专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]微结构样品检测设备及其检测方法-CN202310808581.0在审
  • 隆军;赵茂雄;卢国鹏;胡松婷;王婷婷;殷海玮 - 上海复享光学股份有限公司
  • 2023-07-03 - 2023-09-05 - G01N21/01
  • 本发明公开了一种微结构样品检测设备及其检测方法,包括:成像光路,成像光路具有用于放置微结构样品的载物台;扫场电机,用于沿着垂直于微结构样品的方向,对样品进行轴向移动,从而进行光场扫描;长工作距平行光路,用于以反射或透射方式将单束平行照明光投射至微结构样品上,平行光路包括扩束整形镜组、选区光阑和中继镜组,扩束整形镜组具有一入射端和出射端,入射端对准于光源,选区光阑对准于出射端,中继镜组包括同光轴设置的前透镜和后透镜,前透镜对准于选区光阑的光阑孔,后透镜对准于微结构样品,微结构样品的样品面与选区光阑为物像共轭且像方远心。本发明解决了现有的光场扫描检测方法存在检测的样品光学参数信息不准确的问题。
  • 微结构样品检测设备及其方法
  • [发明专利]光谱仪调试方法及辅助装置-CN202211609995.2在审
  • 贺晓龙;王婷婷;雷雨;胡松婷;崔靖;石磊;殷海玮 - 上海复享光学股份有限公司
  • 2022-12-12 - 2023-04-28 - G01J3/28
  • 本发明涉及一种光谱仪调试方法及辅助装置,该调试方法包括步骤:提供分光镜,将该分光镜与待调试光谱仪的主光轴呈一定夹角地设置于待调试光谱仪的入口处;提供光源,利用光源沿主光轴的方向向待调试光谱仪发射入射光,该入射光经分光镜分光后打入待调试光谱仪,并由待调试光谱仪反射回分光镜形成一反射光;提供光谱检测设备,在调试待调试光谱仪的过程中,检测反射光的光谱强度,观察各波段光谱强度变化情况,以光谱强度越强、像面重合度越高为原则针对性调试待调试光谱仪,直至各波段的光谱强度值达到预设标准。本发明调试简单、快速,且调试精确度高,可支持多种入射光源,能够更全面地实现光谱仪的像面重合优化。
  • 光谱仪调试方法辅助装置
  • [发明专利]光栅衍射效率检测系统及其检测方法-CN202211687493.1在审
  • 赵茂雄;卢国鹏;隆军;贺晓龙;胡松婷;石磊;殷海玮 - 上海复享光学股份有限公司
  • 2022-12-27 - 2023-04-28 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种光栅衍射效率检测系统及其检测方法,包括:一承台,承台的上方可转动地安装有样品台;入射组件,包括对准于样品台的光源、设置于光源的出光光路上的光束调制器和设置于光束调制器的出光光路上的偏振调制器;透镜组件,对准于待测微纳光栅及其衍射光束;第一成像透镜,设置于透镜组件的出光光路上;分束器,设置于第一成像透镜的出光光路上;第一光电探测装置,设置于分束器的反射光路上;第二光电探测装置,分束器的透射光路上设置有第二成像透镜,第二光电探测装置设置于第二成像透镜的出光光路上。本发明解决了传统宏观的光栅衍射效率测量方案无法对微纳尺度衍射光栅的微观区域进行衍射效率的检测的问题。
  • 光栅衍射效率检测系统及其方法
  • [发明专利]光谱仪杂散光校正方法-CN202211687176.X在审
  • 贺晓龙;王婷婷;胡松婷;崔靖;殷海玮 - 上海复享光学股份有限公司
  • 2022-12-27 - 2023-03-14 - G01J3/28
  • 发本明涉及一种光谱仪杂散光校正方法,包括步骤:将具有已知强度分布的m个连续光谱射入待校正光谱仪中,利用所述待校正光谱仪测得所述m个连续光谱的实际光谱强度分布,其中,m为大于等于1的自然数;利用压缩感知算法以所述m个实际光谱强度求解所述待校正光谱仪的杂散光矩阵,所述杂散光矩阵的维度为n×n(n为预设的自然数,且m<n)。本发明调试简单、快速,且调试精确度高,可支持多种入射光源,能够更全面地实现光谱仪的像面重合优化。本发明利用远小于杂散光校正矩阵信号维度的有限波段光谱即可快速计算出杂散光校正矩阵,大大减少了测试所需的光谱采样率,降低了设备成本,提高了测量效率,并保证了校正精度。
  • 光谱仪散光校正方法
  • [发明专利]动量空间光学相位测量系统-CN201911017799.4有效
  • 张译文;石磊;资剑;殷海玮;胡松婷 - 上海复享光学股份有限公司
  • 2019-10-24 - 2022-03-11 - G01N21/17
  • 本发明涉及一种动量空间光学相位测量系统,包括:物镜,置于待测样品的后方;第一分束器,置于物镜的后方;两个透镜,以一定间距置于第一分束器的后方;光电探测设备,置于的两个透镜的后方;以及光束发射装置,用于形成光束;其中,光束被分成射向待测样品的第一路光束和射向第一分束器的第二路光束;第一路光束经过待测样品和物镜而进入第一分束器并与第二路光束合束形成汇合光束,汇合光束依次通过的两个透镜并射入光电探测设备。本发明采用光束分成经过样品和不经过样品的两路光束传播,而后在样品的动量空间中重新叠加,进而利用光学探测设备测量叠加信号的强度,从中提取出样品在动量空间中的光学相位响应信息。
  • 动量空间光学相位测量系统
  • [发明专利]动量空间成像系统及其应用-CN201810101383.X有效
  • 资剑;石磊;张译文;殷海玮;胡松婷;崔靖 - 复旦大学;上海复享光学股份有限公司
  • 2018-02-01 - 2021-08-10 - G01N21/17
  • 本发明公开了一种动量空间成像系统及其应用。该动量空间成像系统至少包括下述部件:物镜、光学透镜A、光学透镜B和成像设备,光信号依次通过所述的物镜、所述的光学透镜A、所述的光学透镜B后由所述的成像设备接收。本发明的动量空间成像系统可用于测量和表征微纳光子学材料在动量空间中的光学信息,如带隙性质、能带结构、色散关系等。该系统可以实现显微区域样品的光学测量,最小测量范围可达1微米;还可以实现动量空间的观察测量。动量空间成像系统能够对样品的测量区域进行精确选择,并可进一步用于样品动量空间信息的选择与探测。
  • 动量空间成像系统及其应用
  • [发明专利]动量空间光谱测量系统-CN201810280357.8有效
  • 资剑;胡松婷;石磊;张译文;殷海玮;崔靖 - 上海复享光学股份有限公司
  • 2018-03-30 - 2021-05-07 - G01J3/28
  • 本发明公开了一种动量空间光谱测量系统。该动量空间光谱测量系统至少包括下述部件:物镜、光学透镜La、光学透镜Lb、光谱探测设备,光信号依次通过所述的物镜、所述的光学透镜La、所述的光学透镜Lb后由所述的光谱探测设备接收。本发明的动量空间光谱测量系统可用于测量和表征样品在动量空间中的光学信息,如带隙性质、能带结构、色散关系等。该系统可以实现显微区域样品的光学测量,最小测量空间范围可达1微米;同时实现动量空间与频率空间的高分辨率测量,对应于频率空间的波长分辨率可低于0.05nm。该系统能够对样品的测量的空间区域进行精确选择,并可进一步用于探测样品不同位置的空间相干性信息。
  • 动量空间光谱测量系统
  • [发明专利]微型透镜检测系统及其检测方法-CN202010305955.3有效
  • 赵茂雄;石磊;张译文;陈昂;胡松婷;殷海玮;资剑 - 复旦大学;上海复享光学股份有限公司
  • 2020-04-17 - 2021-03-30 - G01M11/02
  • 本发明涉及一种微型透镜检测系统及其检测方法,包括:单色光源;第一分束器,第一分束器将单色光源的光束分为第一光束和第二光束;对应第一光束依次设置的第一反射镜、第一物镜、第一透镜、第二分束器、第一实像面和第一探测器;以及依次沿第二光束设置的第二物镜、第二透镜和第二反射镜,第二光束经第二反射镜反射入第二分束器中与第一光束合成一束;通过放置样品于第一反射镜与第一物镜之间,使得第一光束经样品后与第二光束发生干涉,且第一探测器获取第一光束与第二光束的干涉条纹。本发明有效地解决了微型透镜尺寸小而造成的检测困难的问题,通过测量样品对入射光的相位调制能力,以评价样品的成像质量和品质,使得检测结果更加真实可靠。
  • 微型透镜检测系统及其方法

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