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[发明专利]一种用于光电编码器芯片的测试方法及装置-CN202310962052.6在审
发明人： 隆茂生;高朕;张义荣 -专利权人：传周半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2023-08-01 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种用于光电编码器芯片的测试方法及装置，方法包括以下步骤：获取TFT显示模块上与芯片匹配的码盘信息；调节背光亮度，模拟不同亮度的LED；当调用与所述芯片相匹配的所述码盘信息为静态图片时，进行芯片静态测试；当调用与所述芯片相匹配的所述码盘信息为动态视频时，进行芯片动态测试。本发明提供的用于光电编码器芯片的测试方法及装置，通过设置TFT显示模块进行芯片静态测试以及芯片动态测试，从而提高芯片测试的效率。
一种用于光电编码器芯片测试方法装置

[发明专利]一种光电芯片的测试装置及其测试方法-CN202310795330.3在审
发明人： 隆茂生;王晓曦;张义荣;高朕 -专利权人：传周半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01R31/311 文献下载
摘要：本发明提供一种光电芯片的测试装置及其测试方法，测试装置包括测试座，所述测试座用以固定测试芯片，所述测试座中设置有探针，所述探针与所述测试芯片的PAD盘对应设置并与所述PAD盘电性连接；光源，所述光源用以给所述测试芯片提供光线，所述光源正对所述测试芯片的感光区设置；码盘，所述码盘用以调整所述光源的光线照射到所述测试芯片的感光区的面积；所述码盘设置于所述测试芯片与所述光源之间；所述码盘设置有至少一个透光区，所述码盘旋转时，所述光源的光线穿过所述透光区照射到所述感光区。本发明提供的光电芯片的测试装置及其测试方法，通过改变光源照射到感光区的光线的面积改变光线的照射到感光区的光能量，提高测试结果的准确性。
一种光电芯片测试装置及其方法

[发明专利]一种用于产生环形光晕的装置和方法-CN201711042667.8在审
发明人：王艳丽;陈勇军;隆茂生 -专利权人：霍尼韦尔国际公司
申请日： 2017-10-31 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： F21K9/20 文献下载
摘要：一种用于产生环形光晕的装置和方法。所述装置包括：位于所述装置背侧的光源，用于在背侧中心处产生前向传播的光束；位于前方的第一反射体，用于将所述前向传播的光束朝向周边进行第一全反射；位于所述第一反射体外围的具有环形表面的第二反射体，用于对经第一全反射的光束进行第二全反射，并且经第二全反射的光束离开所述装置的发光表面。所述方法包括：由光源产生前向传播的光束；由第一反射体对所述前向传播的光束进行第一全反射，从而使得经第一全反射的光束朝向周边传播；由第一反射体外围的具有环形表面的第二反射体对经第一全反射的光束进行第二全反射。根据本发明的装置和方法具有改善亮度均匀性、光利用率高、节省成本等优点。
全反射前向传播反射体反射体外围环形表面光晕亮度均匀性发光表面光利用率光束离开光源产生中心处光源传播