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[发明专利]用成像传感器动态记录图像-CN200780028138.0无效
发明人：赖纳·齐根拜因;卡尔·弗里德·马尔 -专利权人： 陆马尔股份有限公司
申请日： 2007-07-23 - 公布日： 2009-07-29 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：在一个由光学图像记录系统和被测物体与图像记录系统之间的相对运动组成的测量系统中，规定为了产生图像记录间隔-通过将焦点的振荡运动与扫描运动叠加-允许图像记录系统(3)的焦点(F)在扫描方向振荡，在间隔期间，焦点(F)停止在被测物体(2)的表面上，或者相应地，投影在摄影机芯片(7)上的图像停止在摄影机芯片上。这种现象最好发生在被测物体和图像记录系统之间的稳态非加速相对运动期间。尽管曝光时间比较长，照明强度不充足，但还是避免了图像边缘模糊。
成像传感器动态记录图像

[发明专利]快速测量的测量仪-CN200780018143.3有效
发明人：彼得·斯特拉克;延斯·斯托克伯格;佐伦·奥斯特里奇 -专利权人： 陆马尔股份有限公司
申请日： 2007-05-11 - 公布日： 2009-06-03 - 主分类号： G05B19/42 文献下载
摘要：测高仪1包括装有垂直运动测量滑块4的测量支柱3，这样它能用手移动，也可以经离合器装置15采用电机14驱动。测量滑块4装有探测头8，探测头8可以在工件测量点上施加固定的测量力。所述测量力由驱动电机14和离合器装置15产生。测量系统识别探测头8的高度坐标，并将所述的高度坐标提交给控制装置用于进一步的处理和求值。控制装置21包含自动进行测量过程的逻辑33。这个逻辑识别在某个方向的探测头8定位。定位由操作员手动完成，随后控制驱动电机14以适合工作方式实施工件扫描和根据测量系统19发送的信号确定相应测量的测量值。控制装置21能完全自动识别操作员测量平面或钻孔或轴的意图，在一个方向或者想法方向，并独立启动操作员所想测量功能。
快速测量测量仪

[发明专利]尤其适用于微系统技术领域，运用干涉测量和基于成像处理进行组合式几何测量的设备和方法-CN200780016669.8有效
发明人：诺波特·斯蒂芬斯;彼得·莱曼 -专利权人： 陆马尔股份有限公司
申请日： 2007-05-04 - 公布日： 2009-05-20 - 主分类号： G01B9/04 文献下载
摘要：本发明设备包括物镜(8)，它基本上能以两种不同的测量模式进行测量。在第一中干涉模式中，干涉-光学地对测量对象(9)进行测量。在第二种成像处理模式中，类似摄像机构造的检测器阵列(12)上生成光学图像，并将图像传输到图像处理程序。通过设备光路不同位置照明装置(从摄像机看时)的转换，一个在光束分离器前，另一个在光束分离器的后面，可以实现两种测量模式之间的转换，它将基准光路结合到光路中。
尤其适用于系统技术领域运用干涉测量基于成像处理进行组合式几何设备方法

[发明专利]带有不作旋转螺纹测杆的螺旋千分尺-CN200580032384.4有效
发明人：汉斯约克·崴森格 -专利权人： 陆马尔股份有限公司
申请日： 2005-09-23 - 公布日： 2007-08-29 - 主分类号： G01B3/18 文献下载
摘要：本发明涉及一种由分开测量主轴所构成的螺旋千分尺。所述的代表螺旋千分尺前部的螺纹测杆以放扭转的方式被固定在一个导向元件内。其后部则构建成一个具有相同直径的螺纹主轴。在此过程中，其被以一种轴向刚性，但可作旋转的方式连接到螺纹测杆。该测量主轴可以被某种采用传统的、刚性的、连续性测量主轴的螺旋千分尺所取代，而且，无需在螺旋千分尺内作任何实质性的设计变动，就能够组成一个不作旋转的测量主轴。
带有旋转螺纹螺旋千分尺

[发明专利]尤其适用于微系统技术领域，运用干涉测量和基于成像处理进行组合式几何检测的设备和方法-CN200580013734.2有效
发明人：彼得·莱曼;诺伯特·史蒂芬斯 -专利权人： 陆马尔股份有限公司
申请日： 2005-05-03 - 公布日： 2007-04-18 - 主分类号： G01B9/04 文献下载
摘要：本发明设备包含一个至少具有两种测量模式的物镜。在第一种干涉模式中，对测量对象9进行干涉光学测量。在第二种成像处理模式中，则在类似摄像机构造的检测器阵列上生成测量对象的图像，并将其传输到图像处理程序中。通过对不同物镜照射方式的选择，以及在干涉仪的基准光路上安装相应元件，根据测量用光的不同光谱组成激活或休眠基准光路，可以实现两种测量模式之间的转换。这种测量方式之间的转换具有简单、快速的特点，不需要更换，甚至无需移动物镜。除了快速的优点外，通过干涉测量和成像处理两种方法获得的测量数据产生于同一个参照坐标系内，因此，互相之间具有良好的关联性。
尤其适用于系统技术领域运用干涉测量基于成像处理进行组合式几何检测设备