“裴丽燕”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网_中国专利网

首页在售求购查询申请展会资讯专利榜企服商城升级VIP

立即登录免费注册

在售专利
求购专利
查询专利
新闻资讯
技术展会
招商加盟
专利榜

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

专利名称

专利名称
专利号码
专利分类
申请人
公布日期

农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

专利下载VIP

公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

钻瓜专利网为您找到相关结果5个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种多波长入射单发椭偏测量方法-CN201510830357.7有效
发明人：马靖;许灿华;裴丽燕;邱鑫茂;吕佩伟 -专利权人：福州大学
申请日： 2015-11-25 - 公布日： 2018-09-18 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明涉及一种多波长入射单发椭偏测量方法，首先提供宽光谱激光光源、宽带偏振片、样品、扩束镜、宽带1/4波片、晶体斜劈、宽带检偏器、狭缝、透射光栅、成像屏、面阵相机以及计算机，通过双折射晶体斜劈的偏光干涉将光偏振态的变化转换成一维条纹光斑的移动，采取合理光路设计将多波长入射光对应的条纹分布在另外一个维度上，利用图像技术对光斑内的多组条纹进行定位和处理，在单次测量中即可获得各个波长对应的偏振态信息。本发明的测试方法无机械旋转或光学调制器件，而且测量结果与光强波动无关，可以极大减小系统的测量误差，提高测量的稳定性。本发明的测量速度只受限于相机采集速度，结合高速线阵相机，可以将时间分辨率缩短到毫秒以下。
一种波长入射单发测量方法

[发明专利]一种多角度入射单发椭偏测量方法-CN201510235765.8在审
发明人：马靖;许灿华;裴丽燕;邱鑫茂;施洋 -专利权人：福州大学
申请日： 2015-05-11 - 公布日： 2015-12-23 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明涉及一种多角度入射单发椭偏测量方法，首先提供激光束聚焦柱透镜、样品、准直柱透镜、1/4波片、晶体斜劈、检偏器、成像屏、面阵相机以及计算机，再通过双折射晶体斜劈的偏光干涉将光偏振态的变化转换成一维条纹光斑的移动，其次采取合理光路设计将多角度入射对应的条纹分布在另外一个维度上，最后利用图像技术对光斑内的多组条纹进行定位和处理，在单次测量中即可获得多组偏振态信息。本发明的测试方法无机械旋转或光学调制器件，测量速度只受限于相机采集速度，而且测量结果与光强波动无关，可以极大减小系统的测量误差，提高测量的稳定性。
一种角度入射单发测量方法

[发明专利]一种基于微波片阵列的瞬时遥感偏振成像装置及其实现方法-CN201510234678.0在审
发明人：许灿华;马靖;裴丽燕;邱鑫茂;施洋 -专利权人：福州大学
申请日： 2015-05-11 - 公布日： 2015-08-12 - 主分类号： G01S17/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于微波片阵列的瞬时遥感偏振成像装置及其实现方法，利用微波片阵列对望远镜获取的遥感图像进行偏振调制，再通过单向偏振片转换成二维光强分布。对二维光强进行数据反演可以获得遥感图像的偏振态信息。所用的微波片阵列采用超快激光微加工来制作，在图像各个微小区域引入四种不同的相位调制，结合偏振片转换成光强后可计算出该区域的Stocks矢量，从而获得整个图像的完全偏振态信息。本发明能够进行动态目标遥感测量，实现高时间、空间分辨率的完全偏振态测量。
一种基于微波阵列瞬时遥感偏振成像装置及其实现方法

[发明专利]一种线性的电光晶体半波电压快速测量装置及其方法-CN201510177877.2在审
发明人：许灿华;马靖;裴丽燕;邱鑫茂;施洋 -专利权人：福州大学
申请日： 2015-04-16 - 公布日： 2015-07-15 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：一种线性的电光晶体半波电压快速测量装置及其方法，通过利用偏光干涉原理将外电压下电光晶体引入的相位延迟转换成干涉条纹的移动，并采用高速相机对条纹的移动进行测量，获取相位延迟量。当外加电压使电光晶体引入的相位延迟为180°时，对应的电压即为半波电压。该方法属于线性测量，结果不受光源功率波动影响，测量精度高。相位延迟量的测量时间由高速相机的采集频率决定，可达微秒量级。
一种线性电光晶体电压快速测量装置及其方法

[发明专利]一种高时间分辨率高精度的椭偏测量装置及其方法-CN201510177796.2在审
发明人：马靖;许灿华;裴丽燕;邱鑫茂;施洋 -专利权人：福州大学
申请日： 2015-04-16 - 公布日： 2015-06-24 - 主分类号： G01N21/23 文献下载
摘要：一种高时间分辨高精度的椭偏测量方法，该方法利用偏光干涉原理将样品通光或反射光的偏振态改变转换成干涉条纹的移动，并利用高速相机对条纹的移动进行测量，获取椭偏参数和样品的光学参数。该椭偏测量方法的测量结果不受光源功率波动影响，属于线性测量精度高。时间分辨可达微秒量级，比现有的椭偏测量技术提高3到4个量级。
一种时间分辨率高精度测量装置及其方法

1
共 5 条

友情链接：交换友情链接需要网站权重大于4，网站收录10W以上，如符合条件，请联系QQ：76009968。

关于我们寻求报道投稿须知广告合作版权声明网站地图友情链接企业标识联系我们

在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

版权所有钻瓜科技（天津）有限公司津ICP备15000985号津公网安备 12019202000206号http://www.vipzhuanli.com/公布日期

咨询在线客服

咨询在线客服

tel code back_top