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[实用新型]一种小型化多通道密封光纤分支器-CN201420303093.0有效
发明人：龚勇;郭正伟;苏敬奎;钱媛媛;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2014-06-10 - 公布日： 2015-02-18 - 主分类号： G02B6/44 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光纤分支器，可以在有限空间内将带有气密性结构的带状光纤中多根光纤之间分离并各自穿入光纤保护套管，通过不增大光纤传输损耗的最小弯曲半径来计算得到光纤从初始分开处到最终被固定在保护套管之间的最短距离，取消了现有光纤分支器的分束盒，适用于多通道光纤传输及光信息处理模块内部与外部之间光路连接。本实用新型的使用能够克服现有技术方法来连接光路所遇到的成本高、体积大、光路长、操作麻烦和工艺问题点多等缺点，具有成本低、体积小、方法简单等优点。
一种小型化通道密封光纤分支

[发明专利]一种小型化多通道密封光纤分支器-CN201410251972.8在审
发明人：龚勇;郭正伟;苏敬奎;钱媛媛;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2014-06-10 - 公布日： 2014-08-20 - 主分类号： G02B6/44 文献下载
摘要：本发明公开了一种光纤分支器，可以在有限空间内将带有气密性结构的带状光纤中多根光纤之间分离并各自穿入光纤保护套管，通过不增大光纤传输损耗的最小弯曲半径来计算得到光纤从初始分开处到最终被固定在保护套管之间的最短距离，取消了现有光纤分支器的分束盒，适用于多通道光纤传输及光信息处理模块内部与外部之间光路连接。本发明的使用能够克服现有技术方法来连接光路所遇到的成本高、体积大、光路长、操作麻烦和工艺问题点多等缺点，具有成本低、体积小、方法简单等优点。
一种小型化通道密封光纤分支

[实用新型]基于Ⅵ数据采集设备的分析测试系统-CN201220628186.1有效
发明人：赵利刚;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-11-26 - 公布日： 2013-10-30 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种数据采集和分析测试系统，尤其是指一种基于VI数据采集设备的分析测试系统，本实用新型通过光矢量分析仪测量光无源器件的IL和PDL，然后将数据结果通过NI数据采集卡进行采集，数据分析电脑经由NI数据采集卡完成对光学矢量分析仪的控制，并将测试结果自动采集，实现测试源数据的自动保存和显示，该实用新型的使用能够替代传统方法，移动设备存储和运用Excel等软件的所做的图形显示，可以极大地提高数据采集等工作的效率和准确率，能够广泛应用于各类光通信企业的数据采集领域上的数据采集和存储。
基于数据采集设备分析测试系统

[实用新型]多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统-CN201220723579.0有效
发明人：赵利刚;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-12-25 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可以准确地测试出多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统，通过每个通道的电压-插损曲线拟合得出每个通道的固定衰减下的准确电压，具有成本低、测试方法简单，适用于大型企业对多通道电控双折射液晶衰减波纹的测试。本实用新型的使用能够克服传统方法测试多通道电控双折射液晶衰减波纹测试速度慢、测试精度低和无法实现自动化等缺点，具备测试速度较快、测试精度高和测试范围广等优点。
通道双折射液晶衰减波纹测试系统

[实用新型]基于多温度点多模块存储测试系统-CN201220723592.6有效
发明人：赵利刚;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-12-25 - 公布日： 2013-06-12 - 主分类号： G01D21/00 文献下载
摘要：本实用新型是一种基于多温度点多模块存储测试系统。通过一套测试系统与多台高低温试验箱的连接，可以减少测试系统的测试闲置时间，可以减少测试系统的搭建成本。本实用新型可广泛适用于大型企业的多温度点测试，尤其是硬件设备比较昂贵的多温度点通信测试领域，本实用新型的使用能够克服传统方法一套测试系统中待测产品升、降温过程中的测试闲置时间浪费，具有方法简单、速度较快，并且具备较好的可靠性。
基于温度模块存储测试系统

[发明专利]多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统-CN201210569823.7有效
发明人：赵利刚;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-12-25 - 公布日： 2013-04-24 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种可以准确地测试出多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统，通过每个通道的电压-插损曲线拟合得出每个通道的固定衰减下的准确电压，具有成本低、测试方法简单，适用于大型企业对多通道电控双折射液晶衰减波纹的测试。本发明的使用能够克服传统方法测试多通道电控双折射液晶衰减波纹测试速度慢、测试精度低和无法实现自动化等缺点，具备测试速度较快、测试精度高和测试范围广等优点。
通道双折射液晶衰减波纹测试系统

[发明专利]基于VI数据采集设备的分析测试系统-CN201210483157.5无效
发明人：赵利刚;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-11-26 - 公布日： 2013-04-03 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本发明涉及一种数据采集和分析测试系统，尤其是指一种基于VI数据采集设备的分析测试系统，本发明通过对光矢量分析仪测量光无源器件的IL和PDL，然后将数据结果通过NI数据采集卡进行自动采集，并通过数据分析电脑中Labview编写的程序做测试结果的自动分析和显示，实现测试源数据和数据分析结果的自动保存，该发明的使用能够替代传统方法，移动设备存储和运用Excel等软件的所做的大量统计工作，可以极大地提高数据采集和数据分析工作的效率和准确率，能够广泛应用于各类光通信企业的数据采集领域上的数据分析和存储。
基于 vi 数据采集设备分析测试系统

[实用新型]一种平面反射镜反射率检测系统-CN201220059310.7有效
发明人：高尚武;刘宏欣;陈志超;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-02-23 - 公布日： 2013-03-13 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型揭示了一种平面反射镜反射率检测系统，其特征在于：包括可调谐激光器、光纤准直器、六维调整架、旋转台、待测光学元件的夹具以及光功率计，其中所述的光纤准直器固定在六维调整架上，通过调整六维调整架的旋钮来调整光纤准直器的状态。该系统能够在特定的入射角下检测不同波长的反射效率以及在特定的波长下检测不同入射角的反射率的系统，具有成本较低、测试方法简单、测试速度较快等优点，适用于要求检测平面反射镜反射率的各个领域，尤其是适用于大型企业对批量平面反射镜反射率的检测。
一种平面反射反射率检测系统

[实用新型]基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统-CN201220119089.X有效
发明人：阚仁根;陈志超;刘宏欣;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-03-27 - 公布日： 2013-03-13 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种多针连接器的电气性能测试系统，尤其是指一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统。本实用新型快速方便精确的对多针连接器的电气性能进行测试，操作简单方便，灵活性强可以任意配置测试针的数量，多用性强可以任意配置多针间短开路状况，而且使用环境要求低、应用广泛在需要测试连接器的领域都可以使用，尤其适用于大型企业对批量多针连接器电学性能的测试。
基于 ni 数据采集设备连接器电气性能测试系统

[实用新型]一种闪耀光栅沟槽微结构变异的测试系统-CN201220152170.8有效
发明人：邹建兵;刘宏欣;陈志超;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-04-12 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可以准确地测试出闪耀光栅每个区域的沟槽微结构变异情况的闪耀光栅沟槽微结构变异的测试系统。本实用新型从光源模块发出的多波长宽光源以特定的入射角射入闪耀光栅，经闪耀光栅衍射后的光通过一个梳妆滤波器，梳妆滤波器滤出的波长再经由光谱仪接收，最后通过由Labview编写的程序对光谱仪接收到的波形进行数据分析来判断闪耀光栅的沟槽微结构变异情况。本实用新型的使用能够克服传统方法测试闪耀光栅沟槽微结构变异使用SEM、LSCM等昂贵的测试设备，测试范围小、测试速度慢和无法实现自动化等缺点，成本低、速度快，适用于大型企业和科研机构对闪耀光栅的沟槽微结构变异情况进行测试。
一种闪耀光栅沟槽微结构变异测试系统

[实用新型]光谱仪多波长校准系统-CN201220121313.9有效
发明人：陈志超;刘宏欣;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-03-28 - 公布日： 2013-01-16 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本实用新型揭示了新型光谱仪校准系统。包括校准程序、宽谱光源，Gas Cell或者Comb Filter，以及元件中相互连接的光纤。其中所述的宽谱光源发出的宽谱光通过多波长标定元件，在光谱上形成特定的峰谷分布，用于计算光谱仪测试的偏差值，从而校准光谱仪。具有成本低、校准方法简单、校准速度较快以及校准精度高等优点，适用于大型企业对生产线上批量光谱仪器设备的校准。该实用新型的使用能够克服现有汞灯特征谱线或者激光器校准方法只能校准一到二个波长位置的偏差，或者校准波长的整体平移，对于每个波长点偏差不一致的光谱仪校准效果很差的缺点，大幅度提高通信、仪器等产业测试和校准光谱仪的速度。
光谱仪波长校准系统

[发明专利]一种闪耀光栅沟槽微结构变异的测试系统-CN201210105737.0无效
发明人：邹建兵;刘宏欣;陈志超;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-04-12 - 公布日： 2012-08-15 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种可以准确地测试出闪耀光栅每个区域的沟槽微结构变异情况的闪耀光栅沟槽微结构变异的测试系统。本发明从光源模块发出的多波长宽光源以特定的入射角射入闪耀光栅，经闪耀光栅衍射后的光通过一个梳妆滤波器，梳妆滤波器滤出的波长再经由光谱仪接收，最后通过由Labview编写的程序对光谱仪接收到的波形进行数据分析来判断闪耀光栅的沟槽微结构变异情况。本发明的使用能够克服传统方法测试闪耀光栅沟槽微结构变异使用SEM、LSCM等昂贵的测试设备，测试范围小、测试速度慢和无法实现自动化等缺点，成本低、速度快，适用于大型企业和科研机构对闪耀光栅的沟槽微结构变异情况进行测试。
一种闪耀光栅沟槽微结构变异测试系统

[发明专利]一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统-CN201210083524.2无效
发明人：阚仁根;陈志超;刘宏欣;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-03-27 - 公布日： 2012-08-01 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种多针连接器的电气性能测试系统，尤其是指一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统。本发明快速方便精确的对多针连接器的电气性能进行测试测试，操作简单方便，灵活性强可以任意配置测试针的数量，多用性强可以任意配置多针间短开路状况，而且使用环境要求低、应用广泛在需要测试连接器的领域都可以使用，尤其适用于大型企业对批量多针连接器电学性能的测试。
一种基于 ni 数据采集设备连接器电气性能测试系统

[发明专利]一种平面反射镜反射率检测系统-CN201210041307.7无效
发明人：高尚武;刘宏欣;陈志超;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-02-23 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明揭示了一种对平面反射镜能够在特定的入射角下检测不同波长的反射效率以及在特定的波长下检测不同入射角的反射率的系统，具有成本较低、测试方法简单、测试速度较快等优点，适用于要求检测平面反射镜反射率的各个领域，尤其是适用于大型企业对批量平面反射镜反射率的检测。本发明的使用能够克服现有检测方法中不能测量连续光谱范围的光学元件反射率的缺陷，具有在特定的入射角下检测不同波长的反射效率以及在特定的波长下检测不同入射角的反射率两种检测方式，能够大幅度提高通信、仪器等产业测试平面反射镜反射率的速度，对产品的质量、可靠性及寿命也有很大的影响。
一种平面反射反射率检测系统

[发明专利]一种高精度光谱仪多波长校准系统-CN201210085078.9无效
发明人：陈志超;刘宏欣;刘华;袁海骥 -专利权人： 科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-03-28 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明揭示了一种采用多波长标定元件的光谱吸收位置作为参考，对光谱仪进行多个波长校准的系统，具有成本低、校准方法简单、校准速度较快以及校准精度高等优点，适用于大型企业对生产线上批量光谱仪器设备的校准。该发明的使用能够克服现有汞灯特征谱线或者激光器校准方法只能校准一到二个波长位置的偏差，或者校准波长的整体平移，对于每个波长点偏差不一致的光谱仪校准效果很差的缺点，大幅度提高通信、仪器等产业测试和校准光谱仪的速度，对依靠光谱仪生产的产品质量及可靠性也有很大的影响。
一种高精度光谱仪波长校准系统

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