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[发明专利]分配单元-CN201880060728.X有效
发明人：堀越胜恵;系长诚;辻田公二;小野雅之;长谷川祐一 -专利权人： JVC建伍株式会社
申请日： 2018-03-09 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：分配单元(1)具备盘(100)、盒(200)和分配用支架(300)。盘(100)具有圆板形状，并具有凹部(104)和凸部(103)交替配置而成的轨道区域(105)。盒(200)具有贯通孔(201)，在盒安装在盘(100)上的状态下，由贯通孔(201)和轨道区域(105)构成井(10)。分配用支架(300)具有插入到贯通孔(201)的保持部(310)和贯通保持部(310)的引导孔(320)。引导孔(320)具有圆锥台形状，其保持部(310)侧的开口直径(R320a)小于保持部(310)相反侧的开口直径(R320b)，引导孔(320)的中心线(CL320)位于通过盘(100)的中心(C100)和井(10)的中心(C10)的线(CL110)上。
分配单元

[发明专利]分析方法以及分析装置-CN201780026892.4有效
发明人：小野雅之;系长诚;长谷川祐一;辻田公二;岩间茂彦 -专利权人： JVC建伍株式会社
申请日： 2017-04-28 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01N33/543 文献下载
摘要：分析方法对由树脂材料形成的分析用基板(1)照射激光，所述分析用基板具有捕捉有检测对象物质(11)和微粒子(20)的反应区域(10)，所述微粒子(20)是用于标识检测对象物质(11)的金属化合物(步骤S2)。分析方法提取接受来自分析用基板(1)的反射光生成的信号电平作为基板信号电平(DL)(步骤S4)。分析方法接受来自反应区域(10)的反射光并生成受光电平信号(JS)(步骤S6)。分析方法提取反应区域(10)中比来自分析用基板(1)的反射光的受光电平高的信号电平的受光电平信号(JS)作为微粒子检测信号(KS)(步骤S7)。分析方法基于提取的微粒子检测信号(KS)来检测微粒子(20)(步骤S8)。
分析方法以及装置

[发明专利]分析用基板的制作方法、分析用基板及分析单元-CN202080018371.6在审
发明人： 辻田公二;糸长诚;小野雅之;斋藤敦;岩间茂彦;堀越勝恵;长谷川祐一;山本雅弘 -专利权人： JVC建伍株式会社
申请日： 2020-03-05 - 公布日： 2021-10-19 - 主分类号： G01N37/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种分析用基板的制作方法、分析用基板及分析单元。分析用基板的制作方法将对检测对象物质(50)具有的特定抗原(52)产生特异性反应的抗体(41)固定到分析用基板(10)上。用规定的处理液对分析用基板(10)进行浸渍处理，将抗体(41)凝集而成的抗体凝集块(42)形成在分析用基板(10)上的凹部与凸部的边界区域。使抗原(52)与抗体(41)产生反应，通过抗体凝集块(42)将检测对象物质(50)捕获在分析用基板(10)上。
分析用基板制作方法单元

[发明专利]分析装置以及分析方法-CN201580050890.X有效
发明人：小野雅之;柳生慎悟;丝长诚;长谷川佑一;辻田公二 -专利权人： JVC建伍株式会社
申请日： 2015-09-09 - 公布日： 2020-05-01 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：分析装置(1)具备光扫描部(4)和脉冲波形分析部(30)。光扫描部(4)对在表面上固定了与微粒子(16)相结合的检测对象(12)的基板(2)进行光学扫描，从基板(2)取得检测信号。脉冲波形分析部(30)具有判定检测信号的脉冲波形的峰值是否存在于预定范围内的振幅判定部(32)和判定脉冲波形的脉冲宽度是否在预定范围内的脉冲宽度判定部(33)，对检测信号的脉冲波形进行分析。
分析装置以及方法

[发明专利]分析方法和分析装置-CN201880051131.9在审
发明人：系长诚;小野雅之;长谷川祐一;辻田公二 -专利权人： JVC建伍株式会社
申请日： 2018-08-07 - 公布日： 2020-04-10 - 主分类号： G01N21/49 文献下载
摘要：对分析用基板(1)照射激光(50a)，接收来自反应区域(10)的反射光，生成受光电平信号(JS)。进而，在反应区域(10)中提取信号电平比规定的信号电平(Lth)高的受光电平信号(JS)作为粒子检测信号(KS)，基于提取出的粒子检测信号(KS)检测出检测对象物质11)。分析用基板(1)由树脂材料形成，并具有反应区域(10)和未形成反应区域(10)的未反应区域(9)，该反应区域(10)捕获有检测对象物质(11)、设置有识别检测对象物质(11)的抗体(21)的第一粒子(20)、设置有与抗体(21)结合的抗原(31)且由金属形成的第二粒子(30)。
分析方法装置

[发明专利]分析装置和分析方法-CN201580014243.3有效
发明人：小野雅之;柳生慎悟;糸长诚;长谷川祐一;辻田公二 -专利权人： JVC建伍株式会社
申请日： 2015-03-12 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：本发明涉及一种分析装置，所述分析装置光学地扫描在表面上固定有检测对象(620)和标记检测对象的粒子(66)的基板(100)；并对通过光扫描部(3)扫描基板(100)而从光扫描部(3)获取的检测信号所包含的脉冲波和脉冲波的脉冲宽度进行检测；当连续两次检测到分别具有小于第一基准值(T2)的脉冲宽度(Ta)的两个脉冲波时，基于两个脉冲波的脉冲间隔(Tb)，对检测对象(620)的数量进行计数，其中，第一基准值(T2)与光扫描部(3)扫描彼此邻接的多个粒子(66)的情况下的第一脉冲宽度(T1)对应。
分析装置方法

[发明专利]分析装置和分析方法-CN201580014194.3有效
发明人：小野雅之;柳生慎悟;糸长诚;长谷川祐一;辻田公二 -专利权人： JVC建伍株式会社
申请日： 2015-03-12 - 公布日： 2019-10-15 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种分析装置，所述分析装置光学地扫描在表面上固定有粒子(66)的基板(100)；并对通过光扫描部(3)扫描基板(100)而从光扫描部(3)获取的检测信号所包含的脉冲波和脉冲波的脉冲宽度进行检测；当连续两次检测到分别具有小于第一基准值(T2)的脉冲宽度(Ta)的两个脉冲波时，基于两个脉冲波的脉冲间隔(Tb)，对粒子(66)的数量进行计数，其中，第一基准值(T2)与光扫描部(3)扫描彼此邻接的多个粒子(66)的情况下的第一脉冲宽度(T1)对应。
分析装置方法

[发明专利]试样分析用设备-CN201480029913.4有效
发明人：丝长诚;柳生慎悟;长谷川佑一;辻田公二;小野雅之 -专利权人： JVC建伍株式会社
申请日： 2014-03-27 - 公布日： 2017-07-28 - 主分类号： G01N33/543 文献下载
摘要：在基部上，凹部和凸部呈周期性排列。所述凹部通过使与检测对象的外泌体中存在的抗原结合的抗体固定，使所述外泌体与所述抗体结合，从而使所述外泌体固定。所述凸部的宽度小于所述外泌体的平均粒径。
试样分析设备外泌体捕捉方法

[发明专利]光盘及其制造方法-CN200510128616.8有效
发明人：大岛克则;大石健司;辻田公二;下舞贤一 -专利权人：日本胜利株式会社
申请日： 2005-11-22 - 公布日： 2006-07-26 - 主分类号： G11B7/24 文献下载
摘要：本发明提供了具有2层以上记录层时，能够进行各层通用的寻址的光盘及其制造方法。在光盘(1)中，使第1发射层4与第2记录层(8)侧相对设置，通过透光性粘接剂层(6)粘合在形成有第1凹凸部(2A、2B)的第1基板(2)上依次层叠有第1记录层(3)、第1反射层(4)的第1中间体(A)以及在形成有第2凹凸部(10A、10B)的第2基板(10)上依次层叠有第2反射层(9)、第2记录层(8)的第2中间体(B)。从第1基板(2)照射记录重放用激光以进行第1、第2记录层(3、8)的记录重放。在相对于第1、第2基板(2、10)中的记录重放用激光入射面(201)形成凸起的区域中，形成岸台预制凹坑(2C、10C)。
光盘及其制造方法

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