专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果20个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [实用新型]裁切设备-CN202320404174.9有效
  • 杨乐;郑洪宝;翁水才;谢周阳;胡成祥 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2023-03-01 - 2023-10-20 - H01L21/687
  • 本申请涉及的裁切设备具有用于半导体元件流转的第一路径,第一路径设有收料工位、废料工位、供料工位、调整工位和裁切工位;第一路径的上方设有定位视觉模组、复检视觉模组和搬运模组;裁切工位设有裁切平台和安装于裁切平台的吸附模组,裁切平台构造有落料孔并能够沿第一方向往复移动;吸附模组围设于落料孔的边缘处;吸附模组包括沿第二方向相对且间隔布置的固定座和活动座,固定座和活动座之间形成有与落料孔连通的剔料空间;活动座能够沿第二方向相对固定座做靠近运动或远离运动;第二方向与第一方向成角度设置。该裁切设备能够更稳定的固定半导体元件,并适用于不同型号的半导体元件,提高裁切质量。
  • 设备
  • [实用新型]检测装置-CN202320393117.5有效
  • 杨乐;郑洪宝;翁水才;谢周阳;周世超 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2023-03-01 - 2023-10-20 - B07C5/34
  • 本申请涉及半导体检测技术领域,提供了一种检测装置。该检测装置包括检测平台和拾取模组,检测平台具有具有沿第一方向间隔布设的收料工位、上料工位、调整工位以及检测工位,各工位共同限定出第一流转路径;检测工位沿第二方向被划分为间隔布设的压载子工位、第一检测子工位和第二检测子工位,并共同限定出第二流转路径;拾取模组能够沿第一流转路径在上料工位、调整工位、检测工位和收料工位之间流转。也就是说,该检测装置通过第一流转路径和第二流转路径的成角度设置,相当于将沿水平横向的部分空间转移至水平纵向,缩减沿水平横向所占用的空间;当拾取模组沿第一流转路径移动时,缩减了移动行程,提高拾取模组的使用稳定性。
  • 检测装置
  • [发明专利]检测装置及其检测方法-CN202310204602.8在审
  • 杨乐;郑洪宝;翁水才;谢周阳;周世超 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2023-03-01 - 2023-07-04 - G01N21/88
  • 本申请半导体检测技术领域,提供了一种检测装置及其检测方法。该检测装置包括检测平台和检测模组;检测平台构造有用于放置半导体元件的检测窗口,检测窗口处设置有检测载板;检测模组安装于检测平台,且检测载板沿自身厚度方向的两侧均设置有检测模组;检测模组具有光源、反射镜和检测相机,检测相机被配置为响应于反射镜基于光源对物料的反射以获得半导体元件的检测图像。这样的设置,不仅缩减了检测相机相对半导体元件的检测角度,而且缩减了获取半导体元件图像的距离,从而缩减了占用空间,降低与其他结构的干涉。
  • 检测装置及其方法
  • [发明专利]电子元件的检测设备-CN202210778497.4在审
  • 刘兴春;翁水才;郑洪宝;谢周阳 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2022-06-30 - 2022-09-27 - G01R31/00
  • 本发明涉及电子器件制造领域,特别是涉及一种电子元件的检测设备。一种电子元件的检测设备,包括机架、上料机构、撕膜机构、搬运机构、多个检测机构、收料机构、第一翻转模块及第二翻转模块,上料机构内承载有待测的工件,撕膜机构连接于所述机架并设于所述上料机构的一端,用于撕下工件上的薄膜,多个检测机构分别设于机架上,搬运机构能够将完成撕膜的工件依次搬运至各个检测机构进行性能检测,收料机构设于检测机构的一侧并,搬运机构将完成检测的工件搬运至收料机构内。本发明的优点在于:实现电子元件的性能检测,实现自动化检测,提高效率。
  • 电子元件检测设备
  • [发明专利]电子元件外观检测设备-CN202210257327.1在审
  • 谢周阳;翁水才;祝占伟;郑洪宝 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2022-03-16 - 2022-08-02 - B07C5/00
  • 本发明涉及电子元件外观检测设备技术领域,特别是涉及一种电子元件外观检测设备。该电子元件外观检测设备包括底座、供料装置、搬运装置、多工位检测装置以及收料装置。供料装置承载有待测工件;搬运装置能够对待测工件进行搬运,并能将待测工件移动至多工位检测装置分别进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测以及多站正面外观检测;搬运装置还能将经检测后的工件移送至收料装置内进行收料作业。本发明的优点:能够实现对电子元件进行全方位立体检测,有效判别并分选出外观不良的工件,智能化程度高且效率高,提高了对电子元件立体外观检测结果的可靠性及准确性,检测效果佳。
  • 电子元件外观检测设备
  • [实用新型]老化测试装置-CN202120464433.8有效
  • 祝占伟;郭志诚;翁水才;谢周阳 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2021-03-04 - 2022-01-04 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及一种芯片的老化测试设备结构,特别是涉及一种老化测试装置,包括老化测试单元及背板单元,所述老化测试装置还包括用于对所述老化测试单元的运动进行导向定位的导向定位单元,所述导向定位单元包括:导向滑槽,设置于所述老化测试单元或所述背板单元中的一者,并沿所述老化测试单元相对所述背板单元运动的方向延伸;滚动支撑组件,设置于所述老化测试单元或所述背板单元中的另一者上,并能够随所述老化测试单元的运动沿所述导向滑槽的延伸方向滚动,导向滑槽与滚动支撑件之间滚动配合,并且能够引导老化测试单元与背板单元沿导向滑槽的延伸方向相对运动,因此,老化测试单元在插装的过程更加省力,且导向定位的精度也更高。
  • 老化测试装置
  • [发明专利]老化测试装置-CN202110237654.6在审
  • 祝占伟;郭志诚;翁水才;谢周阳 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2021-03-04 - 2021-07-16 - G01R31/28
  • 本发明涉及芯片的老化测试设备结构,特别是涉及一种老化测试装置,包括用于装载待测试件的老化测试单元,及背板单元,所述老化测试装置还包括用于接通所述老化测试单元与所述背板单元的通信单元,所述通信单元包括第一通信模块和第二通信模块,且所述第一通信模块和所述第二通信模块中的一者设置于所述老化测试单元,另一者设置于所述背板单元,所述第一通信模块包括弹簧式顶针单元,且所述第二通信模块包括能够与所述弹簧式顶针单元接触导通的触点区域,该老化测试装置中的通信单元使用寿命更高。
  • 老化测试装置
  • [发明专利]多功能集成电路吸嘴装置-CN201710345035.2有效
  • 翁水才;谢周阳;姜传力 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2017-05-16 - 2021-01-08 - H01L21/677
  • 本发明涉及集成电路分选领域,目的是提供一种多功能集成电路吸嘴装置。一种多功能集成电路吸嘴装置,包括:竖板,至少一个吸嘴机构;所述的多功能集成电路吸嘴装置还包括:设有与竖板上端连接的横板的排管组件;吸嘴机构包括:真空吸嘴,与竖板连接的竖直线导轨,设有连接耳和位于连接耳上方的固定耳且与竖直线导轨的滑块连接的升降座,拉簧,升降驱动机构,下端与真空吸嘴连接且与连接块枢接的竖向真空管,旋转驱动机构;横板设有与拉簧一端连接的拉杆;拉簧的另一端与升降座连接。该多功能集成电路吸嘴装置功能较多,电机失电时吸嘴不会与机台上其他组件碰撞安全性较好;排管组件使管线排布整齐紧凑不易受损。
  • 多功能集成电路装置
  • [发明专利]除尘吸取装置及除尘吸取方法-CN201810146601.1有效
  • 谢周阳;翁水才;姜传力 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2018-02-12 - 2020-07-24 - B25J9/10
  • 本发明的目的是提供一种除尘吸取装置及除尘吸取方法。一种除尘吸取装置,包括:立座;所述的除尘吸取装置还包括:与立座通过竖向导轨连接的安装座,安装座升降机构,分别与安装座连接的连接块和位于连接块下方的中空轴电机,两端分别与连接块和中空轴电机的中空轴上端一一对应连接的旋转接头,设于中空轴电机的中空轴下端的吸嘴座,吸嘴座设有的零件吸嘴和若干个沿零件吸嘴圆周分布的除尘吸嘴,升降原点定位组件和旋转原点定位组件;零件吸嘴和除尘吸嘴分别通过真空管道与旋转接头连接。该除尘吸取装置通过零件吸嘴吸附零件转位,且能通过除尘吸嘴对手机摄像头零件有效除尘。
  • 除尘吸取装置方法
  • [发明专利]指纹芯片电性能测试装置-CN201711072473.2有效
  • 韩笑;陈思乡;姜传力;翁水才;鲍军其;谢周阳;刘治震;章华荣 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2017-11-03 - 2020-03-03 - G01R31/28
  • 本发明的目的是提供一种指纹芯片电性能测试装置。一种指纹芯片电性能测试装置,包括:测试系统,上料系统,收料系统;上料系统包括:设有两个送盘输送带的分盘输送装置,若干个设于两个送盘输送带之间且前后排列的料盘定位装置,设有位于第一个料盘定位装置上方的机器视觉系统的指纹芯片标识号识别装置,设有位于最后一个料盘定位装置上方的吸附机构的收料系统;测试系统包括:两个对称设置且位于分盘输送装置一侧外侧的测试装置,设有位于测试装置和其余料盘定位装置上方的吸附装置的取料装置。所述的指纹芯片电性能测试装置能自动上料、转位输送,测试效率较高。
  • 指纹芯片性能测试装置
  • [发明专利]指纹模组标识码扫描装置及扫描方法-CN201711072447.X有效
  • 谢周阳;翁水才 - 杭州长川科技股份有限公司
  • 2017-11-03 - 2020-01-31 - G01R31/01
  • 本发明的目的是提供一种指纹模组标识码扫描装置及扫描方法。一种指纹模组标识码扫描装置,包括:底板,两个输送带,料盘,料盘定位装置,设有位于料盘定位装置上方的扫码装置的扫描机械手;料盘定位装置包括:设于一个输送带外侧且设有与料盘侧端匹配的侧容置凹槽的固定挡边,设于另一个输送带外侧且设有位于料盘下侧的支承板和至少一个侧顶块的侧顶机构,设于固定挡边和侧顶机构之间的入定位压紧机构和设有端挡条的升降式端挡机构,入位检测传感器和定位检测传感器;端挡条后端设有与料盘端边匹配的端容置凹槽。该指纹模组标识码扫描装置记录指纹模组上的标识码效率较高,提高指纹模组测试效率及利于组织指纹模组自动化测试。
  • 指纹模组标识扫描装置方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top