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[发明专利] 配置内存结构 -CN201910095462.9 有效
发明人：
林正隆 ;梁万栋
- 专利权人：
森富科技股份有限公司
申请日：
2019-01-31
-
公布日：
2023-05-16
-
主分类号：
G06F12/0846 文献下载
摘要： 一种配置内存结构，其包含有一电路板、数个内存、一处理单元及一反射吸收单元。该电路板具有一第一表面及一第二表面，该第一表面设有相对称的一第一线路单元及一第二线路单元；各内存分别设于该电路板的第一表面与该第二表面，各内存分别连接至该第一线路单元与该第二线路单元；该处理单元连接该第一线路单元；该反射吸收单元连接该第二线路单元。藉此，除可提升内存容量之外，更可于内存作动时，利用反射讯号吸收单元吸收相关的反射讯号，使内存可稳定运作并同时提升运作速率。配置 内存 结构
[实用新型] 内存检测装置 -CN202121387184.3 有效
发明人：
林正隆 ;梁万栋
- 专利权人：
森富科技股份有限公司
申请日：
2021-06-22
-
公布日：
2021-12-21
-
主分类号：
G06F11/22 文献下载
摘要： 一种内存检测装置，包括一测试基板、数个待测内存模块、一中央处理器、一基本输入/输出系统韧体、一序列存在检测芯片、以及一Hyper服务器所构成。藉此，通过外部连结的Hyper服务器来更改SPD芯片内部储存的参数，可提供进行多种测试动作，例如电压偏移的设定、数据保存的持久性等，BIOS韧体在开机后会去读取SPD芯片内部的参数，从而对数个BIOS设定的至少之一进行部分校正或全部校正，以达到可快速的控制大批量的测试基板，省下需逐台进行设定的时间，从而提高更佳的测试便利性，并增加测试效率。内存 检测 装置
[发明专利] 内存操作能力预测方法 -CN202010248370.2 在审
发明人：
林正隆 ;梁万栋
- 专利权人：
森富科技股份有限公司
申请日：
2020-04-01
-
公布日：
2021-10-12
-
主分类号：
G11C29/50 文献下载
摘要： 一种内存操作能力预测方法，可由内存操作能力预测结构来实施，通过快速改变基本输出入系统（Basic Input/Output System，BIOS）频率与读写时序的延迟，使本发明的主板测试方式可以量测到精准的电压值与电流值，并且是接近实际上多颗动态随机存取内存（dynamic random access memory,DRAM）集成电路（integrated circuit,IC）芯片一起运用的方式，可在操作模式下量测出每一单颗DRAM IC芯片的操作区间范围，从而可以预测每一DRAM IC芯片的操作能力，进而能有效地进行各种条件下的操作能力测试，提升分类的精准值。内存 操作 能力 预测 方法
[发明专利] 内存封装后维修检查方法 -CN202010248373.6 在审
发明人：
林正隆 ;梁万栋
- 专利权人：
森富科技股份有限公司
申请日：
2020-04-01
-
公布日：
2021-10-12
-
主分类号：
G06F11/22 文献下载
摘要： 一种内存封装后维修检查方法，是提供测试集成电路，并使该测试集成电路与各待测内存模块连接，同时通过一联机单元与数据中心管理单元连接，当执行一功能测试来检查各待测内存模块的功能状态时，是以该测试集成电路对各待测内存模块进行检测分析，以获得各待测内存模块的功能测试结果，并通过该联机单元将该功能测试结果储存至该数据中心管理单元。藉此，本发明以该数据中心管理单元提供大量的数据储存空间进行功能测试结果的储存记录，通过其中海量存储器模块功能状态的显示信息，一次可以提供批次的大量维修，有效扩充更大的维护修复范围并降低成本。内存 封装 维修 检查 方法
[发明专利] 内存操作条件检查方法 -CN202010248509.3 在审
发明人：
林正隆 ;梁万栋
- 专利权人：
森富科技股份有限公司
申请日：
2020-04-01
-
公布日：
2021-10-12
-
主分类号：
G11C29/50 文献下载
摘要： 一种内存操作条件检查方法，由内存操作条件检查装置来实施，可使主板上中央处理单元（central processing unit,CPU）通过设置在数个待测内存模块（device under test,DUT）的输入电压（VDD、VDDQ与VPP）供应端子的量测单元回馈的电压量测值，能更精确地调整提供给各待测内存模块正确的供应电压，使中央处理单元能发挥最高效率，藉以VDD、VDDQ与VPP三个操作电压解决内存电源电压偏离的问题，从而能在量产测试的时候，可精确地调整输入至各待测内存模块端的正确的供应电压，以达到一致性的校正。内存 操作 条件 检查 方法
[发明专利] 内存装置 -CN201910659209.1 在审
发明人：
林正隆 ;梁万栋
- 专利权人：
森富科技股份有限公司
申请日：
2019-07-22
-
公布日：
2021-01-22
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主分类号：
G11C7/18 文献下载
摘要： 一种内存装置，其包含有至少一载板、一控制器、至少一分接器、多数内存模块以及至少二电阻。该控制器连接该载板，该分接器、各内存模块与各电阻分别设于该载板，该分接器具有一连接该控制器的输入端、一第一输出端及一第二输出端，各内存模块可分别部分串联后连接至该第一输出端与该第二输出端，各电组分别与连接至该第一输出端与该第二输出端的一内存模块连接。藉此，可由分接器的第一输出端与第二输出端同时将控制器的命令讯号、地址讯号或时序讯号分别送出至各内存模块，以提供该控制器进行程序指令或数据读取，进而可缩短控制器的读取路径，而达到快速读取以及提升使用效能的功效。内存 装置
[实用新型] 主板的内存测试结构 -CN202020452550.8 有效
发明人：
林正隆 ;梁万栋
- 专利权人：
森富科技股份有限公司
申请日：
2020-04-01
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公布日：
2020-11-10
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主分类号：
G06F11/22 文献下载
摘要： 一种主板的内存测试结构，其包括测试板体、数个主板组件以及测试机构所构成，其中各该主板组件包含主板、中央处理器(CPU)、内存及数个待测内存模块(device under test,DUT)。藉此，能改善传统的主板测试方式因计算机(PC)速度上的距离使得测速受限，而本创作将待测内存模块设在中央处理器背面，如此一来中央处理器与待测内存模块的距离就最短，使得这块特制的主板可以有效缩小，测试速度就可以达到最高速的测试，并使测试机构在工作区域里面的测试面积可以采用单位最大检测数量来进行测试，有效突破测试面积及测试速度的限制，提高测试效率及数量，频率更高。主板 内存 测试 结构
