|
钻瓜专利网为您找到相关结果 136个,建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]一种半导体封装结构及封装方法-CN202310381761.5在审
-
艾育林;石海忠;朱锦辉
-
江西万年芯微电子有限公司
-
2023-04-11
-
2023-07-07
-
H01L23/367
- 本发明公开了一种半导体封装结构,包括封装基底和与所述封装基底焊接合片的散热装置;所述封装基底包括封装基板、封装框架和焊接材料,所述散热装置包括与所述封装基底接触的接触面和远离所述封装基底的散热面;所述散热装置的侧边设置有至少一个锁定机构,所述塑封料通过所述锁定机构将所述封装基底与散热装置锁定封装为所述半导体封装结构。本发明基于锁定结构,使塑封料和锁定结构在结合后具有双向锁定散热装置的作用,还能使锁定结构中的塑封料与散热装置上下面的塑封料融合在一起,从而增加塑封料锁定散热装置的面积和体积,实现了提高塑封料与散热装置结合强度的效果,保障了半导体封装结构的产品可靠性。
- 一种半导体封装结构方法
- [发明专利]一种电源芯片的分选方法及系统-CN202310319595.6在审
-
艾育林;林延海
-
深圳市立能威微电子有限公司
-
2023-03-22
-
2023-06-06
-
B07C5/344
- 本发明涉及芯片分选技术领域,提出了一种电源芯片的分选方法及系统,分选方法包括以下步骤:芯片摆正:摆正传送带上的芯片的姿态;芯片装载:捡拾芯片,并将芯片放置在传输盘的凹槽内,直至所有的凹槽填满芯片;进入待测区:将载满芯片的传输盘传送至检测区将空载的传输盘传送至装载区;芯片检测:对芯片进行性能检测,完成空载传输盘的芯片装载工作;芯片筛分;合格芯片靠自重进入成品区内,不合格芯片靠自重进入废品区,不合格芯片在进入废品区前,进行至少一次性能复测,复测中合格的芯片进入成品区;循环工作:以上所有步骤。通过上述技术方案,解决了相关技术中由于车间人手不足而导致库存芯片在发货前性能测试周期长的问题。
- 一种电源芯片分选方法系统
- [发明专利]一种桌面级小型芯片测试分选设备-CN202211049685.X有效
-
艾育林;林延海
-
深圳市立能威微电子有限公司
-
2022-08-30
-
2023-05-26
-
B07C5/02
- 本发明涉及芯片测试技术领域,提出了一种桌面级小型芯片测试分选设备,包括底板、壳体、取料机构、测试组件、分选机构和控制器,底板和壳体形成容纳腔,取料机构和分选机构均设于容纳腔内,取料机构、测试组件和分选机构均电连接控制器,取料机构包括第一推顶件、第一支架、真空吸盘、传动件、送料盘和调姿杆,第一支架设于底板上,第一推顶件设于第一支架上,真空吸盘设于第一推顶件的推顶端,第一推顶件借助传动件推动送料盘往复摆动,送料盘与传动件转动连接,调姿杆设置在底板上,调姿杆在送料盘的摆动中调整送料盘的姿态以实现下料或盛料。通过上述技术方案,解决了现有的芯片测试装置存在造价昂贵和占地面积大的问题。
- 一种桌面小型芯片测试分选设备
|