专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]检验物体尺寸的装置-CN201120038941.6有效
  • 郑益骐 - 华泰电子股份有限公司
  • 2011-02-15 - 2011-10-19 - G01B5/02
  • 本实用新型提供一种检验物体尺寸的装置,包括检验平台,该检验平台具有至少两侧边,检验平台上形成有检验槽,该检验槽由检验平台的一个侧边延伸至另一侧边,该检验槽包括第一侧壁、第二侧壁以及底壁,其中第一侧壁具有前段以及与该前段相连的后段,两者相交于相接处,第二侧壁则具有前段、后段以及与该前段和后段相连的中段,其中第一侧壁的前段和后段以及第二侧壁的前段和后段大致上呈直线延伸,而第二侧壁的中段则呈弧形,第一侧壁的前段和后段长度分别大于第二侧壁的前段和后段长度,且第一侧壁的前段与第二侧壁的前段之间的距离大于第一侧壁的后段与第二侧壁的后段之间的距离,而小于相接处至第二侧壁的中段的距离。
  • 检验物体尺寸装置
  • [发明专利]测量设备及方法-CN200810081894.6无效
  • 吕建德;张家齐;郑益骐;刘昆华;苏振平 - 华泰电子股份有限公司
  • 2008-05-20 - 2009-11-25 - G01B11/06
  • 一种测量治具,该测量治具包括至少一个承载单元,以供待测工件容置。该承载单元包括承载室及基准面。该承载室用以承载所述待测工件,并具有承座面,该承座面用于接触所述待测工件的底面。所述基准面由所述承载室向外延伸,所述基准面及所述待测工件的顶面朝向相同的方向,所述基准面与所述承座面间具有一预定高度差,且所述待测工件的顶面与所述基准面间形成有一可测量高度差,由此计算所述待测工件的厚度为该预定高度差及该可测量高度差之和。
  • 测量设备方法
  • [发明专利]导线架结构及其应用-CN200710187761.2无效
  • 陈佳玉;彭达麟;张恩寿;郑益骐;苏振平 - 华泰电子股份有限公司
  • 2007-11-23 - 2009-05-27 - H01L23/495
  • 本发明公开了一种导线架(Lead Frame)结构及其应用,此导线架结构包括:边架、第一承载座、第二承载座、数条导脚以及锚杆。其中第一承载座借助至少一个第一支撑架(Tie Bar)与边架连接。第二承载座借助至少一个第二支撑架与边架连接,第二承载座与第一承载座相距有一段距离,并共同定义出芯片承载区。数条导脚设于边架之上,并往芯片承载区延伸。锚杆的一端连接于边架上,另一端则具有一个凸出部,配置于第一承载座与第二承载座之间。
  • 导线结构及其应用
  • [发明专利]用于测量电子产品的治具及方法-CN200610141072.3无效
  • 郑益骐;刘昆华;许庭彰;苏振平 - 华泰电子股份有限公司
  • 2006-09-29 - 2008-04-02 - G01B3/00
  • 一种用以测量多个电子产品的测量治具界定出第一及第二测量开槽,该第一测量开槽具有至少一第一比对尺寸,该比对尺寸为该电子产品的尺寸规格上限值,以供电子产品以一置放方向置入,与该第一比对尺寸进行比对判测,且该测量开槽与该置放方向平行的深度小于该电子产品宽度的一半,以及该第二测量开槽具有至少一第二比对尺寸,该比对尺寸为该电子产品的尺寸规格下限值,以供电子产品与该第二比对尺寸进行比对判测,且该测量开槽与该置放方向平行的深度小于该电子产品宽度的一半。
  • 用于测量电子产品方法

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