专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]支承玻璃基板-CN201980098843.0在审
  • 稻叶诚二;斋藤康成;玉井喜芳;小野和孝;小林悠波 - AGC株式会社
  • 2019-07-29 - 2022-03-22 - C03C3/091
  • 本发明的支承玻璃基板实现挠曲的抑制和轻量化。支承玻璃基板(10)的杨氏模量(GPa)相对于密度(g/cm3)的比率为32.0(GPa·cm3/g)以上,且是大于比率算出值的值,该比率算出值是根据组成而算出的杨氏模量(GPa)相对于密度(g/cm3)的比率。比率算出值由下式表示:α=2·Σ{(Vi·Gi)/Mi)·Xi}。这里,Vi为支承玻璃基板(10)所含的金属氧化物的填充参数,Gi为支承玻璃基板10所含的金属氧化物的解离能,Mi为支承玻璃基板(10)中所含的金属氧化物的分子量,Xi为支承玻璃基板10中所含的金属氧化物的摩尔比。
  • 支承玻璃
  • [发明专利]支承玻璃基板-CN202080054588.2在审
  • 长野干雄;稻叶诚二;斋藤泰成;玉井喜芳;小野和孝;小林悠波 - AGC株式会社
  • 2020-06-05 - 2022-03-18 - C03C3/068
  • 本发明实现了挠曲的抑制与轻量化。支承玻璃基板(10)的杨氏模量(GPa)相对于密度(g/cm3)的比率为37.0(GPa·cm3/g)以上,且是大于比率算出值的值,该比率算出值是根据组成而算出的杨氏模量(GPa)相对于密度(g/cm3)的比率。比率算出值由下式表示。α=2·Σ{(Vi·Gi)/Mi)·Xi}。这里,Vi为支承玻璃基板10中所含的金属氧化物的填充参数,Gi为支承玻璃基板(10)中所含的金属氧化物的解离能,Mi为支承玻璃基板(10)中所含的金属氧化物的分子量,Xi为支承玻璃基板10中所含的金属氧化物的摩尔比。
  • 支承玻璃
  • [发明专利]玻璃-CN201980015021.1有效
  • 稻叶诚二;小野和孝 - AGC株式会社
  • 2019-07-23 - 2021-12-28 - C03C3/068
  • 本发明提供一种高杨氏模量且高失透粘度的玻璃板。玻璃以氧化物基准的摩尔%表示,含有SiO2:30.0~50.0%、B2O3:10.0~30.0%、Al2O3:10.0~30.0%、Y2O3:3.0~17.0%、Gd2O3:3.5~17.0%、(Gd2O3+Y2O3):16.0~22.0%,且(Gd2O3/Y2O3)为0.15~7.0。
  • 玻璃
  • [发明专利]测距装置的测量值修正方法和测距装置-CN202011245158.7在审
  • 稻叶诚二;伊藤克美 - 日立乐金光科技株式会社
  • 2020-11-10 - 2021-09-17 - G01S17/10
  • 本发明提供测量值修正方法和测距装置,能减少作业者为修正测距装置的测量值进行的准备工作,并能自动生成修正式。在准备步骤中,预先在远离测距装置(1)的方向上在测量空间的地板表面(4)粘贴有由回归反射部件制成的反射带(5)的状态下,在沿反射带(5)扫描测量位置(Y)的同时,由测距装置(1)测量与反射带的内侧区域(51a)的距离(La)和与相邻于该区域的反射带的外侧区域(51b)的距离(Lb)。基于在各测量位置(Y)获得的距离(La)与距离(Lb)的关系,生成用于将距离(Lb)变换为距离(La)的修正式。在实测步骤中,用所述修正式修正由测距装置(1)测量出的其与对象物(3)的距离(实测值x),计算测量距离的修正值(y)。
  • 测距装置测量修正方法
  • [发明专利]测量距离的修正方法、测距装置和测距系统-CN202011171357.8在审
  • 伊藤克美;稻叶诚二 - 日立乐金光科技株式会社
  • 2020-10-28 - 2021-07-27 - G01S17/10
  • 本发明提供一种测量距离的修正方法、测距装置和测距系统,在使用TOF法的测距装置中,能够更简单地进行因多路径现象而产生的距离误差的修正处理,并与测量距离的大小相应地适当地修正。作为准备步骤,配置测量样本使其与测距装置(1)的距离为设定值(L1),由测距装置(1)测量与测量样本(3’)的距离而获得测量值(L2)。改变设定值(L1)并获取与多种设定值(L1)对应的测量值(L2),基于获取的设定值(L1)与测量值(L2)的关系,生成用于将测量值(L2)变换为设定值(L1)用的修正式(16)。作为实测步骤,用所述修正式(16)对由测距装置(1)测量出的与对象物(3)的距离(实测值x)进行修正,计算测量距离的修正值(y)。
  • 测量距离修正方法测距装置系统

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