专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法-CN202010704910.3有效
  • 李刚;王伟;弋东驰;魏际同 - 中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 2020-07-21 - 2023-04-11 - G06T7/00
  • 本发明提供一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法,解决现有图像处理方法无法解决由光照不均匀、对比度低、损伤点粘连、像素偏移对损伤点识别准确性影响的问题。该方法包括步骤:1)将损伤前、损伤后图像转换为损伤前、损伤后灰度图像;2)对损伤前、损伤后灰度图像均采用两种局部二值化算法处理并融合,得到二值化后的损伤前融合图像和损伤后融合图像;3)根据相位相关计算出的像素偏移量对损伤前融合图像进行仿射变换,再背景差分运算得到仅存在损伤点的二值化图像;4)对仅存在损伤点的二值化图像进行闭运算再迭代腐蚀,得到核信息;5)生成分水岭分割的种子区域;6)使用分水岭分割算法对损伤后图像进行分割,获取损伤点信息。
  • 一种光学元件激光损伤阈值测试识别方法
  • [发明专利]纳秒级脉冲功率计数据处理方法-CN202010704904.8在审
  • 李刚;魏际同;达争尚;余建成;王拯洲;王伟 - 中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 2020-07-21 - 2020-12-01 - G06F17/18
  • 本发明提供一种纳秒级脉冲功率计数据处理方法,解决现有采用波形面积来表征功率数据的处理方法,存在获得功率值精确性较差的问题。该方法包括步骤:1)加载功率计波形数据文件,将波形数据存入一维数组中;2)采用直方图计算方法对一维数组中波形数据进行计数处理,获得功率计的背景值;3)对功率计波形数据进行全局搜索,搜索出功率计最大功率;4)计算最小选取功率,取最小选取功率到最大功率范围内的数据作为有效数据集合,对有效数据集合中的所有数据进行求导处理,计算出波形数据中最大周期值;5)以最大周期值为周期、功率计最大功率为起点遍历搜寻各周期内的最大值;计算各周期最大值的均值,用均值减去背景值表征为功率计的功率值。
  • 纳秒级脉冲功率数据处理方法

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