专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]信号接收器-CN202111633463.8在审
  • 徐浩哲;詹钦栋;林盈成;罗仁鸿 - 联咏科技股份有限公司
  • 2021-12-29 - 2023-04-18 - H03K19/0185
  • 本发明提供一种信号接收器,包含第一晶体管、第二晶体管、负载电路、放大电路以及负载电路。第一晶体管具有接收电源电压的第一端和接收第一输入信号的控制端。第二晶体管具有接收电源电压的第一端和接收第二输入信号的控制端,其中第一输入信号和第二输入信号为差分信号且在第一电压与参考接地电压之间变换,第一电压大于电源电压。负载电路耦接到第一晶体管和第二晶体管。放大电路根据第一晶体管的第二端上的第一信号和第二晶体管的第二端上的第二信号来产生输出信号。
  • 信号接收器
  • [发明专利]混合式传输器-CN202110117358.2有效
  • 罗仁鸿;沈坤叡;林盈成 - 联咏科技股份有限公司
  • 2021-01-28 - 2023-03-28 - H04B3/03
  • 本发明公开了一种混合式传输器及其共模感测电路,所述混合式传输器包括一电流模式驱动器、一电压模式驱动器及一辅助驱动器。该电流模式驱动器用来执行一电流传输。该电压模式驱动器用来执行一电压传输。该辅助驱动器耦接于该电流模式驱动器及该电压模式驱动器,用来与该电流模式驱动器共同运作以提升该电流传输的驱动能力,并与该电压模式驱动器共同运作以提升该电压传输的驱动能力。
  • 混合式传输
  • [发明专利]数据串行化电路-CN201710100392.2有效
  • 林士钧;罗仁鸿;陈慕蓉;林永正 - 联咏科技股份有限公司
  • 2017-02-23 - 2020-12-04 - H03M9/00
  • 数据串行化电路。该数据串行化电路包含延迟电路、数据串行器、第一数据采样器和第二数据采样器。延迟电路接收输入时钟信号且产生多个延迟时钟信号。延迟时钟信号包含由第一延迟级产生的第一延迟时钟信号和由第二延迟级产生的第二延迟时钟信号。数据串行器接收并行数据和延迟时钟信号的最终级延迟时钟信号,且根据最终级延迟时钟信号将并行数据转换为串行数据。其中,第一数据采样器根据第一延迟时钟信号对串行数据采样以产生第一输出串行数据,且第二数据采样器根据第二延迟时钟信号对第一输出串行数据采样以产生第二输出串行数据。
  • 数据串行电路
  • [发明专利]双模式串行传输装置及其模式切换方法-CN201510071799.8有效
  • 罗仁鸿;王艶婷;李祥骥;陈慕蓉 - 联咏科技股份有限公司
  • 2015-02-11 - 2019-03-12 - H03K19/0175
  • 本发明提供一种双模式串行传输装置及其模式切换方法。双模式串行传输装置包括第一、第二电流源、第一、第二反向电路、差分对以及电阻串。第一反向电路接收模式选择信号或第一数据传输信号,第二反向电路接收模式选择信号或第二数据传输信号,差分对的第一及第二负载端分别耦接至第一及第二反向电路,差分对的共同端耦接至第二电流源,差分对的第一及第二差分输入端接收模式选择信号或分别接收第一及第二数据传输信号。电阻串串接于第一反向电路的输出端及第二反向电路的输出端间。本发明可以满足两种操作模式下的数据传输动作,还可以有效降低硬件电路的面积,兼顾电路的功能以及生产成本,有效提升产品的竞争能力。
  • 双模串行传输装置及其模式切换方法
  • [发明专利]测试芯片及其芯片测试系统-CN201110127085.6无效
  • 罗仁鸿 - 联咏科技股份有限公司
  • 2011-05-17 - 2012-11-21 - G01R31/28
  • 一种测试芯片及其芯片测试系统,芯片测试系统包括一待测芯片、一测试芯片以及一测试机台。待测芯片接收一测试输入数据,并据此提供一测试输出数据。测试芯片,藉由测试输入数据,对待测芯片进行一偏离测试、一抖动测试以及一设定及保持时间测试三者至少其中之一,并判断一测试结果是否在一预设范围内。测试机台提供测试输入数据,经由测试芯片将测试输入数据输入至待测芯片。
  • 测试芯片及其系统

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