专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]场效应管及其制备方法-CN201811445475.6有效
  • 郑小平;叶振强;孙振源;欧湛;李志杰;刘佳明;李佳 - 清华大学
  • 2018-11-29 - 2021-03-26 - H01L29/772
  • 本发明涉及一种场效应管,包括衬底、石墨烯层以及栅介质层。衬底包括六方氮化硼层。石墨烯层包括相对的第一表面和第二表面。第一表面与六方氮化硼层接触。第二表面包括氢化区。栅介质层覆盖于氢化区。场效应管通过设置六方氮化硼层作为石墨烯层的衬底,可以改善衬底与石墨烯层的接触。因为六方氮化硼与石墨烯的单层结构相似,两者的晶格匹配度高,且六方氮化硼层的表面光滑平整无陷阱。六方氮化硼层可以有效降低石墨烯层与衬底的接触不佳对载流子迁移率的负面影响,有利于增加石墨烯层的载流子迁移率,从而增加截止频率。同时,石墨烯层通过氢化区与栅介质层接触可以进一步减少栅介质层因为接触不佳对载流子迁移率的负面影响。
  • 场效应及其制备方法
  • [发明专利]化学反应观测系统及方法-CN202010474552.1在审
  • 郑小平;李佳;邓晓娇;耿华;李志杰;吕文;欧湛;张德鉴;刘佳明 - 清华大学
  • 2020-05-29 - 2020-09-18 - G01N21/3581
  • 本申请涉及一种化学反应观测系统和方法。该化学反应观测系统产生太赫兹信号,并将太赫兹信号通过反应腔后,生成携带有太赫兹信号、反应物信息、中间物信息和产物信息的混合光谱信号,通过太赫兹信号提取混合光谱信号中的物质光谱信息,再对物质光谱信息进行定性分析和定量分析,从而获取反应物、中间物和产物的成分和含量;上述化学反应观测系统可以避免将化学反应过程中的气体产物转移至分析仪进行分析,采用太赫兹光谱技术直接分析实时在线化学反应过程的观测结果,实现化学反应的气相化学反应过程的观测,从而提高检测分析结果的准确度。
  • 化学反应观测系统方法
  • [发明专利]共焦太赫兹雷达成像系统-CN202010338292.5在审
  • 郑小平;欧湛;耿华;邓晓娇 - 清华大学
  • 2020-04-26 - 2020-08-14 - G01S17/89
  • 本申请涉及一种共焦太赫兹雷达成像系统,包括信号发生装置、太赫兹发射器、分光元件、聚焦装置、信号接收器、数据处理与成像模块以及第一载物台。本申请利用聚焦装置将太赫兹发射器发射的太赫兹波束聚焦到遮挡物的表面,并通过信号发生装置和数据处理与成像模块配合使用,使得每一次扫描过程中,在时域上去除所述遮挡物的像,并将所述响应信号在时域上移动至所述遮挡物处,进而纠正散射引起的随机相位调制。并且,本申请利用第一载物台实现对待成像样品的全扫描。本申请通过聚焦装置使波束聚焦到共焦点上,则仅会引入该共焦点处的一个相对较小的相差。之后,通过时域上的延迟操作,该相差可以轻易去除,进而在有遮挡物时提高成像质量。
  • 共焦太赫兹雷达成像系统
  • [发明专利]太赫兹开关及压力标定装置-CN201811532501.9有效
  • 郑小平;张珊;邓晓娇;耿华;欧湛;李志杰;李佳 - 清华大学
  • 2018-12-14 - 2020-07-14 - H01P1/10
  • 本申请涉及一种太赫兹开关及压力标定装置。所述装置包括:太赫兹波接收端,用于接收太赫兹波;太赫兹波输出端,用于输出太赫兹波;核心材料层,所述核心材料层设置于所述太赫兹波接收端与所述太赫兹波输出端之间,所述核心材料层包括狄拉克半金属层,用于控制所述太赫兹波的输出;以及压力装置,用于向所述核心材料层施加压力,以使所述核心材料层控制所述太赫兹波在所述太赫兹波接收端与太赫兹波输出端之间的通断。所述太赫兹开关装置能够根据接受到的压力快速响应系统对太赫兹波通断的要求。
  • 赫兹开关压力标定装置
  • [发明专利]太赫兹漏波天线测量系统-CN201810965187.7有效
  • 郑小平;张德鉴;刘佳明;白胜闯;韩侠辉;欧湛;李志杰;李佳 - 清华大学
  • 2018-08-23 - 2020-03-31 - G01R29/10
  • 本申请提供一种太赫兹漏波天线测量系统,在沟槽内放置探针天线,并在沟槽内移动探针天线,可以采集移动过程中的探针天线所处位置的振幅与相位分布信息,实现了馈源天线与辐射腔体的分离。根据互易定理外推,实现了天线远场测试。太赫兹漏波天线测量系统相比于直接改变所述发射装置中馈源天线的位置,大幅减少了对原本天线结构的破坏程度,提高了测试精度。同时简单易行,可以给馈源安装、调整提供综合的参考。在完成太赫兹漏波天线测量系统一体化测试的同时,通过探针天线的移动寻找远场增益最大处,以确定实际相位中心位置,有效解决了二维漏波天线中馈源实际相位中心修正问题。
  • 赫兹天线测量系统
  • [发明专利]太赫兹ISAR成像方法及系统-CN201711009824.5有效
  • 郑小平;欧湛;邓晓娇 - 清华大学
  • 2017-10-25 - 2020-03-31 - G01S13/90
  • 一种太赫兹ISAR成像方法,包括向预设速度运动的成像目标发射线性调频信号,以及对太赫兹ISAR回波信号进行快时间域内的匹配滤波、慢时间域内的基带变换、消除快时间域零点偏移、基带变换、离散化并插值、二维傅里叶逆变换等处理,进而获得该成像目标的二维图像。该方法既满足了安检中对藏匿危险品的成像精度要求,又满足了快速安检成像的实时性要求。本发明同时还提供一种太赫兹ISAR成像系统。
  • 赫兹isar成像方法系统

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