D21/00
- 本发明公开了一种多站循环测试装置，其包括主控设备、设于主控设备内的触发循环装置、发送循环装置、查测循环装置、确认循环装置和重置循环装置以及多个与主控设备信息连接的从属设备；当有从属设备发出状态消息时，触发循环装置会接收及检查有无其他发出，且发送循环装置发送起测信息及检测各从属设备是否接收，并查测循环装置会接收各从属设备回传的数据信息，同时检测各从属设备是否回传，而确认循环装置的接收数据信息，且检查前述工作以判断并发出完成信息，再由重置循环装置重置前述各循环装置及发出测报信息供用户观看，藉此使本发明达到可快速增加产能架构与部属，且增加有效测试量，并提高测试速度及效率。
- 循环测试装置
- [实用新型]环状多任务器的射频切换装置-CN201621279233.0有效
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陈良波;贺云朋;沈哲豪
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全智科技股份有限公司
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2016-11-25
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2017-07-18
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G01R1/04
- 本实用新型所公开的一种环状多任务器的射频切换装置，主要结构包括一第一切换芯片、至少一设于该第一切换芯片一侧且与该第一切换芯片电性链接之第二切换芯片、及一设于该第二切换芯片背离该第一切换芯片一侧的第三切换芯片，电性链接该第一切换芯片及该第二切换芯片，使该第一切换芯片、该第二切换芯片及该第三切换芯片形成环状串联，且各切换芯片系分别透过第一端子、第二端子及第三端子彼此串联。藉上述结构，在环状串联各切换芯片后，第一端子及第三端子可做为链接网络分析仪的端口，而第二端子则提供至少一组测试埠，以达到多埠测试及自由切换测试定义的进步性。
- 环状任务射频切换装置
- [实用新型]晶圆探针的测试装置-CN201620684187.6有效
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陈良波;许宏维
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全智科技股份有限公司
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2016-06-30
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2017-01-25
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G01R35/00
- 本实用新型为有关一种晶圆探针的测试装置，主要结构包括一供检查至少一针体的表面规格的第一验证装置、一设于该第一验证装置一侧的研磨装置，该研磨装置包含至少一研磨机构、及一信息连接该研磨机构的参数数据库，并于该研磨装置背离该第一验证装置一侧设置一供检查该针体研磨后的表面规格的第二验证装置，及于该第二验证装置背离该研磨装置一侧设置一电性查验装置，以将该针体与至少一工作机构进行使用测试。借上述结构，使针体分别在表面研磨处理程序的前后进行表面规格验证，并于验证后进行针体的产品实测或实机实测，以确保其质量及良率。
- 探针测试装置
- [实用新型]时序测量装置-CN201620513388.X有效
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陈良波;贺云朋;沈哲豪;陈俊霖
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全智科技股份有限公司
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2016-05-31
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2016-12-21
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G01R19/00
- 本实用新型公开了一种时序测量装置，其包括有一测量主机、至少一设于测量主机上且与其信息连接的数位测量设备、至少一设于数位测量设备上的电压比对单元、及至少一设于数位测量设备上并位于电压比对单元侧处的计时单元；而生产时因直接使用数位测量设备(电压比对单元及计时单元)，故得降低生产及维修成本，于使用时，数位测量设备连接一待测物，且经电压比对单元测量待测物的电压变化，并由计时单元测量电压变化对应的时间，使开发整合更为快速容易，借此令本实用新型达到降低成本，且开发整合简单迅速的实用性和创造性。
- 时序测量装置
- [实用新型]测试座防倾倒结构-CN201620134361.X有效
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朱宥铨;陈良波
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全智科技股份有限公司
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2016-02-23
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2016-08-31
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F16M11/04
- 本实用新型为有关于一种测试座防倾倒结构，其包括有至少一于侧处形成有限位槽的轨道元件、一于面处形成有供选择性容置轨道元件的沟槽部的座体、至少一形成于座体侧处且与沟槽部通连的限位孔、及至少一得选择性插设沟槽部及限位槽的限位件；而使用本实用新型时先把轨道元件固定设置于一测试设备的特定位置处，且将座体设于轨道元件一侧处并以沟槽部容置轨道元件，再把限位件插入沟槽部使其进入沟槽部内，使限位件得支撑座体避免其倾倒，但是仍可于轨道元件上活动滑移，借此令本实用新型达到可预防倾倒以利拆装设置的实用进步性。
- 测试倾倒结构
- [发明专利]一种跨平台测试装置-CN201410417488.8在审
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沈哲豪;胡咏昕;严自陵;贺云朋;陈良波
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全智科技股份有限公司
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2014-08-22
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2016-03-30
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G06F11/36
- 本发明有关一种跨平台测试装置，主要结构包括一测试需求输入端、一测试条件编译装置、一转换装置、至少一转换模块及至少一测试设备。其中该测试条件编译装置将测试需求输入端的输入格式编译为转换装置可读取的格式、该转换模块则将该测试条件编译装置编译完成的格式转换为测试设备可判读的格式。借上述结构，针对相同的测试需求，只需要以测试条件编译装置统一一种输入格式，将测试需求编译成转换装置可读取的格式，即可透过转换模块转换为不同测试设备可判读的格式。借此，使不同的测试设备用相同的开发接口运作，让原本不同程序语言的测试设备都能相通，使设备的调度更灵活，对开发时间也有明显帮助。
- 一种平台测试装置
- [实用新型]镭射清洗机的结构-CN201520661000.6有效
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章尚仁;江尚伟;陈良波
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全智科技股份有限公司
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2015-08-28
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2016-01-27
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H01L21/02
- 本实用新型为有关一种镭射清洗机的结构，其包含一对待清洗物进行震动排列输送的测试分料机、一设置于测试分料机一侧处的平台移动机构及一设于测试分料机一侧处的镭射产生主机，上述的镭射产生主机与一镭射喷头连通，且镭射喷头活动设置于平台移动机构上；当测试分料机将待清洗物设置于平台移动机构下时，镭射喷头透过平台移动机构的移动调整，使镭射喷头对准待清洗物，而镭射产生主机将动作产生清洗镭射光，由镭射喷头进行导引使其照射于待清洗物上，而依据不同态样的待清洗物，皆可由平台移动机构进行调整来改变镭射喷头的位置，借此达到使用便利的目的。
- 镭射清洗结构
- [实用新型]激光清洗机的结构-CN201520335155.0有效
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章尚仁;江尚伟;陈良波
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全智科技股份有限公司
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2015-05-22
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2015-11-18
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B08B7/00
- 本实用新型为有关一种激光清洗机的结构，主要结构包括一用于清洁薄膜式探针卡(Probe Card)的激光产生装置、一位于该激光产生装置的激光照射路径上的机构平台，该机构平台供承载该薄膜式探针卡，以及一设于该激光产生装置一侧供显示激光光点处的影像的影像捕获设备。借上述结构，将待清洁的薄膜式探针卡置于机构平台上，并调整该激光产生装置或该机构平台，使薄膜式探针卡对位激光照射路径，然后进行激光清洗的动作，并配合影像捕获设备更精准的控制位置及检视清洁状态。借此，完成半自动化的薄膜式探针卡的清洁方式。
- 激光清洗结构
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