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[发明专利]水平传送检验处理器-CN97120183.8无效
发明人：邦昭坂内 -专利权人： 株式会社鼎新
申请日： 1997-11-18 - 公布日： 2004-07-28 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：水平传送检验处理器，在水平方向将被检验的IC器件传到和传离检验头。它包括器件托盘、IC插座、器件传送机构、视频数据获得装置和参考位置标志器，器件托盘用于在支座中携带多个待检验IC器件，IC通过在被检验IC器件和IC检验器间建立电气连接在两者间进行连接，器件传送机构水平和垂直移动而拾取、传送并放置IC器件，视频数据获得装置用于获得检验器表面的图象数据，参考位置标志器用于在图象数据中提供参考位置数据。
水平传送检验处理器

[发明专利]多端口装置的分析设备和方法及其校正方法-CN00803374.9无效
发明人：中山喜和;我田浩隆;饭田实 -专利权人： 株式会社鼎新;鼎新美国研究中心
申请日： 2000-02-07 - 公布日： 2004-07-14 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：一种多端口装置分析设备能够以改进的效率和准确度分析具有三个或更多终端的多端口装置。该多端口装置分析设备包括：一个信号源(112)，用于将一个测试信号提供给所测试的多端口装置(DUT)的一个端子；多个测试端口(P1-Pn)，用于将多端口DUT的所有端子连接到相应的测试端口；多个测量单元(MU1-MUn)，用于测量来自相应测试端口的信号；一个参考信号测量单元(R)，用于测量测试信号，以获得参考数据；多个终端电阻(TR1-TRn)，每个被分配给一个测试端口；和开关装置(SW1-SWn)，用于选择性地将测试信号提供给测试端口(输入端口)之一，将终端电阻从输入测试端口断开，同时将终端电阻连接到所有其它的测试端口；其中获得多端口DUT的参数，而不改变测试端口和DUT端子之间的连接，同时改变测试端口的选择直到所有的测试端口被指定为输入端口。
多端装置分析设备方法及其校正

[发明专利]无须使用逻辑模拟的用于对复杂IC的设计进行校验的方法和装置-CN02806636.7无效
发明人：罗基特·拉尤斯曼;矢元裕明 -专利权人： 株式会社鼎新
申请日： 2002-03-13 - 公布日： 2004-05-12 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：一种通过使用事件测试器和现场可编程门阵列(FPGA)或仿真器板的组合，用于对复杂IC的设计进行校验的方法和装置。该设计校验方法消除了在当今设计校验中成为瓶颈的逻辑模拟。因为从设计校验流程中消除了较慢的模拟，因此在设计出样用于制造之前能完成大范围设计校验，而且由于大范围设计校验变为可能，所以消除了批量生产前对原型的需要。
无须使用逻辑模拟用于复杂 ic 设计进行校验方法装置

[发明专利]用于基于事件的测试系统的扫描矢量支持-CN01804078.0无效
发明人：安东尼·勒;罗基特·拉伊休曼 -专利权人： 株式会社鼎新;鼎新美国研究中心
申请日： 2001-12-04 - 公布日： 2004-03-31 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：一基于事件的测试系统，能生成用于测试扫描设计的半导体设备的扫描矢量而不要求大容量的扫描存储器。该测试系统包括一事件存储器，用于存储各个事件的定时数据和事件类型数据，其中定时数据是由用于定义一测试矢量的许多(log₂N)数据位来表示的、一事件生成器，用于使用事件存储器中的时间数据和事件类型数据生成事件，以及提供在事件存储器和事件生成器之间的模式改变电路，用于改变在用于生成测试矢量的标准模式与扫描模式之间的信号通道，所述扫描模式通过当事件存储器中的事件类型数据表示一预定字时检测该扫描模式生成扫描矢量。在该测试系统中，许多(log₂N)数据位的每一位定义2^N个扫描矢量，以及2^N个数据位以串行方式提供给事件生成器，由此在事件存储器的每个入口产生2^N个扫描矢量。
用于基于事件测试系统扫描矢量支持

[发明专利]在半导体测试系统中利用通用操作系统生成具有高时间精度的序列-CN02801357.3无效
发明人：利昂·李·申;詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 -专利权人： 株式会社鼎新
申请日： 2002-04-19 - 公布日： 2003-12-17 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种半导体测试系统，可以使用通用操作系统产生时间临界顺序，包括一个用于将电源和测试图提供给被测器件的测试仪硬件，一个由通用操作系统操纵的主机计算机，一个用于根据一个测试程序计算配置数据和定时数据的配置软件，一个用于给测试硬件提供电源触发器和信号触发器的的装置驱动器，以及一个用于产生中断信号的硬件定时器。装置驱动器启动测试图并在接收到中断信号时去激活电源。
半导体测试系统利用通用操作系统生成具有时间精度序列

[发明专利]评估基于核的系统集成芯片(SoC)的方法及实现该方法的SoC的结构-CN02801611.4无效
发明人：罗基特·拉尤斯曼 -专利权人： 株式会社鼎新
申请日： 2002-05-10 - 公布日： 2003-12-17 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种用高准确性和可观察性调试在基于核的系统集成芯片(SoC)Ic中个别核的方法，以及实现该方法的SoC的结构。该方法包括构造用于SoC的每个核的垫框的两个或更多金属层同时将在下面金属层上的I/O(输入和输出)垫连接到上面金属层，从而在每个核的垫框的上面金属层的表面上曝露所有I/O垫和电源垫以及通过在核的上面金属层上的I/O垫将测试矢量应用到每个核并评估通过上面金属层上的I/O垫接收的响应输出。
评估基于系统集成芯片 soc 方法实现结构

[发明专利]用于转移对象的拾取和配置设备-CN97117067.3无效
发明人：菅野幸男 -专利权人： 株式会社鼎新
申请日： 1997-10-16 - 公布日： 2003-07-02 - 主分类号： B65G47/91 文献下载
摘要：以高稳定性高速度而不引起滞咬现象进行拾取和配置操作的拾取、转移和配置对象的拾取和配置设备。此设备有一负压源，并包括检测由施加该负压源产生的负压来拾取对象过程中的吸取条件的第一压力检测器，检测由释放该负压来将对象放到预定位置上过程中的吸取释放条件的第二压力检测器，和在由第一压力检测器接收到吸取检测信号或由第二压力检测器接收到吸取释放检测信号后控制拾取和配置设备的整个运行以前进到下一过程的控制器。
用于转移对象拾取配置设备

[发明专利]半导体测试系统-CN98100425.3有效
发明人：罗伯特·F·索尔;福岛清;矢元裕明 -专利权人： 株式会社鼎新
申请日： 1998-02-17 - 公布日： 2003-05-28 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：半导体测试系统中的仿真器，测试系统与参照周期同步地作用一测试信号在测试的半导体器件上及比较结果输出与期望数据来确定半导体器件工作是否正确。仿真器包括仿真测试系统各硬件单元的功能的仿真器单元、仿真待测试半导体器件的功能的器件仿真器、从仿真器单元取得执行测试程序必需的数据的数据采集部件、及根据取得的数据生成作用在器件仿真器上的测试信号及将结果信号与期望数据比较并将比较结果存储在其中的器件测试仿真器。
半导体测试系统

[发明专利]具有接触块的接触结构-CN01120317.X无效
发明人：西奥多·A·库利;蒂姆·弗雷什 -专利权人： 株式会社鼎新;爱迪生焊接研究所
申请日： 2001-07-18 - 公布日： 2003-02-19 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：一种用于与设置在被测基板上的接触目标建立电连接的接触结构，具有一种以球形接触器作为接触点的TAB(带自动连接)形式。该接触结构包括多个由通过介电层而置于接地层上的导线构成的接触器，其中每一导线具有一种平板形状，以形成一个与所述介电层和接地层结合、用于建立预定特性阻抗的微带线，并在每一导线的端部设置一个由一种硬导电材料制成的接触凸块；以及用于在其上固定所述多个接触器，并使通信路径从所述导线端部延伸到该接触结构外部的一个部件的支撑基板。当接触结构头压住被测基板时，接触器弯曲，相对于固定有接触目标的被测基板表面倾斜，使得接触器的弯曲部分以位于导线端部的接触凸块实现摩擦效果这样的方式产生一个触点压力。
具有接触结构

[发明专利]接触构件及其制造方法-CN01123371.0无效
发明人：西奥多·A·库利;詹姆斯·W·费雷姆 -专利权人： 株式会社鼎新
申请日： 2001-07-18 - 公布日： 2003-02-19 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：一种用于与接触目标建立电连接的接触构件，利用微加工技术在半导体基片上制成接触器而形成。接触构件是由接触基片和大量设置在接触基片上的接触器形成的。每一接触器都有一个用来与接触目标接触的接触突起。当接触器压到接触目标时，产生一个接触力。还描述了各种接触构件及其生产方法。
接触构件及其制造方法

[发明专利]触点结构及其制造方法以及使用该触点结构的探针接触装置-CN01804700.9无效
发明人：周豫;余大江;罗伯特·爱德华·阿尔达斯;西奥多·A·库利 -专利权人： 株式会社鼎新;鼎新美国研究中心
申请日： 2001-12-08 - 公布日： 2003-02-19 - 主分类号： H01R13/00 文献下载
摘要：一种用于建立和接触目标电连接的触点结构。该触点结构由触点基片和多个接触器组成。所述每个接触器包括在垂直方向上插入设置在触点基片上的通孔内的中间部分、和所述中间部分相连并位于所述接触器一端的接触部分、被设置在接触器另一端的基本部分、以及一个具有相对于触点基片向上倾斜的悬臂形状的弹簧部分，该接触部分作为一个触点和接触目标电连接，该弹簧部分被设置在所述基本部分和中间部分之间。
触点结构及其制造方法以及使用探针接触装置

[发明专利]用于半导体测试系统的晶片图象显示装置和方法-CN01802605.2无效
发明人：南部光江 -专利权人： 株式会社鼎新;鼎新美国研究中心
申请日： 2001-05-12 - 公布日： 2003-01-01 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种晶片图象显示装置和方法,用于使用一最佳显示尺寸将半导体晶片的整体图象和其中的IC芯片显示在一指定的窗口尺寸中。该晶片图象显示装置获取窗口尺寸信息用于将一正被测试的半导体晶片的晶片图象显示在一指定的窗口内,且每次当收到测试结果和已被测试的IC芯片的XY地址数据时,使用已被测试的所有IC芯片的XY地址数据计算一芯片显示尺寸,并基于该最新的芯片显示尺寸更新该晶片图象显示,由此,使用一最佳尺寸将已被测试的所有IC芯片和正被测试的整个半导体晶片显示在该指定的窗口内。
用于半导体测试系统晶片图象显示装置方法

[发明专利]支持多虚拟逻辑测试仪的半导体测试系统-CN01115884.0无效
发明人：詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 -专利权人： 株式会社鼎新
申请日： 2001-05-11 - 公布日： 2002-12-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：用作多逻辑测试仪的单一半导体测试系统,每一个彼此独立和异步地运行,该系统包括主机计算机,通过执行测试程序控制一个半导体测试系统的整个运行;多个管脚单元,每个单元具有用于产生给待测量半导体装置的分配管脚的测试模式以及评估所得的待测量装置响应的装置;管脚单元总线,设置在所述的主机计算机与该多个管脚单元之间,用于传送地址、数据、控制信号和时钟;以及装置,用于当所述的主机计算机把一组选择地址放置在所述管脚单元总线上时配置对应于待测量装置的输入或输出管脚的管脚单元。
支持虚拟逻辑测试仪半导体测试系统

[发明专利]用于混合信号测试的事件测试器结构-CN01117615.6无效
发明人：菅森茂 -专利权人： 株式会社鼎新
申请日： 2001-05-11 - 公布日： 2002-12-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试半导体器件的半导体测试系统,特别是一种具有多个不同类型测试器模块的半导体测试系统,用于高速和高效率地测试具有模拟信号和数字信号的混合信号集成电路。本发明的半导体测试系统包括两个或多个性能不同的测试器模块;一个容纳两个或多个性能不同的测试器模块的测试头;设置在该测试头上用于电连接测试器模块与被测器件的装置;当被测器件是一个具有模拟功能和数字功能的混合信号集成电路时与被测器件相对应的一个可选电路;以及通过测试器总线与测试器模块相联以控制该测试系统整体运行的一台主计算机。每一事件测试器模块包括一个测试器板,该测试器板配置为基于事件的测试器。
用于混合信号测试事件结构

[发明专利]基于模块的灵活的半导体测试系统-CN01115701.1无效
发明人：菅森茂;罗基特·拉尤斯曼 -专利权人： 株式会社鼎新
申请日： 2001-04-29 - 公布日： 2002-12-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试半导体器件的系统,特别是一种设有多个不同类型的测试器模块的半导体测试系统,用这些模块可以容易地建立不同的半导体测试系统。该半导体测试系统包括两个或多个性能相互不同的测试器模块;一个测试头,用于容纳该两个或多个性能不同的测试器模块;设置在该测试头上并用于电连接测试器模块与被测器件的装置;及一主计算机,它通过测试器总线与测试器模块联接,以控制该测试系统的整体运行。测试器模块的一种性能类型是高速高时序精度,而另一种性能类型是低速低时序精度。每一事件测试器模块包括一测试器板,其配置为一基于事件的测试器。
基于模块灵活半导体测试系统

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