专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]加工方法和物品-CN202011264468.3在审
  • 洪荣杓;山本明;酒井田康宏;室田真弘;岩立龙 - 发那科株式会社
  • 2020-11-12 - 2021-05-18 - B23Q1/01
  • 本发明的加工方法包括:将具有由包含金属的材料构成的被加工面(29)的工件(26)设置到精密加工机(10)的步骤(S1);通过使用精密加工机具备的工具(30)在被加工面的预定区域(56)内以相同的间距(d)形成多个剖面为V字形的槽(54),由此在预定区域内形成由多个槽构成的V形槽图案(58)的形成步骤(S2~S5),其中,在形成步骤中,在每次形成槽时,使工具与工件的相对位置向与槽的长度方向交叉的方向移动,并且在每次形成槽时,使槽的面的角度(θ)逐渐变化,使得在从预定视点(60)观察预定区域时,能够在预定区域内的各位置处辨认均匀的颜色。
  • 加工方法物品
  • [发明专利]电磁阻抗测量装置和电磁阻抗校正方法-CN201680089734.9有效
  • 洪荣杓;具泫志;姜老远;李东俊 - 韩国标准科学研究院
  • 2016-10-27 - 2021-03-16 - G01R27/28
  • 本发明涉及一种电磁阻抗测量装置。电磁阻抗测量装置包括:网络分析器,其包括第一端口和第二端口并用于根据频率来测量散射参数;和多层基板,其通过同轴电缆分别连接到第一端口和第二端口,包括用于连接导电层的过孔,并且包括至少具有最上层、最下层和中间层的三个以上的导电层。多层基板包括:布置在最上层和最下层之间的测试样品;布置在最上层和最下层之间的直通校正样品;布置在最上层和最下层之间的反射校正样品;以及布置在最上层和最下层之间的线校正样品。测试样品、直通校正样品、反射校正样品和线校正样品分别通过第一误差框和第二误差框连接,第一误差框和第二误差框包括具有相同结构的过孔。
  • 电磁阻抗测量装置校正方法
  • [发明专利]机床和机床的控制方法-CN202010533019.8在审
  • 清水友己;洪荣杓 - 发那科株式会社
  • 2020-06-12 - 2020-12-15 - G05B19/19
  • 通过切削工具进行工件的切削加工的机床(10)具备:加工前形状获取部(14),其获取切削加工前的上述工件的形状作为加工前形状;目标形状获取部(18),其获取切削加工后的工件的目标形状;差分形状获取部(20),其获取加工前形状与目标形状之间的差分形状;加工路径设定部(26),其设定加工路径使得只对差分形状进行上述切削加工。
  • 机床控制方法
  • [外观设计]车床-CN201930524397.8有效
  • 大木武;洪荣杓;见波弘志;稻叶治虎 - 发那科株式会社
  • 2019-09-24 - 2020-03-17 - 15-09
  • 1.本外观设计产品的名称:车床。2.本外观设计产品的用途:本产品为一种超精密车床,例如在光电子、半导体、生物医疗等领域,对需要纳米级精度的高科技设备零件进行车削加工。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图1。
  • 车床
  • [发明专利]透镜形状加工方法以及透镜形状加工装置-CN201310075583.X有效
  • 洪荣杓 - 发那科株式会社
  • 2013-03-11 - 2013-09-18 - B23Q15/04
  • 本发明提供一种沿螺旋状测量路径进行测量的透镜形状加工方法以及透镜形状加工装置。沿螺旋状测量路径形状测量沿螺旋状加工路径加工成的透镜形状,获取形状测量数据。插补该形状测量数据,获取通过透镜形状的中心的放射线与螺旋状测量路径的交点处的插补形状测量数据,根据该插补形状测量数据,通过插补计算出用于去除上述各交点(加工点)处的加工误差的修正加工量。并且,根据该计算出的修正加工量,计算出螺旋状加工路径上的各加工点处的加工点修正加工量,基于该加工点修正加工量生成修正加工路径。
  • 透镜形状加工方法以及装置
  • [发明专利]具有机上测量装置的机床-CN201210560770.2有效
  • 洪荣杓 - 发那科株式会社
  • 2012-12-21 - 2013-06-26 - G05B19/18
  • 本发明提供一种具有机上测量装置的机床,其不需操作者的介入而通过数值控制装置自动地进行包含超精密加工、清洗、机上的测量作业的种种的作业。因此,预先把机床的驱动轴的运转区域划分为加工区域、清洗区域、测量区域,通过数值控制装置经常监视驱动轴的位置,在驱动轴进入各区域时,自动开始分配给各区域的作业,在从该区域离开之前继续进行该作业。
  • 有机测量装置机床
  • [发明专利]接触式计测装置-CN200910007314.3有效
  • 洪荣杓;蛯原建三;山本明;羽村雅之 - 发那科株式会社
  • 2009-02-11 - 2009-09-16 - G01B7/28
  • 本发明涉及接触式计测装置。本发明是利用压缩空气的力和永久磁铁与磁性体的吸力来进行探针的接触力调整的接触式计测装置。该计测装置控制探针主体内的流体压力并对探针施加拉力或推压力,另外,在安装在探针主体上装有的测微计的可动部前端的永久磁铁与安装在与接触头相反一侧的端部的板状部件之间产生与这些永久磁铁与板状部件之间的距离相应的吸力。
  • 接触式计测装置
  • [发明专利]具有通过接触检测来校正安装误差的功能的机床-CN200810144718.2无效
  • 洪荣杓;蛯原建三;河合知彦 - 发那科株式会社
  • 2008-07-30 - 2009-02-04 - B23Q17/00
  • 本发明涉及一种具有通过接触检测来校正安装误差的功能的机床,该机床能基于来自机床固有的位置检测器的检测结果来自动地校正工件或加工附件的方位。该机床包括:位置检测器;位置偏差确定装置;接触检测装置,基于位置偏差检测探针与工件或加工附件的表面之间的接触;坐标值检测装置;倾斜度确定装置;以及校正装置。倾斜度确定装置移动线性轴,从而执行对探针与工件或加工附件的表面上的至少两个不同点的接触的检测,并使用所获得的坐标值确定工件或加工附件的倾斜度。校正装置基于确定的倾斜度校正工件或加工附件的安装误差,或校正加工程序。
  • 具有通过接触检测校正安装误差功能机床

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