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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]电容触摸屏及具有该电容触摸屏的触控装置-CN201120191033.0有效
  • 张荣斌;李振刚;黄臣;杨云 - 比亚迪股份有限公司
  • 2011-06-08 - 2012-02-08 - G06F3/044
  • 本实用新型公开了一种电容触摸屏，包括：透明基板；多个相互平行的第一部件，多个第一部件形成在所述透明基板上；多个相互间隔的第二部件，所述多个第二部件形成在第一部件的上方，且所述第二部件与所述第一部件成第一预定角度；和多组第三部件，所述多组第三部件与所述多个第二部件位于同一平面，且每组第三部件均与所述多个第二部件中的一个相连，且相互间隔地排列，其中，相邻的两个第二部件对应的两组第三部件之间彼此交错设置。本实用新型还公开了一种具有上述电容触摸屏的触控装置。本实用新型通过采用分支交错结构，能够增加激励部件和检测部件的感应范围，更精确地定位触摸点。在实际的产品制造过程中，能够降低成本，并提高产品性能。
  • 电容触摸屏具有装置
  • [发明专利]一种基于感兴趣区域的图像编码方法-CN201110055940.7无效
  • 田昕;黄臣;田金文 - 华中科技大学
  • 2011-03-08 - 2011-07-20 - G06T9/00
  • 本发明公开了一种基于感兴趣区域的图像编码方法，包括提取图像的感兴趣区域和根据所述ROI模板的步骤。具体为：（1.1）对图像进行小波变换，产生相应的多尺度结构；（1.2）获取所述多尺度结构下的特征图；（1.3）对特征图中的特征进行融合处理，得到最终显著性映射图；（1.4）对显著性映射图进行处理，产生最终的感兴趣区域模板；（2.1）根据小波变换后的系数分布，对ROI模板进行处理，生成原始图像小波变换后的掩模；（2.2）由Rice编码实现对原始图像的轮廓编码；（2.3）根据掩模对感兴趣区域的码块进行编码。本发明增加了编码效率，可以灵活地选择ROI区域，调整ROI以及BG区域的相对质量。
  • 一种基于感兴趣区域图像编码方法
  • [发明专利]一种电阻式触摸屏的检测方法及装置-CN200910188457.9有效
  • 徐培;赵亦彤;张杰;黄臣;杨云 - 比亚迪股份有限公司
  • 2009-11-28 - 2011-06-01 - G06F3/045
  • 本发明提供了一种电阻式触摸屏的检测方法，包括：在一由多个触摸感应单元组成的触摸感应装置上，检测用户于触摸屏上进行的触摸；判断一物体在触摸感应装置上是否同时触摸了多个相邻的触摸感应单元；判断为是则将触摸到的相邻触摸感应单元所产生的感应信号合并成一个输出信号；将所述输出信号传送至一微控制器，所述微控制器被设置为响应于所述输出信号，产生一个控制信号；将所述控制信号传送至一电子应用装置，所述电子应用装置包括一显示多个人机交互目标的屏幕；响应于所述控制信号，改变显示屏上人机交互目标的外观。以及相对应的电阻式触摸屏的系统装置。此种方法和装置防止了在物体同时触摸到多个相邻的触摸感应单元时引起的误触摸。
  • 一种电阻触摸屏检测方法装置
  • [发明专利]自动目检方法-CN200910198551.2无效
  • 黄臣;赵庆国 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2009-11-10 - 2011-05-11 - G01N21/84
  • 本发明揭示了一种自动目检方法，该自动目检方法包括：获取待检测晶片的电性测试图像；对所述电性测试图像划分区域；对所述电性测试图像的各区域内电性测试合格的芯片进行选择性自动目检。本发明仅对电性测试图像的各区域内电性测试合格的芯片进行自动目检，而避免对电性测试不合格的芯片进行重复检测，充分利用了自动目检工具的产能，提高了检测效率。
  • 自动方法
  • [实用新型]一种自动测量装置-CN201020246465.2有效
  • 黄臣 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2010-06-30 - 2011-04-13 - G01N21/88
  • 本实用新型提供了一种自动量测装置，包括：第一液晶显示器、光源、光源控制开关、第二液晶显示器、连接线、载物台。光源位于第一液晶显示器内部，光源控制开关位于第一液晶显示器上，第一液晶显示器与第二液晶显示器平行，并且第一液晶显示器与第二液晶显示器之间用连接线连接，载物台的载物面垂直于水平面并且与第二液晶显示器平行。该自动量测装置通过激光感应自动获取缺陷外形，并自动显示在液晶显示器的用户界面上，能解决手动操作过程中的繁杂、高风险、低效能等缺陷。
  • 一种自动测量装置
  • [发明专利]晶片采样检测系统及其检测方法-CN200910194784.5无效
  • 康盛;黄臣;赵庆国 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2009-08-28 - 2011-04-06 - G01N21/84
  • 本发明提供了一种晶片采样检测系统及其检测方法，其中所述检测系统包括：芯片分布图读取单元，读取晶片的芯片分布图，获取晶片上所形成的芯片的位置信息；检测图形产生单元，依据芯片分布图，按照预定的采样规则，在晶片上选取检测点，形成检测图形；检测装置，接收检测图形，并将检测图形转化为各检测点的位置坐标，依照所述位置坐标，在晶片上选取相应的检测点进行检测。本发明依据待测晶片的芯片分布图，按照预定采样规则，选取检测点形成标准化的检测图形，将所述标准检测图形作为接口数据输入自动检测机台检测，因此具有采样准确、高效快速的特点。
  • 晶片采样检测系统及其方法
  • [实用新型]晶片包装盒-CN201020246455.9有效
  • 高海林;赵庆国;黄臣;瞿丹红 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2010-06-30 - 2011-02-02 - B65D85/48
  • 本实用新型公开了一种晶片包装盒，所述晶片包装盒包括：底座；上盖，与所述底座盖合连接；盒体，设置于所述底座内，所述盒体侧壁设置有多个用于插放晶片的插槽；设置于所述底座内的固定机构，所述固定机构包括主体以及设置于所述主体上的多个定位槽，所述定位槽与所述插槽匹配。所述固定机构能够有效的固定晶片的下方，确保在所述盒体晃动时，所述盒体内的晶片不会晃动，从而确保晶片的安全。
  • 晶片包装
  • [实用新型]一种互电容检测电路-CN201020213608.X有效
  • 许传臻;陆海丰;黄臣;杨云 - 比亚迪股份有限公司
  • 2010-05-31 - 2011-01-12 - G06F3/044
  • 一种互电容检测电路，用于检测被测电容器的电容变化量，包括：第一运算放大器、第一电容、第一开关；所述第一运算放大器的第一输入端连接第一参考电压，第一运算放大器的第二输入端连接被测电容的第二端，被测电容的第一端连接第一输入电压；所述第一电容和第一开关并联后连接第一运算放大器的第二输入端和输出端。本实用新型实施例提供的一种互电容检测电路，可以将被测试互电容的电容改变量通过已知电容测试出来，解决自电容检测中的“鬼点”问题，实现真正的多点检测。
  • 一种电容检测电路
  • [实用新型]一种电容检测装置-CN200920261474.6有效
  • 樊春胜;纪传瑞;黄臣;杨云 - 比亚迪股份有限公司
  • 2009-12-09 - 2010-09-29 - G01R27/26
  • 一种电容检测装置，待测电容为电容屏上触摸电容，装置包括：电容检测单元，电容检测单元与待测电容连接；该装置还包括：电容屏上待测电容的周边电容；将待测电容上电压反馈到周边电容的反馈模块；控制待测电容、周边电容进行充电的充电控制模块；控制电容检测单元对待测电容进行检测的检测控制模块；控制反馈模块进行电压反馈的反馈控制模块；反馈模块连接在待测电容和周边电容之间，充电控制模块与待测电容、周边电容连接；检测控制模块与电容检测单元连接；反馈控制模块与反馈模块连接。本装置通过反馈模块反馈待测电容的电压到周边电容，减小待测电容与周边电容之间的寄生电容对电容检测单元的影响，使电容检测装置灵敏度高、检测范围大。
  • 一种电容检测装置
  • [实用新型]半导体工艺用手推车-CN200920207708.9有效
  • 黄臣;赵庆国 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2009-08-11 - 2010-05-19 - B62B3/10
  • 本实用新型提出一种半导体工艺用手推车，包括底座、车身、隔板和推车手柄，所述车身由车身杆架组成，所述隔板将车身杆架分段，其中每一段车身杆架的上段具有滑道，手推车第一侧面和第二侧面分别具有挡杆，设置于相邻两层隔板之间，每一根所述挡杆的两端分别设置在同一侧面的两个滑道中，其中所述挡杆位于滑道顶端时由固定螺栓限位，当松开固定螺栓后，挡杆滑动到滑道最底端。本实用新型提出的半导体工艺用手推车，改善现有手推车的结构，以减少在目前推车在设计上的缺陷从而容易造成产品在运输过程的损坏。
  • 半导体工艺用手推车
  • [发明专利]晶圆的出货品质保证检测方法-CN200710171573.0有效
  • 康盛;王明珠;黄臣;吕秋玲 - 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
  • 2007-11-30 - 2009-06-10 - G01R31/00
  • 本发明公开了一种晶圆的出货品质保证检测方法，涉及半导体领域的检测工艺。现有的检测方法检测的区域和位置都是固定的，不能及时发现检测选定区域外的芯片的缺陷。本发明的检测方法包括：将晶圆分成若干区域，每一区域内包括若干个芯片，其中每一区域内的芯片数量相等或至多相差1个；根据晶圆的质量等级确定需要检测的芯片的最少数量；根据需要检测的芯片的最少数量，在所述区域内随机选取芯片进行检测，其中每一区域内检测的芯片数量相同或至多相差1个。本发明的检测方法是随机选择芯片进行检测的，在不增加检测芯片数量的情况下，检测到了更大的晶圆区域，通过对多个晶圆抽样，实现了对晶圆大部分区域芯片的检测，提高了检测结果的精确度。
  • 出货品质保证检测方法
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