专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]结果相依分析-SWATH数据的迭代分析-CN201780050970.4有效
  • 斯蒂芬·A·泰特 - DH科技发展私人贸易有限公司
  • 2017-06-30 - 2022-06-14 - G01N33/68
  • 使用DIA串联质谱法产生多个测量产物离子频谱。从已知化合物的频谱库中检索一或多个产物离子,或者针对数据库的所述已知化合物计算一或多个理论产物离子。将针对每一已知化合物的所述一或多个产物离子或一或多个理论产物离子与所述测量产物离子频谱进行比较,以识别所述样本中的一或多个已知化合物。使用一或多个已知化合物搜索相关已知化合物的数据库,从而针对每一相关化合物产生一或多个匹配相关化合物及一或多个产物离子。将针对每一相关化合物的所述一或多个产物离子与所述测量产物离子频谱进行比较,以识别所述样本中的一或多个相关化合物。
  • 结果相依分析swath数据
  • [发明专利]经由曲线减法检测基于质谱的相似性-CN201680006959.3有效
  • 詹姆斯·安德鲁·舍曼;斯蒂芬·A·泰特 - DH科技发展私人贸易有限公司
  • 2016-01-29 - 2020-06-09 - G01N30/72
  • 本发明涉及经由曲线减法检测基于质谱的相似性。系统及方法分组已知化合物的两种或更多种产物离子的XIC峰值。在多个保留时间获得整个质量范围的产物离子光谱集合。选择所述已知化合物的M种产物离子。针对所述M种产物离子中的每一者计算XIC。将所述M个XIC中的每一XIC从其它M个XIC中的每一者减去。识别一或多个保留时间的一或多个区域,其中一或多个减法曲线具有在零的阈值内的值。针对所述一或多个区域中的每一区域,获得用以计算识别所述区域的所述一或多个减法曲线的两个或更多个XIC,并将所述区域中的所述两个或更多个XIC的每一峰值添加到峰值群组。
  • 经由曲线减法检测基于相似性
  • [发明专利]在重叠采集窗的多路分用之后改进数据质量-CN201480025289.0有效
  • 大卫·M·考克斯;斯蒂芬·A·泰特;莱尔·L·伯顿 - DH科技发展私人贸易有限公司
  • 2014-06-03 - 2017-06-30 - H01J49/02
  • 本发明提供用于在循序窗口化采集串联质谱法中在多路分用通过重叠前驱物离子传输窗产生的产物离子谱之后识别遗漏产物离子的系统及方法。对样本执行重叠循序窗口化采集。从多个重叠步进式前驱物质量窗及其对应产物离子谱选择第一前驱物质量窗及对应第一产物离子谱。对于所述第一前驱物质量窗的每一重叠部分多路分用产物离子谱,从而产生所述第一前驱物质量窗的两个或两个以上多路分用的第一产物离子谱。将所述两个或两个以上多路分用的第一产物离子谱相加在一起,从而产生所重构经求和多路分用的第一产物离子谱。通过将所述经求和多路分用的第一产物离子谱与所述第一产物离子谱进行比较而识别所述经求和多路分用的第一产物离子谱中的遗漏产物离子。
  • 重叠采集多路分用之后改进数据质量

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