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[发明专利]显示面板及其不良像素的测试方法、显示装置-CN202210002073.9在审
发明人：蔡丹;张铁轶;权基瑛;强柳;张雷;刘金 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司
申请日： 2022-01-04 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本公开提供了一种显示面板及其不良像素的测试方法、显示装置，属于显示技术领域。该显示面板中的测试元件组包括第一测试电路、第二测试电路和第三测试电路共三个测试电路。其中，第一测试电路和第二测试电路均与第三测试电路耦接，以控制第三测试电路生成第一测试信号，该第一测试信号能够经第二测试电路形成第二测试信号并经测试探针传输至测试设备。如此，可以基于像素电路的结构，灵活设置测试元件组包括的每个测试电路的结构，以使得测试元件组输出至测试设备的第二测试信号接近像素电路向发光元件输出的驱动信号，进而使得测试设备基于该第二测试信号可靠确定像素电路是否异常。即，采用该测试元件组测试显示面板中不良像素的可靠性较好。
显示面板及其不良像素测试方法显示装置

[发明专利]一种电性测试方法-CN202111235772.X在审
发明人：蔡丹;张铁轶;权基瑛;姚鑫 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司
申请日： 2021-10-22 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开提供了一种电性测试方法，能够提高电性测试引脚与待测试焊盘之间的导电性。所述方法包括：将测试引脚头部浸入有机液体，所述有机液体具有加热后导电的特性；将附着有有机液体的测试引脚头部扎入待测试焊盘；向所述测试引脚和待测试焊盘施加电压，电流流经所述测试引脚、所述测试引脚与待测试焊盘之间的有机液体，以及所述待测试焊盘，所述测试引脚与待测试焊盘之间的有机液体被固化，固化完成后再进行测试。采用本公开实施例方法可以降低测试引脚与待测试焊盘接触电阻，增强测试引脚与待测试焊盘之间导电性。
一种测试方法

[发明专利]一种显示面板、测试方法及显示装置-CN202110706625.X在审
发明人：何亮亮;权基瑛;张铁轶;刘振定;姚鑫;彭绍强 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司
申请日： 2021-06-24 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本申请公开一种显示面板、测试方法及显示装置，涉及显示技术领域，能够改善现有的显示面板的测试引脚的设置，在测试过程中测试探针较容易被磨损，导致测试探针的消耗数量较多，进而测试成本较高的问题。显示面板包括：至少两个待测电路；测试引脚，所述测试引脚与至少两个所述待测电路电连接；切换组件，所述切换组件用于控制所述测试引脚与所述待测电路的导通和断开。
一种显示面板测试方法显示装置

[发明专利]薄膜晶体管、显示基板及显示装置-CN202010799880.9在审
发明人：李彦生;权基瑛 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司
申请日： 2020-08-11 - 公布日： 2020-11-06 - 主分类号： H01L29/786 文献下载
摘要：本公开提供一种薄膜晶体管、显示基板及显示装置，属于显示技术领域，其可解决现有的薄膜晶体管漏电流较大的技术问题。本公开的薄膜晶体管包括：基底、位于基底上的有源层、栅极、源极和漏极；栅极具有一个或多个中空结构；栅极由中空结构划分为多个电连接的子栅极；每个子栅极在基底上的正投影均与有源层在基底上的正投影部分重叠。
薄膜晶体管显示显示装置

[发明专利]一种清洁装置-CN201310705448.9有效
发明人：曲坤;权基瑛;周保全;罗强强 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-12-19 - 公布日： 2014-04-02 - 主分类号： B08B5/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种清洁装置，包括：机台、吸附泵和吸附管，所述吸附管设置在机台上，且对应吸附管的位置在机台上开设有吸附孔，且吸附管对应吸附孔的位置与吸附孔连通，所有吸附管与吸附泵连接。本发明通过设置上述的清洁装置，代替现有的人工手动清除碎玻璃的方法，不仅能够清理碎玻璃，还能清理其它各种形状的碎片物品，将该清清洁装置放置到机台上，清洁板与碎玻璃重合，通过吸附泵进行抽真空，通过清洁板上的吸附孔将碎玻璃吸入到吸附孔中，进一步被吸附到吸附管中，从而实现碎玻璃的清除，清洁过程无需人工，降低危险性操作，避免对真空腔等设备的划伤，保护设备，同时还能减少清除碎玻璃的时间，提高清洁效率，进一步还能提高设备的稼动率。
一种清洁装置

[实用新型]一种阵列基板及显示装置-CN201320494319.5有效
发明人：金相秦;权基瑛 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-08-14 - 公布日： 2013-12-25 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种阵列基板，以及设有该阵列基板的显示装置，属于显示技术领域。解决了现有技术中液晶显示器的边框区域发生漏光现象，影响显示效果的技术问题。该阵列基板的边框区域包括第一金属层和第二金属层，以及位于所述第一金属层和所述第二金属层之间的绝缘层，所述第一金属层包括引线图形，所述第二金属层包括遮光图形，所述遮光图形遮挡所述引线图形以外的部分所对应的区域。本实用新型可应用于液晶显示器等显示装置。
一种阵列显示装置

[实用新型]一种阵列基板母板、阵列基板引线检测装置-CN201320488241.6有效
发明人：魏振;朱承达;权基瑛;张小松 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-08-09 - 公布日： 2013-12-18 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本实用新型提供一种阵列基板母板和阵列基板引线检测装置，属于显示技术领域，其可解决现有的阵列基板和阵列基板引线检测装置无法配合进行引线检测的问题。本实用新型的阵列基板母板包括：多个阵列基板，相邻的阵列基板的同类型的引线由引线连接机构连接。本实用新型的通过引线连接机构使待检测的阵列基板能够同时连接检测，解决了由于待检测阵列基板尺寸较小或阵列基板引线检测装置尺寸较小造成两者无法匹配进行引线检测的问题。通过上述的阵列基板母板和阵列基板引线检测装置进行引线检测确定引线结构断路和短路的不良情况，对产线起到预警的作用，并通过对不良点的进行维修，提高产线的产品良率。
一种阵列母板引线检测装置

[发明专利]一种阵列基板及其制造方法、显示装置-CN201310352419.9有效
发明人：金相秦;权基瑛 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-08-14 - 公布日： 2013-12-04 - 主分类号： G02F1/1335 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种阵列基板及其制造方法，以及设有该阵列基板的显示装置，属于显示技术领域。解决了现有技术中液晶显示器的边框区域发生漏光现象，影响显示效果的技术问题。该阵列基板的边框区域包括第一金属层和第二金属层，以及位于所述第一金属层和所述第二金属层之间的绝缘层，所述第一金属层包括引线图形，所述第二金属层包括遮光图形，所述遮光图形遮挡所述引线图形以外的部分所对应的区域。本发明可应用于液晶显示器等显示装置。
一种阵列及其制造方法显示装置

[实用新型]一种信号线的检测设备-CN201320293224.7有效
发明人：张小松;权基瑛;朱承达;付修行 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-05-24 - 公布日： 2013-10-23 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本实用新型提供一种信号线的检测设备，包括：基座；设置于所述基座上的至少2个安装架；在每一个安装架上安装有2个扫描装置，所述扫描装置与所述安装架旋转移动连接。本实用新型的方案可以缩短每张阵列基板的测试时间，解决了旋转基座长时间工作后导致的基座平坦度无法满足设备运行要求的问题。
一种信号线检测设备

[发明专利]一种检测装置及其工作方法-CN201110101164.X有效
发明人：魏振;朱承达;权基瑛 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
申请日： 2011-04-21 - 公布日： 2012-09-05 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供了一种检测装置及其工作方法，涉及机械技术领域，为提高检测效率而发明。本发明提供的检测装置，包括：测试腔和交换腔，所述测试腔和交换腔之间设置有连通机构，所述连通机构能够使所述测试腔和所述交换腔彼此隔离或连通；所述测试腔内和交换腔内分别设有用于传送探针框架的传动装置，所述传动装置能够将所述探针框架从所述测试腔传送至所述交换腔或者从所述交换腔传送至所述测试腔。本发明适用于电子束矩阵检测等检测设备中。
一种检测装置及其工作方法

[发明专利]TFT-LCD阵列基板-CN201110045388.3有效
发明人：申伟;权基瑛 -专利权人：北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2007-12-07 - 公布日： 2011-06-01 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：本发明涉及一种TFT-LCD阵列基板，包括形成在基板上的栅线、数据线、像素电极和薄膜晶体管，在栅线和数据线交叉处，位于所述数据线两侧的栅线通过与所述数据线形成双点或多点交叉结构的栅连接线连接，栅连接线包括至少二个第一栅连接线，第一栅连接线与栅线材料相同，且与栅线位于同一层。本发明通过在交叉处设置至少二个第一栅连接线与数据线交叉，不仅降低了发生栅线短路不良的几率，而且降低了发生栅线断路不良的几率，同时本发明TFT-LCD阵列基板还具有当栅线发生短路和短路不良时修复简单、工序少、时间短和维修成功率高等优点。
tft lcd 阵列

[发明专利]一种阵列基板检测电路及检测方法-CN200810239834.2有效
发明人：齐铮;高浩然;权基瑛 -专利权人：北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2008-12-12 - 公布日： 2010-06-23 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种阵列基板检测电路及检测方法，涉及阵列基板的电路检测技术领域。为了解决现有技术中阵列基板上多个显示面板同时进行检测，无法准确定位出现短路性不良的显示面板问题而发明。本发明提供的阵列基板检测电路，包括：阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上，并引出有列检测引脚；阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上，并引出有行检测引脚；阵列基板上相邻的显示面板列之间设有列控制信号线，列控制信号线与行信号线的交点处设置了列开关节点；阵列基板上相邻的显示面板行之间设有行控制信号线，行控制信号线与列信号线的交点处设置了行开关节点。
一种阵列检测电路方法

[发明专利]一种薄膜晶体管液晶显示面板像素结构及制造方法-CN200810117085.6有效
发明人：申伟;朴云峰;权基瑛;权南仁 -专利权人：北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2008-07-23 - 公布日： 2010-01-27 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：本发明公开了一种薄膜晶体管液晶显示面板像素结构，包括：基板；栅极扫描线及栅电极，形成于基板之上；栅极绝缘层，形成于栅极扫描线及栅电极之上；有源层，形成于栅极绝缘层之上；源漏电极以及数据扫描线，其中源漏电极形成于有源层之上，数据扫描线形成于栅极绝缘层之上，并且源漏电极之下的有源层互不相连；半导体层，形成于源漏电极、以及栅极绝缘层之上，且半导体层覆盖部分漏电极、以及部分栅极绝缘层；钝化层，形成于半导体层之上；像素电极，形成于钝化层、漏电极、栅极绝缘层之上。本发明同时公开了一种薄膜晶体管液晶显示面板像素结构的制造方法，该像素结构和制造方法能够避免源漏电极短路、沟道开路等问题，提高阵列基板的良品率。
一种薄膜晶体管液晶显示面板像素结构制造方法

[发明专利]阵列电路维修系统及维修方法-CN200810105015.9有效
发明人：葛兴;田震寰;权基瑛 -专利权人：北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2008-04-25 - 公布日： 2009-10-28 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种阵列电路维修系统以及维修方法，涉及电路故障检测与维修技术领域；为解决现有技术中对无法确定的不良放弃维修的问题而发明。所述系统包括：系统控制单元，所述系统控制单元连接有运动单元，所述运动单元设置有查找定位单元以及维修单元，所述运动单元上还设置有线性扫描检测单元。所述方法包括：对阵列电路坐标不确定的不良进行线性扫描检测，得到准确的不良信息；根据所述的不良信息进行不良的查找定位；对所述不良进行维修。本发明所述系统，可用于阵列电路的检测，通过对无法确定的不良进行线性扫描检测，得到不良的具体点坐标，并进行维修，可以提高良品率，节约成本。
阵列电路维修系统方法

[发明专利]薄膜晶体管阵列基板及其制造方法-CN200810057931.X有效
发明人：申伟;权基瑛;刘华 -专利权人：北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2008-02-21 - 公布日： 2009-08-26 - 主分类号： H01L27/12 文献下载
摘要：本发明涉及一种薄膜晶体管阵列基板及其制造方法，其中薄膜晶体管阵列基板包括栅线、数据线和像素电极，在数据线的上方形成有与数据线接触的透明导电层，透明导电层与像素电极不相连。制造方法包括：在玻璃基板上依次形成栅线层、栅绝缘层、有源层、及源漏电极和数据线层；沉积钝化层；通过光刻工艺和刻蚀工艺形成过孔，同时刻蚀位于数据线上方的钝化层；沉积透明导电层；通过光刻工艺和刻蚀工艺形成像素电极，同时保留数据线上方的透明导电层，数据线上方的透明导电层与像素电极不相连。本发明避免了线性不良问题，且不需要维修从而避免造成像素不良，提高了TFT-LCD的良品率。
薄膜晶体管阵列及其制造方法

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