专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体元件及绝缘层形成用组成物-CN201580016286.5有效
  • 永田裕三;泷泽裕雄;土村智孝;鹤田拓也 - 富士胶片株式会社
  • 2015-03-23 - 2019-07-30 - H01L21/312
  • 本发明提供一种半导体元件及绝缘层形成用组成物,所述半导体元件具有半导体层、及与该半导体层相邻的绝缘层,在所述半导体元件中,所述绝缘层由高分子化合物的交联物形成,该高分子化合物具有以下述通式(IA)表示的重复单元(IA)和以下述通式(IB)表示的重复单元(IB)。通式(IA)中,R1a表示氢原子、卤原子或烷基。L1a及L2a分别独立地表示单键或连结基。X表示交联性基。m2a表示1~5的整数,当m2a为2以上时,m2a个X可以彼此相同也可以互不相同。m1a表示1~5的整数,当m1a为2以上时,m1a个(‑L2a‑(X)m2a)可以彼此相同也可以互不相同。通式(IB)中,R1b表示氢原子、卤原子或烷基。L1b表示单键或连结基,Ar1b表示芳香族环。m1b表示1~5的整数。
  • 半导体元件绝缘形成组成
  • [发明专利]有机薄膜晶体管及其制造方法-CN201580011661.7有效
  • 泷泽裕雄;新居辉树;米久田康智;平野修史 - 富士胶片株式会社
  • 2015-02-26 - 2019-04-26 - H01L29/786
  • 本发明提供一种有机薄膜晶体管及有机薄膜晶体管的制造方法。本发明的有机薄膜晶体管在基板上具有栅极电极、有机半导体层、栅极绝缘层、源极电极及漏极电极,有机半导体层包含有机半导体及树脂(C),所述树脂(C)具有选自由含氟原子的基团、含硅原子的基团、碳原子数1以上且在形成烷氧基羰基的情况下为碳原子数2以上的烷基、环烷基、芳烷基、芳氧基羰基、经至少一个烷基取代的芳香环基及经至少一个环烷基取代的芳香环基构成的组中的一个以上的基团;所述有机薄膜晶体管的制造方法中,涂布含有有机半导体及树脂(C)的涂布液而使树脂(C)偏向存在。
  • 有机薄膜晶体管及其制造方法
  • [发明专利]薄膜晶体管-CN201580009803.6有效
  • 泷泽裕雄 - 富士胶片株式会社
  • 2015-02-26 - 2019-02-15 - H01L29/786
  • 本发明涉及一种薄膜晶体管,其在基板上具有:栅极电极;半导体层;栅极绝缘层,设置于该栅极电极与该半导体层之间,且由有机高分子化合物形成;及源极电极及漏极电极,设置成与该半导体层接触,并经由该半导体层而连结,在所述栅极绝缘层中,选自Mg、Ca、Ba、Al、Sn、Pb、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn及Ag的金属的含量在总量中为10ppb~1ppm,或者选自卤素离子、硫酸根离子、硝酸根离子及磷酸根离子的非金属离子物质的含量在总量中为1ppm~100ppm。
  • 薄膜晶体管
  • [发明专利]双光子吸收记录介质、双光子吸收记录/再现方法和双光子吸收记录/再现设备-CN200680034851.1有效
  • 秋叶雅温;泷泽裕雄 - 富士胶片株式会社
  • 2006-07-13 - 2008-09-17 - G11B7/244
  • 本发明提供的是一种允许记录并且再现大容量信息的双光子吸收记录介质,使用其的双光子吸收记录/再现方法和双光子吸收记录/再现设备。通过同时双光子吸收记录信息的所述双光子吸收记录介质是包含交替的层压体结构的介质,所述层压体结构包含:记录材料的薄膜记录层,其中通过由作为记录光辐照的光诱导的双光子吸收产生其吸收或发射光谱的变化;和薄膜非记录层,其中形成所述记录层的记录材料含有下列材料各至少一种:(1)双光子吸收着色剂;和(2)其中在通过所述双光子吸收着色剂的激发态导致的光化学反应中产生其吸收或发射光谱的变化的材料,所述双光子吸收着色剂的激发态是通过所述双光子吸收着色剂的双光子吸收产生的。
  • 光子吸收记录介质再现方法设备

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