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[发明专利]连接单元-CN200710146929.5无效
发明人：福岛健太郎;星野正史 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2003-10-24 - 公布日： 2008-05-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明是关于一种连接单元、被测量组件搭载板、探针卡以及组件接口部。该连接单元，适用于电性连接一被测量组件搭载板及一试验装置，其中被测量组件搭载板是载置一IC插座，且试验装置测试被保持于IC插座上的电子组件。连接单元包括：一保持基板，面向被测量组件搭载板而设置、以及一连接单元侧的连接器，设于保持基板上，且在保持基板上的位置为可变更，适用于与被测量组件搭载板所具备的一性能板侧的连接器相连接。被测量组件搭载板可减少透孔部分的末端容量，可获得能对应高速信号的被测量组件搭载板。IC试验装置的组件接口部具备被测量组件搭载板，即使是高速信号也可得良好波形品质，可进行高速试验。连接单元可与复数性能板或探针板连接，可精确试验电子组件。
连接单元

[发明专利]连接单元、测试头以及测试装置-CN200480008874.6无效
发明人：涉谷敦章;星野正史 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2004-04-01 - 公布日： 2006-05-03 - 主分类号： G01R31/3181 文献下载
摘要：一种连接单元，适用于电性连接性能板与测试控制部。性能板载置着电子元件，测试控制部生成控制电子元件的测试的测试信号。连接单元包括：基板收容部，收容与测试控制部电性连接的测试基板、维持构件，以可更换固定位置的方式固定至基板收容部中的多个不同的固定位置中的任意固定位置，并将测试基板对应此固定位置而维持在预定的维持位置、以及连接缆线，一端与被维持在维持位置的测试基板相连接，另端与性能板相连接。
连接单元测试以及装置

[发明专利]连接单元、被测量组件搭载板、探针卡以及组件接口部-CN03801058.5无效
发明人：福岛健太郎;星野正史 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2003-10-24 - 公布日： 2004-12-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明是关于一种连接单元、被测量组件搭载板、探针卡以及组件接口部。该连接单元，适用于电性连接一被测量组件搭载板及一试验装置，其中被测量组件搭载板是载置一IC插座，且试验装置是把一电子组件保持于IC插座上。连接单元包括：一保持基板，面向被测量组件搭载板而设置以及一连接单元侧的连接器，设于保持基板上，且在保持基板上的位置为可变更，适用于与被测量组件搭载板所具备的一性能板侧的连接器相连接。被测量组件搭载板可减少透孔部分的末端容量，可获得能对应高速信号的被测量组件搭载板。IC试验装置的组件接口部具备被测量组件搭载板，即使是高速信号也可得良好波形品质，可进行高速试验。连接单元可与复数性能板或探针板连接，可精确试验电子组件。
连接单元测量组件搭载探针以及接口