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[发明专利]一种存储设备数据丢失测试方法、装置、介质及设备-CN202311178413.4在审
发明人：潘慧敏;赵啟鹏 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-09-13 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本发明涉及存储设备测试技术领域，公开了一种存储设备数据丢失测试方法，包括：根据第一数据写入参数向所述存储设备的第一存储单元写入第一数据，所述第一数据写入参数包括第一数据的大小、类型、位置以及执行测试步骤的次数；对写入第一数据后的所述存储设备执行下电操作；读取下电后存储设备的第一存储单元中的第二数据；获取所述第一数据与所述第二数据之间的差异数据作为丢失数据。本发明解决现有方法无法自动化获取写XLC block时丢失最大数据量的问题。
一种存储设备数据丢失测试方法装置介质

[发明专利]一种存储设备及擦除指令的处理方法-CN202311159662.9在审
发明人： 赵啟鹏;苏忠益 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-09-11 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G06F9/30 文献下载
摘要：本发明提供了一种存储设备及擦除指令的处理方法，包括：闪存块；缓存块，用以存储历史执行任务数据，所述历史执行任务数据包括历史序号、历史起始逻辑地址以及历史结束逻辑地址；以及主控器，通信连接于所述闪存块、所述缓存块，用以响应于主机的当前擦除指令，生成当前执行任务数据，所述当前执行任务数据包括当前序号、当前起始逻辑地址以及当前结束逻辑地址；其中，所述主控器还用以根据所述当前序号与所述历史序号的比较结果，以对所述历史执行任务数据进行更新。通过本发明提供的一种存储设备及擦除指令的处理方法，能够提升重复且非4KB对齐的擦除指令的处理效率。
一种存储设备擦除指令处理方法

[发明专利]一种存储设备及其控制方法-CN202311153339.0在审
发明人： 赵啟鹏;苏忠益 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-09-08 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明提供了一种存储设备及其控制方法，存储设备包括存储模块，存储模块包括多个存储块，且根据存储块的存储数据类型，存储模块被划分为读错块池、坏块池、空闲块池和有效块池；以及闪存转换层，与存储模块电性连接，其中闪存转换层包括：读错误处理模块，读错误处理模块遍历读取读错块池中的存储块，并将不可被纠正的存储块标记为读错块；数据回收模块，数据回收模块获取读错块的有效数据，并将有效数据转移至有效块池或空闲块池；以及验证测试模块，对读错块进行读写和擦除测试，且根据测试结果，验证测试模块将读错块标记为坏块或空白块，其中坏块存储于坏块池，空白块存储于空闲块池。本发明能够提升存储设备的使用寿命和存储效率。
一种存储设备及其控制方法

[发明专利]存储装置、存储装置的数据处理方法、计算机设备及介质-CN202311108361.3在审
发明人： 赵啟鹏;苏忠益 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-08-31 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明涉及静态存储技术领域，特别涉及存储装置、存储装置的数据处理方法、计算机设备及介质。存储装置包括：至少一个闪存模块，用以接收主机输入的读指令，闪存模块包括多个区块；以及控制模块，电连接于闪存模块，控制模块包括：闪存控制单元，用以确定闪存模块中区块的块类型；闪存转换单元，用以根据每个区块的读次数和预设上限阈值的比较结果，以对区块的标志位进行赋值；中央处理单元，用以根据闪存模块的运行状态及具有标志位赋值的区块的数量，对具有标志位赋值的区块上的数据进行转移处理。本发明可在保证存储装置稳定性的基础上，提高存储装置的运行效率。
存储装置数据处理方法计算机设备介质

[发明专利]一种存储测试设备及其测试方法-CN202310889908.1有效
发明人：潘慧敏;赵啟鹏 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-07-20 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，用于获取存储器的功耗转换时长，其中存储器中存储预设数据，存储测试设备包括：掉上电模块，在存储器的高功耗状态结束时，延迟初始功耗转换时长后，掉上电模块将存储器断电并重新上电；数据输入模块，数据输入模块中存储初始基准时间和初始时间步长；基准时间训练模块，基准时间训练模块接收并调整初始基准时间，直到掉电前预设数据和掉电后预设数据不同，获得标定基准时间；以及时间步长获取模块，时间步长获取模块获取标定基准时间和初始时间步长，并调整初始时间步长，直到掉电前预设数据和掉电后预设数据相同，获得标定时间步长。本发明能够准确获取存储器的功耗模式切换时间。
一种存储测试设备及其方法

[发明专利]一种克隆eMMC芯片的方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310874600.X在审
发明人：袁学涛;赵啟鹏 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-07-17 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G06F9/4401 文献下载
摘要：本申请提供一种克隆eMMC芯片的方法、装置、电子设备及存储介质。其中，所述方法应用于上位机，所述上位机连接有eMMC芯片和备用芯片，所述方法包括：备份所述eMMC芯片中的配置信息；将所述eMMC芯片中的数据从所述eMMC芯片中拷贝至所述备用芯片；将所述配置信息写入所述备用芯片，以供基于对所述备用芯片的调试解决所述eMMC芯片的异常问题。该方法可以在不破坏异常现场环境的情况下，营造出和异常现场环境一致的调试环境，以避免发生因现场误操作而导致eMMC芯片的异常现场环境消失从而无法继续分析出异常问题的原因的情况。
一种克隆 emmc 芯片方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质-CN202310626453.4有效
发明人：潘慧敏;赵啟鹏 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-05-31 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质，包括：响应于主机端的读写指令，主机端向存储端传输初始数据集，其中，初始数据集包括多个测试数据；主机端依次将测试数据传输至存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集；主机端预设时间范围，并基于时间范围选择不同的传输时间，重复向存储端传输测试数据集，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；主机端基于测试数据集与测试时间生成测试脚本，并根据测试脚本完成待测试存储器固件的测试。通过本发明公开的一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质，能够提升固件的测试效率。
一种存储器测试方法装置设备介质

[发明专利]一种存储介质的纠错方法、及其应用的系统及存储系统-CN202010398071.7有效
发明人： 赵啟鹏 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2020-05-12 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：本发明公开一种存储介质的纠错方法、及其应用的系统及存储系统。所述存储介质的纠错方法包括：统计出错页的当前比特翻转数目，根据比特翻转数目范围，预先设置多个错误等级域，以生成预设错误等级域，判断所述当前比特翻转数目是否在所述预设错误等级域内，若当前比特翻转数目在所述预设错误等级域内，则判断所述当前比特翻转数目属于哪一个错误等级域，以启用对应的等级纠错；若当前比特翻转数目不在所述预设错误等级域内，则启用纠错机制。本发明无需一级一级的去调整存储器的纠错电压。
一种存储介质纠错方法及其应用系统存储系统

[发明专利]一种管理存储单元的方法和装置-CN202210811916.X有效
发明人： 赵啟鹏 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2022-07-12 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明提供一种管理存储单元的方法和装置，属于数据存储技术领域。方法包括：响应于确定存储设备中的一个或多个存储页发生读写错误，确定所述一个或多个存储页所归属的目标存储单元，并记录各个所述目标存储单元；响应于确定所述存储设备处于设定状态，获取每一个所述目标存储单元，执行：遍历所述目标存储单元包含的各个存储页；在判断出存在任一存储页为不可纠正的错误页的情况下，将所述目标存储单元作为错误存储单元，否则将所述目标存储单元作为可用存储单元。采用本发明，可以提高存储设备的使用时长。
一种管理存储单元方法装置

[发明专利]一种管理存储页的方法和装置-CN202210812394.5有效
发明人： 赵啟鹏 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2022-07-12 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：本发明提供一种管理存储页的方法和装置，属于数据存储技术领域。方法包括：响应于确定存储设备中的任一目标存储页发生读写错误，获取所述存储设备的当前传输速率；在判断所述当前传输速率为第一传输速率的情况下，降低所述第一传输速率至第二传输速率；基于所述第二传输速率、所述存储设备的多个信号强度，对发生读写错误的所述目标存储页执行纠错操作；根据所述纠错操作的结果为所述存储设备管理所述目标存储页。采用本发明，可以提高存储设备的纠错能力。
一种管理存储方法装置

[外观设计]降温保湿安全帽-CN202230073597.8有效
发明人： 赵啟鹏 -专利权人： 赵啟鹏
申请日： 2022-02-15 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： 02-03 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：降温保湿安全帽。2.本外观设计产品的用途：用于安全帽，可喷雾降温保湿。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
降温保湿安全帽

[发明专利]一种非挥发性记忆体存储设备的垃圾回收方法与垃圾回收系统-CN202110839163.9在审
发明人： 赵啟鹏 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2021-07-23 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G06F12/02 文献下载
摘要：本发明提出一种非挥发性记忆体存储设备的垃圾回收方法与垃圾回收系统，包括：确定源存储块和目标存储块；将所述源存储块中的有效数据转移至所述目标存储块中，并获取转移过程中的错误物理地址；获取所述错误物理地址在第一映射表中相对应的主机逻辑地址，并将所述主机逻辑地址中第k位的状态更新为错误标志状态；将所述第一映射表的内容更新至第二映射表内；判断所述第一映射表中所述主机逻辑地址中第k位是否为错误标志状态；若是，则获取所述主机逻辑地址在所述第二映射表中相对应的条目，并将所述条目中的存储块物理地址更新为虚拟值；若否，则获取所述主机逻辑地址在所述第一映射表中的存储块物理地址。本发明可以提高非挥发性记忆体存储设备的读写性能。
一种挥发性记忆体存储设备垃圾回收方法系统

[发明专利]一种非挥发性记忆体存储器的垃圾回收方法与垃圾回收系统-CN202110839169.6在审
发明人： 赵啟鹏 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2021-07-23 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G06F12/02 文献下载
摘要：本发明提出一种非挥发性记忆体存储器的垃圾回收方法及垃圾回收系统，包括：确定源存储块和目标存储块；将所述源存储块中的有效数据转移至所述目标存储块中，并获取转移过程中的错误物理地址；根据所述错误物理地址在第一映射表中获得相对应的错误逻辑地址；根据所述错误逻辑地址在第二映射表中获得相对应的条目，并将所述条目中的物理地址更新为虚拟值；其中，当主机向所述非挥发性记忆体存储器发送读请求时，则判断所述读请求是否命中所述虚拟值；若是，则向所述主机发送报错信号；若否，则继续进行所述读请求。本发明提出的非挥发性记忆体存储器的垃圾回收方法及垃圾回收系统可以提高非挥发性记忆体存储器的使用寿命。
一种挥发性记忆体存储器垃圾回收方法系统

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