专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种开短路测试机的IIC接口扩展电路及开短路测试机-CN202310487662.5在审
  • 徐润生;鄢书丹 - 胜达克半导体科技(上海)股份有限公司
  • 2023-05-04 - 2023-07-21 - G06F13/42
  • 本发明公开了一种开短路测试机的IIC接口扩展电路及开短路测试机,其IIC接口电路包括:模拟开关S1、模拟开关S2、模拟开关S3、模拟开关S4、接地使能信号ENB和高电平输入端口,接地使能信号ENA、模拟开关S2、接地使能信号ENB、目标测试通道PMUA依次连接,输出数字信号通道LOOP_A通过模拟开关S3与目标测试通道PMUA连接,输出数字信号通道LOOP_A通过模拟开关S4与数字信号通道LOOP_OUT连接,模拟开关S1的一端与高电平输入端口连接,另一端与接地使能信号ENB连接,接地使能信号ENA通过模拟开关S2与接地使能信号ENB连接。本发明在开短路测试机现有功能上进行扩展,在开短路测试机现有的硬件基础上进行修改,在不增加更多额外资源的情况下,使测试机实现各种低成本访问DUT的IIC功能。
  • 一种短路测试iic接口扩展电路
  • [发明专利]芯片测试方法、测试机及存储介质-CN202111078131.8有效
  • 魏津;徐润生;鄢书丹 - 绅克半导体科技(苏州)有限公司
  • 2021-09-15 - 2022-02-22 - G01R31/28
  • 本发明涉及芯片测试技术领域,公开了一种芯片测试方法,该芯片测试方法用于测量被测芯片在低功耗模式下的静态工作电流,测试机包括用于给被测芯片供电的可编程电源,和连接在被测芯片的各个被测管脚上的多个测试通道,该方法包括以下步骤:将被测芯片配置为低功耗模式;配置各个被测管脚对应的各个被测通道为高阻模式;获取此时各个被测管脚在高阻模式下的第一被测电压;于各测试通道中生成一后台驱动电压,后台驱动电压用于抵消对应的第一被测电压;以后台驱动电压配置对应的各测试通道;以配置好的各测试通道对被测芯片进行测量,读取此时被测芯片的静态工作电流。本发明可显著降低各个测试通道的漏电流,进而提高芯片测量的精度。
  • 芯片测试方法存储介质
  • [发明专利]一种多通道信号汇流电路、校准电路及测试机-CN202110980236.6有效
  • 魏津;胡雪原;鄢书丹 - 绅克半导体科技(苏州)有限公司
  • 2021-08-25 - 2022-01-18 - H03K17/76
  • 本发明公开了一种多通道信号汇流电路,包括:输入端,包括多个接收输入信号的通道,且所述输入信号每次以择一的方式输入至该多个通道中的一个;汇流点,设置在多个所述通道的交汇处,该汇流点与所述输入端之间存在一电压差;输出端,所述输入信号经过所述汇流点后,从所述输出端输出;其中,多个所述通道中的每一个通道上均设有TVS二极管,该TVS二极管具有大于所述电压差的开启电压,使得所述TVS二极管于静默状态处于截止;当一个通道中有输入信号进入时,该通道中存在电压跳变使得所述电压差大于所述TVS二极管的开启电压,从而让该通道导通。本发明降低多通道汇流点的信号传输固有延时差异,减小其对校准结果的影响,提高测试精度。
  • 一种通道信号汇流电路校准测试
  • [发明专利]信号调整单元、信号调整模块及测试机-CN202111048233.5有效
  • 魏津;胡雪原;鄢书丹 - 绅克半导体科技(苏州)有限公司
  • 2021-09-08 - 2021-12-07 - G01R31/28
  • 本发明公开一种信号调整单元、信号调整模块及测试机,信号调整单元包括控制端,其包括模拟联动开关;信号调整电路包括场效应管和SRD二极管;节点连接输出端;当输出信号为上升沿脉冲信号或下降沿脉冲信号时,给模拟联动开关一控制指令,使得模拟联动开关由初始的待机状态切换至工作状态,以使场效应管导通,从而让SRD二极管处于由正偏压转换为负偏压并形成强大的反向电流状态,且在SRD二极管所有的少数载流子都被抽出后,SRD二极管的反向电流瞬间截止,以在节点上实现高压摆率的上升沿阶跃脉冲信号或下降沿阶跃脉冲信号。本发明利用SRD二极管和场效应管对测试通道输出信号的压摆率进行调整,使其具有较高的压摆率。
  • 信号调整单元模块测试
  • [发明专利]IC测试机台的校准方法、校准系统及IC测试装置-CN202111008287.9有效
  • 魏津;鄢书丹;徐润生 - 绅克半导体科技(苏州)有限公司
  • 2021-08-31 - 2021-11-19 - G01R31/28
  • 本发明涉及一种IC测试机台的校准方法,IC测试机台包括弹簧针塔和探针卡,校准方法用以校准弹簧针塔与探针卡之间的水平度,包括:提供一检测板;以检测板代替探针卡位置;加载检测信号获取探针阵列中每个探针对应的接触电阻值;将接触电阻值绘制成阵列平面图,阵列平面图中对应不同接触电阻值大小的区域具有不同的图形特征;根据图形特征判断弹簧针塔与检测板之间的水平度并实施校准。本发明能够利用原有IC测试机台的结构,在仅用一检测板代替探针卡的情况下获取探针阵列的每个探针的接触电阻值,利用接触电阻值的可视化处理直观的判断弹簧针塔与检测板之间的水平度,检测校准成本低,大大提高了检测校准的效率和精度,无需反复进行校准。
  • ic测试机台校准方法系统装置
  • [发明专利]一种通道传输延时差异测量系统及方法-CN202111035770.6有效
  • 魏津;胡雪原;鄢书丹 - 绅克半导体科技(苏州)有限公司
  • 2021-09-06 - 2021-11-19 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种通道传输延时差异测量系统及方法,包括:参考通道;多个待测通道;测量模块,该测量模块包括第一测量线路、第二测量线路和多个节点相位测量单元,其中:每一个节点相位测量单元获取对应的参考节点和测量节点的信号作为一对输入信号,根据所述一对输入信号之间的相位差转换为直流电压值;数据处理模块,根据节点编号顺序将对应的直流电压值按照三角波拟合,得到三角波函数;数据分析模块,将每个所述节点相位测量单元输出的直流电压值分别代入所述三角波函数,得到最终待测通道相对于参考通道的传输延时差异值。本发明利用多点相位测量结果拟合精确得到通道之间的传输延时差异。
  • 一种通道传输延时差异测量系统方法
  • [发明专利]延时测量电路、同步信号补偿装置及IC测量装置-CN202110927600.2有效
  • 魏津;鄢书丹;胡雪原 - 绅克半导体科技(苏州)有限公司
  • 2021-08-13 - 2021-10-26 - G01R31/28
  • 本发明涉及集成电路测试技术领域,公开了一种延时测量电路、同步信号补偿装置及IC测量装置,其延时测量电路包括分路模块、排序电路、参考电路和锁存器,分路模块用以将待测通道内的上升沿信号分成N路上升沿信号;其中,N为大于1的整数;排序电路用以对N路上升沿信号按上升沿时间排序;参考电路用以与信号源连接并与待测通道同时接收信号源产生的上升沿信号,并将其作为参考信号;锁存器用以接收排序电路输出的N路上升沿信号和参考电路输出的参考信号,并在参考信号的上升沿到达锁存器时,记录锁存器内N路上升沿信号的逻辑状态。本发明可以有效提高延时测量的时间分辨率,可以分辨出各通道之间几皮秒至几十皮秒的延时。
  • 延时测量电路同步信号补偿装置ic

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