专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]宽谱白光LED的量子点有源区结构及其外延生长方法-CN200410009267.3无效
  • 罗毅;邵嘉平;韩彦军;孙长征;郝智彪 - 清华大学
  • 2004-06-25 - 2005-03-16 - H01L33/00
  • 本发明涉及一种宽谱白光LED的量子点有源区结构及其外延生长方法,基于氮化镓III/V族化合物半导体功率型发光二极管、应用全固态照明光源的有源区内含铟镓氮-镓氮或铟镓氮-铟镓氮量子点结构的白光功率型宽谱发光二极管LED材料的金属有机化学气相沉积外延生长方法和相关的有源区结构设计。提供了几种基于InGaN量子点有源区的新型器件结构设计,并给出了外延条件的核心生长参数如反应源流量大小、V/III比、衬底温度等。本发明能实现不含荧光转换、高显色指数、高亮度的GaN基白光LED照明需求。同时,本发明技术也适用于(CdSe)ZnS/ZnSe、(Zn,Cd)Se/ZnSe、(Zn,Cd,Hg)(Se,Te)/ZnSe、(Zn,Cd,Hg)(Se,Te)/ZnS等II/VI族化合物半导体内含量子点的宽谱功率型发光二极管材料外延生长,其外延生长的主要优化方法与III/V族InGaN量子点外延生长的相同。
  • 白光led量子有源结构及其外延生长方法
  • [发明专利]一种氮化镓材料的干法刻蚀方法-CN03157390.8无效
  • 罗毅;韩彦军;薛松;胡卉;郭文平;邵嘉平;孙长征;郝智彪 - 清华大学
  • 2003-09-19 - 2004-04-21 - H01L21/3065
  • 本发明公开了属于氮化镓材料刻蚀技术领域的一种氮化镓材料的干法刻蚀方法,其特征是通过含有氯气,氮气,氧气Cl2/N2/O2这三种气体混合而形成的反应气体生成的等离子体而进行刻蚀,可获得高的刻蚀选择比和高的GaN的刻蚀速率。混合气体也可为Cl2/He/O2或Cl2/Ne/O2或Cl2/N2O/O2。由于本发明在干法刻蚀氮化镓材料系中利用了三种气体组合做为反应气体,既可获得高的刻蚀选择比,又可获得高的GaN的刻蚀速率。同时可获得无残渣,无刻痕光滑的刻蚀表面。通过调节氧气在这三种混合气体中的相对含量,即可调节选择性刻蚀比和刻蚀速率,实验结果表明,对GaN和Al0.28Ga0.72N的选择性刻蚀比为60∶1,对GaN的刻蚀速率达到320nm/min。
  • 一种氮化材料刻蚀方法

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