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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]踏板型车辆-CN201380046678.7有效
发明人：江口卓也;福井章仁;大桥淳志;村松刚 -专利权人：铃木株式会社
申请日： 2013-07-25 - 公布日： 2017-09-12 - 主分类号： B62J99/00 文献下载
摘要：提供动力单元(5)，该动力单元由车身框架(11)支撑并可摆动；进气系统(54)，该进气系统包括节气门体(543)，该节气门体调节燃烧空气的量；进气管(544)，该进气管连接节气门体(543)和进气口(601)，从而允许燃烧空气在其中流动；和物品收容部(17)，该物品收容部设置在动力单元(5)的上方，动力单元(5)的下侧由车身框架(11)支撑并可摆动，进气管(544)在车辆宽度方向上从斜上侧与进气口(601)连通，燃料喷射装置(602)设置在气缸组件(51)和物品收容部(17)之间和在气缸组件(51)的气缸盖(512)的上表面上的位置。
踏板车辆

[发明专利]用于带式无级变速器的异常判定装置-CN201310123271.1有效
发明人： 村松刚;青木祐太 -专利权人：铃木株式会社
申请日： 2013-04-10 - 公布日： 2013-10-23 - 主分类号： F16H61/12 文献下载
摘要：一种用于带式无级变速器的异常判定装置，包含：带式无级变速器，所述带式无级变速器包括设置在发动机的曲轴上的主动轮、连接到车轴的从动轮、以及缠绕在所述主动轮和所述从动轮周围的皮带；发动机转速传感器，所述发动机转速传感器被配置成检测所述发动机的转速；节流阀开度传感器，所述节流阀开度传感器被配置成检测节流阀的开度，所述节流阀调整所述发动机的进气量；以及判定部，所述判定部被配置成根据所述发动机的所述转速相对于所述节流阀的所述开度的变化量来判定所述带式无级变速器是否异常。
用于无级变速器异常判定装置

[发明专利]用于摩托车的尾气传感器安装结构-CN201180008018.0有效
发明人：秋田佳克;山田伸一;柴野谦;村松刚 -专利权人：铃木株式会社
申请日： 2011-01-24 - 公布日： 2012-12-26 - 主分类号： F02D35/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于摩托车的尾气传感器安装结构，摩托车设置有引擎，排气管和尾气传感器；在引擎中，气缸组件从曲轴箱以向前倾斜的方式延伸；排气管连接到设置在气缸组件的气缸盖的排气口，并向后延伸；并且尾气传感器用于检测尾气的状态；其中尾气传感器被安装到排气管并位于气缸组件的直接下方，并设置有终端部，终端部配置为向上指向。
用于摩托车尾气传感器安装结构

[发明专利]多晶硅薄膜检查方法及其装置-CN201110303274.4无效
发明人：岩井进;村松刚;荒木正树;山口清美 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2011-09-29 - 公布日： 2012-05-09 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种多晶硅薄膜检查方法及其装置。为了检测出多晶硅薄膜表面的图像并观察多晶硅薄膜表面的状态，从而能够检查多晶硅薄膜的结晶状态，在多晶硅薄膜检查装置的结构中具备：光照射单元，其向在表面上形成有多晶硅薄膜的基板照射光；拍摄单元，其拍摄由光照射单元照射到基板的光中透射过多晶硅薄膜的光或者由多晶硅薄膜规则反射的光附近的来自多晶硅薄膜的散射光的图像；以及图像处理单元，其对由该拍摄单元拍摄得到的散射光的图像进行处理，从而检查多晶硅薄膜的结晶状态。
多晶薄膜检查方法及其装置

[发明专利]多晶硅薄膜检查方法及其装置-CN201110040969.8无效
发明人：岩井进;吉武康裕;村松刚 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2011-02-17 - 公布日： 2011-09-21 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明提供一种多晶硅薄膜检查方法及其装置。本发明为了能够在光学上观察多晶硅薄膜的表面状态，检查多晶硅薄膜的结晶状态，向在表面上形成了多晶硅薄膜的基板照射光，拍摄从被照射光的多晶硅薄膜的表面产生的一阶衍射光的像，对拍摄到的一阶衍射光的像的图像进行处理，检查多晶硅薄膜的结晶状态，进行图像处理，将检查到的一阶衍射光的像与检查的结果的信息一同显示在画面上。
多晶薄膜检查方法及其装置

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