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[发明专利]测量装置、电子设备以及测量方法-CN201910569995.6有效
发明人： 笠原秀明 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2019-06-27 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：一种测量装置、电子设备以及测量方法，其目的在于解决在对测量对象的表面进行分光测量时，反射光的光量由于测量对象的凹凸而变化，从而测量结果会出现偏差。所述测量装置具备：多个光源，朝向测量对象照射光，并且具有相同的发光光谱；分光测量部，对被所述测量对象反射的光进行分光测量；光源切换部，切换多个所述光源中点亮和熄灭的所述光源的组合；以及运算部，根据在以多个所述组合使多个所述光源点亮和熄灭时，通过所述分光测量部获得的分光测量结果，来计算所述测量对象的分光反射率。
测量装置电子设备以及测量方法

[发明专利]分光滤光器模块、分光相机以及电子机器-CN201911310183.6有效
发明人：佐野朗;笠原秀明 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2019-12-18 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G02F1/21 文献下载
摘要：提供了一种分光滤光器模块、分光相机以及电子机器，可以高速地切换分光波长。该分光滤光器模块具备：分光滤光器，将与输入的驱动电压相应的波长的光从入射光进行分光并输出；驱动部，基于输入的波长指令值输出所述驱动电压；以及驱动控制部，输出所述波长指令值，并且每次被从外部输入触发信号时变更所述波长指令值。
分光滤光模块相机以及电子机器

[发明专利]波长可变滤光器、波长可变滤光器的控制方法及记录介质-CN202111551239.4在审
发明人： 笠原秀明;廣久保望 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2021-12-17 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G02B26/00 文献下载
摘要：本发明提供一种在波长可变滤光器中使变更透过光的波长的控制稳定的波长可变滤光器及其控制方法以及记录介质。本发明对具备对置的两个反射膜、和改变它们的相对位置的致动器部的波长可变滤光器进行控制。致动器部具备根据两个反射膜之间的目标距离而被驱动的第一致动器、和根据目标距离与两个反射膜的距离的检测值而被反馈控制的第二致动器。控制方法具备：(a)接收两个反射膜间的新的目标距离的工序；(b)根据新的目标距离来驱动第一致动器的工序；(c)根据新的目标距离和两个反射膜的距离的检测值来反馈控制第二致动器的工序。在被预先规定的条件被满足的情况下，在工序(b)开始后、且经过了被预先规定的阈值时间后，开始工序(c)。
波长可变滤光控制方法记录介质

[发明专利]阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法-CN201711181163.4有效
发明人： 笠原秀明 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2017-11-23 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： H04N5/217 文献下载
摘要：本发明涉及阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法。阴影校正装置具备：基准取得部，取得测色基准物的拍摄图像的基准像素值W；对象像素值取得部，取得测量对象的拍摄图像的像素值S；移位值取得部，取得基于基准像素值W的移位值k2；查找表，存储有对应Wk2的变量G2(＝2k1/Wk2)；以及算出部，从查找表中读出与基准像素值W及移位值k2对应的变量G2，并根据下述式(1)计算测量对象的拍摄图像的各像素的阴影校正值Rdec：Rdec＝(F·G2)＞＞(k1+k2)+B…(1)其中，F＝S·(A‑B)+{W＞＞1}A、B及k1是整数常数。
阴影校正装置电子设备方法