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[发明专利]线缆试验系统、分析装置、线缆试验方法以及程序-CN202180095206.5在审
发明人：冈本达也;饭田大辅;古敷谷优介;本田奈月 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2021-04-14 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种线缆试验系统、分析装置、线缆试验方法及程序，其无需向现场派遣作业人员就能够掌握架空线缆的松弛区间。本发明的线缆试验系统具备：光纤振动分布测量装置11，对于作为试验对象的架空光纤线缆50，获取由时间和长度方向的距离的区域表示的振动分布波形；和，分析装置12，根据所述振动分布波形计算在架空光纤线缆50中传播的振动的传播速度，将所述传播速度为阈值以下的架空光纤线缆50的区间作为线缆松弛区间而进行检测。
线缆试验系统分析装置方法以及程序

[发明专利]电线杆位置确定方法和架空光缆的状态推定方法-CN202180093496.X在审
发明人：冈本达也;饭田大辅;古敷谷优介;本田奈月 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2021-02-17 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种远程确定电线杆位置或推定架空光缆的状态的方法。本发明是一种电线杆位置确定方法，根据将利用光纤振动分布测定方法测定的相对于光纤的距离的变形量按时间依次累积的振动分布图案，确定振动分布的边界区域是电线杆位置。
电线杆位置确定方法架空光缆状态推定

[发明专利]分析装置、测量系统、测量方法以及程序-CN202180093734.7在审
发明人：冈本达也;饭田大辅;古敷谷优介;本田奈月 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2021-03-25 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01D5/353 文献下载
摘要：本公开的目的是减少测量仪噪声，而不会导致接收系统的复杂化以及分析时间的延长。本公开使用在不同时间由同一OFDR测量仪测量的多个频谱数据，生成表示频率特性的时间变化的光谱图，在时间方向和频率方向两者上对所述光谱图进行滤波。
分析装置测量系统测量方法以及程序

[发明专利]发光二极管元件-CN202180094583.7在审
发明人：三嶋飞鸟;饭田大辅 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2021-11-11 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： H01L33/06 文献下载
摘要：本发明的发光二极管元件(1)具备：半导体基板(10)，其具有第1面(10a)、和第1面(10a)的相反侧的第2面(10b)；半导体层叠部(20)，其形成于半导体基板(10)的第1面(10a)上；第1电极(51)，其与半导体层叠部(20)的半导体基板(10)侧的一部分连接；以及第2电极(52)，其与半导体层叠部(20)的半导体基板(10)的相反侧的一部分连接，半导体层叠部(20)包括：n型半导体层(20A)；活性层(25)，其具有p型的导电型，层叠于n型半导体层(20A)；以及p型半导体层(20B)，其在与n型半导体层(20A)的相反侧，层叠于活性层(25)，活性层具有包含AlInAs的势垒层和包括InAsSb的阱层交替地层叠而构成的多量子阱结构，势垒层的晶格常数小于n型半导体层(20A)的晶格常数，阱层的晶格常数大于n型半导体层(20A)的晶格常数。
发光二极管元件

[发明专利]相干光测量装置、光线路测试系统和方法-CN202180092872.3在审
发明人： 饭田大辅;榎本圭高;鬼头千寻;冈本达也;古敷谷优介;胁坂佳史;本田奈月 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2021-02-26 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供相干光测量装置、光线路测试系统和方法。本发明的目的在于能够进行长距离的光纤线路的测试和到多个异常设备为止的距离的检测。本发明是一种光线路测试系统，使用相干光测量装置检测光线路的长边方向上的损耗部位的分布，对配置在所述光线路的路径上的设备施加振动，使用所述相干光测量装置检测施加了所述振动时的所述光线路的长边方向上的振动部位，基于检测出的所述损耗部位与所述振动部位一致，确定所述损耗部位。
相干光测量装置线路测试系统方法

[发明专利]设备位置确定系统、罩以及设备位置确定方法-CN202180081160.1在审
发明人： 饭田大辅;古敷谷优介;本田奈月 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2021-01-21 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供设备位置确定系统、罩以及设备位置确定方法，能够在不直接干扰架空线缆本身的情况下确定架空线缆的路径。本发明的设备位置确定系统具备：沿着架空线缆26的光纤25；筒状的罩40，在架空线缆26的长度方向的任意部位覆盖架空线缆26；光测量器20，与光纤25的端部连接，获取从罩40对架空线缆26施加振动时来自光纤25的散射光的时间变化，作为光纤25的长度方向的散射光强度分布的时间变化；和，信号处理部21，基于所述散射光强度分布确定被给予了所述振动的光纤25上的振动位置，通过使光纤25上的所述振动位置与架空线缆26在地图上的位置对应，确定被施加了所述振动的架空线缆26的现实位置。
设备位置确定系统以及方法

[发明专利]相位测定方法、相位测定装置和记录介质-CN201980076270.1有效
发明人：胁坂佳史;饭田大辅;冈本圭司;押田博之 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2019-11-14 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本发明提供相位测定方法、信号处理装置，课题在于能够在实时测定(直接测量)用的光接收系统中对被测定光纤的散射光的相位进行SN比大的离线测定。本发明的相位测定方法利用90度光混合器来进行散射光的相干检波，将对直接测量出的同相分量测定值进行希尔伯特变换而求出的正交分量计算值和直接测量出的正交分量测定值平均化，求出正交分量推定值，并且将对正交分量测定值进行逆希尔伯特变换而求出的同相分量计算值和同相分量测定值平均化，求出同相分量推定值，基于正交分量推定值和同相分量推定值，计算散射光的相位。
相位测定方法装置记录介质

[发明专利]振动分布测量装置及其方法-CN202080104705.1在审
发明人：冈本达也;饭田大辅;押田博之 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2020-08-26 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本公开的目的是在适合测量对象的适当条件下，能够进行利用频谱移位的振动分析。本公开的振动分布测量装置，是在不同时间对被测量光纤中的后向散射光进行多次测量，从测量得到的多个后向散射光波形中提取确定的窗区间的光谱，并使用提取的所述多个后向散射光波形的光谱来测量所述被测量光纤中的振动分布的振动分布测量装置；所述振动分布测量装置使用所述被测量光纤在所述窗区间的振动振幅比在所述窗区间确定的阈值大的窗区间，计算出该窗区间的光谱。
振动分布测量装置及其方法

[发明专利]光半导体元件-CN202211267029.7在审
发明人：柳井崇秀;饭田大辅 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2022-10-17 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： H01L27/144 文献下载
摘要：光半导体元件具备基板和多个元件。各元件具有光学层、第一半导体层及第二半导体层。多个元件包含第一元件及第二元件。第一元件的第二半导体层和第二元件的第一半导体层通过第一配线部的第一连接部而相互电连接。第一配线部具有以包围第一元件的光学层的四个边部的方式从第一连接部延伸的第一延伸部。光学层是产生3μm以上10μm以下的中心波长的光的活性层、或具有3μm以上10μm以下的最大灵敏度波长的吸收层。
半导体元件

[发明专利]光半导体元件-CN202211271106.6在审
发明人：柳井崇秀;饭田大辅 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2022-10-17 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： H01L33/38 文献下载
摘要：光半导体元件具备：基板；半导体层叠体，其具有光学层、第一半导体层及第二半导体层，光学层及第一半导体层构成台部，第二半导体层具有外侧部分；第一电极，其形成于台部上，与第一半导体层连接；第一绝缘层，其形成于第一电极上；第二电极，其具有在外侧部分与第二半导体层连接的第一部分、及以与第一电极重叠的方式配置在第一绝缘层上的第二部分；以及第二绝缘层，其形成于第二电极上。在第一绝缘层上形成有露出第一电极的开口。在第二绝缘层上形成有露出第二电极的第二部分的开口。
半导体元件

[发明专利]振动检测装置和振动检测方法-CN202080103193.7在审
发明人：胁坂佳史;饭田大辅;冈本达也;本田奈月;押田博之 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2020-09-11 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本发明提供振动检测装置和振动检测方法，能够避免在基于光频率复用的散射光强度监视器的振动检测中产生检测灵敏度劣化的地点。本发明考虑具有所使用的频率的数量的维数的多维空间，使各光频率下的散射光强度变化与各轴对应，在所述空间上将散射光信号描绘为矢量，将所描绘的多个矢量点作为原始数据在所述空间上进行通过原点的直线近似，利用得到了近似的结果的近似直线的方向矢量来进行振动检测。
振动检测装置方法

[发明专利]光频域反射计测装置及方法-CN202080103152.8在审
发明人：冈本达也;饭田大辅;押田博之 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2020-09-15 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本公开的目的在于，能够以100μm以下的空间分辨率测量超过1km的远距离，使对设置在远距离的光学设备的健全性进行诊断成为可能。本公开的装置为光频域反射计测装置，包括：本地光延迟光纤，使本地光延迟；光90度混合器，输入通过所述本地光延迟光纤延迟后的本地光以及来自测量对象的后向散射光，使本地光和后向散射光发生干涉，生成由该干涉产生的节拍信号的同相分量以及正交分量；和，平衡光电检测器，检测所述节拍信号的同相分量和正交分量；所述装置对以所述本地光延迟光纤为基准的相对距离，测量测量对象的光频率响应。
光频域反射装置方法

[发明专利]应变变化测量装置和应变变化测量方法-CN202080101927.8在审
发明人：胁坂佳史;大野槙悟;饭田大辅;押田博之 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2020-06-22 - 公布日： 2023-02-14 - 主分类号： G01B11/16 文献下载
摘要：本发明提供应变变化测量装置和应变变化测量方法，目的在于以高采样率实施施加于分支后的各芯线的振动的分布测定。本发明的应变变化测量装置在参照时刻，将具有频率相对于时间而线性变化的啁啾的第一啁啾脉冲光入射到由耦合器分支的被测定光纤，取得相对于第一啁啾脉冲光的第一散射光的信号，在各监测时刻，将使啁啾与第一啁啾脉冲光在时间轴上反转的第二啁啾脉冲光入射到所述被测定光纤，取得相对于第二啁啾脉冲光的第二散射光的信号，求出使第一散射光的信号在时间轴上反转而且偏移的波形与第二散射光的信号的波形之间的相关成为最大的偏移量，并使用该偏移量来计算从参照时刻到各监测时刻的所述被测定光纤中的应变量的变化。
应变变化测量装置测量方法

[发明专利]光脉冲测试方法和光脉冲测试装置-CN201980101274.0在审
发明人：胁坂佳史;饭田大辅;押田博之 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2019-10-17 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本发明提供光脉冲测试方法和光脉冲测试装置，目的在于提出在DAS‑P中，在考虑了测定距离与可测定的振动频率的上限的折衷选择的基础上，用于测定作为目标的振动频率的频率复用数的最小值N的设计方法。在被测定光纤的任意区间的相位变化A×sin(2πfvt)时，如果A小于π/2，则N＝4Zfv/ν，如果A为π/2以上，则N＝2Zfv/(ν·Arcsin(π/2A))。其中，fv是振动频率，t是时间，Z是所述被测定光纤的长度(测定距离)，ν是所述被测定光纤内的光速。
脉冲测试方法装置

[发明专利]光纤电缆传感装置、光纤电缆传感方法以及程序-CN201980099490.6在审
发明人： 饭田大辅;冈本圭司;押田博之 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2019-09-03 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供无需使用特殊结构的光纤传感器就能够测量曲率以及扭转率的长度方向分布的光纤电缆传感装置。本装置包括：输入对容纳于被测量光纤电缆中的各光纤测量的应变(弯曲损耗、偏振波动)的长度方向分布的数据和表示作为测量对象的各光纤在电缆截面上的位置的数据的单元；根据同一地点的各光纤的应变(弯曲损耗、偏振波动)与该光纤在电缆截面上的位置，计算该地点的被测量光纤电缆的曲率向量κ的单元；和，根据计算出的曲率向量κ计算该地点的被测量光纤电缆的扭转率τ的单元。
光纤电缆传感装置方法以及程序

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