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- [发明专利]一维和二维直方图上的熵-CN202211577134.0在审
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谈侃
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特克特朗尼克公司
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2022-12-09
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2023-06-13
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G01R13/02
- 一维和二维直方图上的熵。一种测试和测量设备,其具有:端口,用于从被测设备(DUT)接收信号;一个或多个模数转换器(ADC),用于将信号数字化以创建一个或多个波形;显示器;以及一个或多个处理器,其被配置成执行代码,所述代码使一个或多个处理器:根据波形生成直方图,所述直方图具有一个或多个维度;以及针对一个或多个维度中的每个维度计算一个或多个熵值。一种方法,包括:在测试和测量设备处接收来自被测设备(DUT)的信号;使用一个或多个模数转换器(ADC)将信号数字化,以产生波形;根据波形生成直方图,所述直方图具有一个或多个维度;以及针对一个或多个维度中的每个维度计算一个或多个熵值。
- 维和二维直方图
- [实用新型]一种固定结构及电流测量装置-CN202223219637.9有效
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白建民;姚锡刚;徐晓鹏;谈侃;周冲冲
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蚌埠希磁科技有限公司
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2022-12-01
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2023-05-30
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G01R1/04
- 本实用新型提供的一种固定结构及电流测量装置,固定结构包括支架本体、第一连接组件和第二连接组件,固定结构适于连接于电流检测件与待检测件之间,第一连接组件与支架本体连接,第一连接组件适于与待检测件上的第一适配部连接,第二连接组件与支架本体连接,第二连接组件适于与电流检测件上的第二适配部连接,以连接电流检测件与待检测件,在对电流检测件进行单次大规模的测试与修调时,先将不装固定结构的待检测件穿过多个电流检测件进行测试与修调,这样安装方便,同时也减小了接触电阻,可实现单次大规模的生产测试与修调,本实用新型能够避免串接的方式会增加接触电阻,进而方便单次大规模的测试与修调。
- 一种固定结构电流测量装置
- [发明专利]具有约束的DFE优化的显式解-CN202210598391.6在审
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谈侃
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特克特朗尼克公司
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2022-05-30
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2022-11-29
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H04L25/03
- 本发明涉及具有约束的DFE优化的显式解和一种均衡通信链路的方法,所述方法包括:按要求设置系数数量;确定波形的脉冲响应数量,其大于系数数量;将值集中的值均设置为零,值集的值数量等于系数数量;重复,直到值集中的值均被赋值,确定给定参数集中当前最低参数,使用其位置作为索引,确定参数集中的第一项乘以主脉冲响应减去参数集中每个参数乘以值集中每个值的总和除以当前最低参数,以及对应脉冲响应之间的最小值,将最小值分配给值集中位置等于当前最低参数位置的值,并且通过将值集中每个值与脉冲响应中对应脉冲响应的符号相乘来确定每个系数值;定义均衡器,每个抽头值基于对应系数;将均衡器应用于通过通信链路接收的波形以产生均衡波形。
- 具有约束dfe优化显式解
- [发明专利]用于测量的基于短模式波形数据库的机器学习-CN202210573302.2在审
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谈侃;J·J·皮克德
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特克特朗尼克公司
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2022-05-23
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2022-11-22
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H04L25/03
- 一种测试和测量系统包括被配置为从被测设备接收信号的测试和测量设备以及一个或多个处理器,该处理器被配置为执行使一个或多个处理器执行以下操作的代码:从所述信号生成波形;对所述波形应用均衡器;接收输入,所述输入识别要对所述波形进行的一个或多个测量;针对已知数据模式选择单位间隔(UI)的数量;针对长度等于UI的数量的已知数据模式扫描所述波形;将所述已知数据模式识别为短模式波形;将机器学习系统应用于所述短模式波形以获得针对所述一个或多个测量的值;以及提供针对所述波形的所述一个或多个测量的值。一种方法包括:从被测设备接收信号;从所述信号生成波形;对所述波形应用均衡器;接收输入,所述输入识别要对所述波形进行的一个或多个测量;选择单位间隔(UI)的数量;扫描所述波形以识别长度等于UI的数量的短模式波形;将机器学习系统应用于所述短模式波形以获得针对所述一个或多个测量的值;和提供来自所述机器学习系统的针对所述波形的所述一个或多个测量的值。
- 用于测量基于模式波形数据库机器学习
- [发明专利]具有时域反射计的真实等效时间示波器-CN202210480191.0在审
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谈侃
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特克特朗尼克公司
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2022-05-05
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2022-11-08
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G01R13/02
- 具有时域反射计的真实等效时间示波器。一种测试和测量设备包括:被配置为连接到被测设备(DUT)的一个或多个端口;被配置为接收源控制信号并产生将被施加到DUT的入射信号的时域反射计(TDR)源;一个或多个模数转换器(ADC),被配置为接收采样时钟并对来自TDR源的入射信号和来自DUT的时域反射(TDR)信号或时域透射(TDT)信号进行采样,以产生入射波形和TDR/TDT波形;一个或多个处理器,被配置为执行代码以使得一个或多个处理器:控制时钟合成器产生采样时钟和源控制信号,并且使用TDR源的周期、采样时钟的周期和采样的数量来确定入射波形和TDR/TDT波形中的采样的时间位置;以及显示器,被配置为显示入射波形和TDR/TDT波形。
- 具有时域反射真实等效时间示波器
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