“中村仁一”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果5个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]设定信息管理系统、打印机以及电子设备的控制方法-CN201110036192.8有效
发明人：待井贤介;中村仁一 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2011-02-09 - 公布日： 2011-08-10 - 主分类号： G06F13/10 文献下载
摘要：提供一种设定信息管理系统，利用外部存储装置进行电子设备的设定时，能够可靠地方式对多个设备设定同一设定信息。电子设备具备：存储部，存储与电子设备相关的设定信息；设定信息写入部，在电子设备的电源切断时，将存储部的设定信息写入到外部存储装置；设定信息更新部，向外部存储装置写入设定信息后，进行删除存储部的设定信息的删除处理以及将存储部的设定信息返回到初始设定值的初始化处理中的任一个处理；设定信息读取部，在电子设备的电源接通时，从外部存储装置读取设定信息；设定部，根据所读取的设定信息，进行电子设备的设定；和设定信息删除部，在设定部进行了设定后，删除外部存储装置中存储的设定信息。
设定信息管理系统打印机以及电子设备控制方法

[发明专利]不正当度算出装置、不正当度算出装置的控制方法和店铺监视系统-CN201010576624.X无效
发明人：青沼正志;中村仁一;浜孝;吉泽润一 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2010-12-01 - 公布日： 2011-07-20 - 主分类号： G07G1/12 文献下载
摘要：本发明提供一种不正当度算出装置、不正当度算出装置的控制方法和店铺监视系统，该不正当度算出装置可以很准确地判断有无不正当行为。该不正当度算出装置包括：不正当发生模式存储部(71)，存储不正当发生模式，该不正当发生模式是针对店铺中的1个以上的假定的不正当发生要素，记述了各个发生要素的加权值即基础分数；不正当发生检测部(72)，对1个以上的不正当发生要素分别检测发生/未发生；不正当度算出部(73)，对于由不正当发生检测部(72)检测出已发生的不正当发生要素，计算与其对应的基础分数的总和，算出不正当度；和不正当度记录部(74)，将不正当度算出部(73)的算出结果记录到记录用数据库(23)中。
不正当度算出装置控制方法店铺监视系统

[发明专利]信息处理装置、信息处理系统、信息处理装置的控制方法及程序-CN201010505680.4有效
发明人：吉泽润一;青沼正志;中村仁一;浜孝 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2010-10-11 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G07G1/12 文献下载
摘要：本发明提供在不改变POS终端的情况下，能够检测POS终端的操作的信息处理装置、信息处理系统、信息处理装置的控制方法及程序。所述信息处理装置具备：取得从POS终端(1)输出的输出数据的输出数据取得部(21)；根据取得的输出数据，判定POS终端(1)的操作的操作判定部(22)；将操作判定部(22)的判定结果转换成店铺管理服务器(5)能够解释的规定形式的数据的数据转换部(23)；和将被数据转换部(23)转换后的转换数据输出给店铺管理服务器(5)的转换数据输出部(24)。
信息处理装置系统控制方法程序

[发明专利]商店监视系统、警告装置、商店监视系统的控制方法和程序-CN201010289659.5无效
发明人：青沼正志;中村仁一;浜孝;吉泽润一 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2010-09-16 - 公布日： 2011-04-20 - 主分类号： G07G1/12 文献下载
摘要：本发明提供一种商店监视系统、警告装置、商店监视系统的控制方法和程序，其能够简单地检测在零售店和超市等商店中的不正当行为，包括：模式存储部(T)，存储在商店内发生的规定的事实和现象的发生模式；POS终端(1)，进行商品的结账处理；店内监视摄像机(3)、卡读取装置(4)，监视用于构成发生模式的构成要素；商店管理服务器(5)，其将在POS终端(1)中执行了预定的例外处理的情况，以及根据店内监视摄像机(3)、卡读取装置(4)的监视结果，判定事实和现象的发生状况与作为发生模式而存储的不正当模式相符合、或者与作为发生模式而存储的正常模式不符合的情况作为条件来进行警告。
商店监视系统警告装置控制方法程序

[发明专利]半导体存储装置管理系统、半导体存储装置、主机装置、程序、半导体存储装置的管理方法-CN200780023570.0无效
发明人： 中村仁一 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2007-06-19 - 公布日： 2009-07-08 - 主分类号： G06F12/16 文献下载
摘要：本发明提供一种作为硬盘装置的代替，用于实现能实用的半导体存储装置的半导体存储装置管理系统等。一种半导体存储装置管理系统SY，管理具有存储数据的半导体存储区域(15)、代替该半导体存储区域(15)内的不良块的不良块代替区域(16)的半导体存储装置(10)的装置寿命，具有：检测不良块代替区域(16)的消耗块数的存储装置侧控制器(12)；根据该检测结果，预测半导体存储装置(10)的装置寿命，报告该预测结果的主机侧控制器(31)。
半导体存储装置管理系统主机程序方法