专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果8个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]电子设备-CN201811592027.9有效
  • 金治皓;黄应林;曹祥薰 - 爱思开海力士有限公司
  • 2018-12-21 - 2023-09-29 - H10B63/00
  • 本申请公开了一种包括半导体存储器的电子设备。半导体存储器包括:第一线;第二线,其与第一线间隔开并在与第一线交叉的方向上延伸;第三线,其与第二线间隔开并在与第二线交叉的方向上延伸;第一可变电阻元件,其介于第一线与第二线之间,该第一可变电阻元件和第一线与第二线的交叉点重叠;第二可变电阻元件,其介于第二线与第三线之间,该第二可变电阻元件和第二线与第三线的交叉点重叠,第二可变电阻元件的一部分被配置为当流过第一可变电阻元件的电流的方向与流过第二可变电阻元件的电流的方向相反时,比第一可变电阻元件的一部分产生更大量的热;以及材料层,其与第二可变电阻元件串联连接并且设置在第二线与第三线之间,材料层具有电阻。
  • 电子设备
  • [发明专利]电子设备及其制造方法-CN201911284470.4在审
  • 金治皓;姜民船;康铉石;金孝俊;吴在根;蔡洙振 - 爱思开海力士有限公司
  • 2019-12-13 - 2020-11-24 - H01L23/538
  • 这项技术提供了一种电子设备及其制造方法。根据本文件的实施方式的电子设备可以包括:衬底,其包括在第一区域中的第一部分和在第二区域中的第二部分;多个存储单元,其设置在衬底的第一部分之上;第一绝缘层,其在衬底的第二部分之上延伸并且至少部分地填充多个存储单元中的相邻存储单元之间的空间;以及第二绝缘层,其设置在第一绝缘层之上,并且其中,第一绝缘层的介电常数小于第二绝缘层的介电常数,或第一绝缘层的导热率小于第二绝缘层的导热率,或同时满足这两者。
  • 电子设备及其制造方法
  • [发明专利]电子设备及其制造方法-CN201610262600.4有效
  • 金治皓 - 爱思开海力士有限公司
  • 2016-04-25 - 2020-09-22 - H01L27/24
  • 一种电子设备可以包括半导体存储器。所述半导体存储器可以包括:沟槽,其形成在衬底内;栅电介质层,其形成在沟槽的表面上;栅电极,其形成在栅电介质层上,间隙填充沟槽一部分并包含掺杂剂;扩散区,其形成为与沟槽的表面接触,并且在衬底内与栅电极相对应;结区,其形成在衬底内、沟槽的两侧;以及存储元件,其在沟槽的一侧与结区耦接。
  • 电子设备及其制造方法
  • [发明专利]电子设备及其制造方法-CN201911017064.1在审
  • 金孝俊;康铉石;金治皓;吴在根 - 爱思开海力士有限公司
  • 2019-10-24 - 2020-09-15 - H01L27/24
  • 本发明提供一种电子器件设备及其制造方法。电子设备包括半导体存储器。制造该电子设备的方法,包括:形成从衬底的表面垂直延伸并具有横向突出的第一上部的第一存储单元,形成从衬底的表面垂直延伸并具有朝向第一上部横向突出的第二上部的第二存储单元,并在第一存储单元和第二存储单元之上形成衬垫层,该衬垫层具有设置在第一上部之上的第一部分和设置在第二上部之上的第二部分,该衬垫层的第一部分与第二部分彼此接触。
  • 电子设备及其制造方法
  • [发明专利]制造非易失性存储器件的方法-CN200810146904.X无效
  • 宋锡杓;辛东善;李荣镇;李美梨;金治皓;朴吉在;徐辅民 - 海力士半导体有限公司
  • 2008-08-26 - 2009-10-14 - H01L21/8247
  • 一种制造非易失性存储器件的方法,包括在半导体衬底上形成隧道层和导电层,并且图案化所述导电层、所述隧道层和所述半导体衬底以在半导体衬底中形成导电图案、隧道图案和沟槽。所述方法还包括用绝缘材料填充所述沟槽,并且暴露所述导电图案的部分侧壁。所述方法还包括在向内的方向上使导电图案的暴露的部分侧壁凹陷以形成浮置栅极。浮置栅极包括基底部分和宽度小于基底部分的宽度的突出部分。所述方法还包括蚀刻绝缘层以形成暴露出浮置栅极的基底部分的隔离层。此外,所述方法包括形成沿浮置栅极的基底和突出部分延伸的介电层以及覆盖浮置栅极的基底和突出部分的控制栅极。
  • 制造非易失性存储器方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top