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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]设备寿命预测模型构建方法、装置、可读存储介质及设备-CN202311111360.4在审
发明人：徐永刚;孙成思;何瀚;王灿;谭尚庚 -专利权人： 成都态坦测试科技有限公司
申请日： 2023-08-31 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本发明公开设备寿命预测模型构建方法、装置、可读存储介质及设备，通过抽取存储设备样本并获取对应的特征信息后，进一步提取特征信息中的信号特征，即对特征信息进行二次处理能够提取出与存储设备寿命更加相关的信号特征，再通过计算信号特征集内的信号特征与存储设备寿命的相关度，以及根据寿命的相关度对信号特征集内的信号特征进行筛选，最终提取出一个与存储设备寿命高度相关的特征子集，并基于特征子集对机器学习分类模型进行训练，从而得到高精度的寿命预测模型提高对设备故障预测的准确度。
设备寿命预测模型构建方法装置可读存储介质

[发明专利]一种控温测试温箱-CN202310666386.9在审
发明人：孙成思;何瀚;王灿;张鑫 -专利权人： 成都态坦测试科技有限公司
申请日： 2023-06-06 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种控温测试温箱，应用于微电子封装与测试技术领域，包括：壳体，壳体内部具有空腔；隔板，隔板设置于壳体内，隔板将空腔分为连通的测试腔与设备腔；加热组件，加热组件设置于设备腔内，加热组件用以加热设备腔内的空气；风机，风机设置于设备腔内，用以将设备腔内的热空气沿隔板吹至设备腔；测试基座，测试基座设置于测试腔，测试基座与待测样品连接，用以固定待测样品。本发明通过在控温测试温箱的内部设置隔板以及加热组件和风机，通过控制加热组件和风机的工作状态以控制壳体内的温度与流体流速，通过加热组件获得的热风在壳体内部的设备腔与测试腔之间循环并动态控制其温度，保证测试温箱内部的温度均匀性与流场均匀性。
一种测试

[发明专利]器件用电监测电路和芯片测试系统-CN202310515934.8在审
发明人：徐永刚;徐怡静;刘冲;李振华;衡阳 -专利权人： 成都态坦测试科技有限公司
申请日： 2023-05-08 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明公开一种器件用电监测电路和芯片测试系统，其中，器件用电监测电路包括主控单元和至少一个检测单元，每一个检测单元均用于单独检测一个器件，检测单元包括采样负载和监测子单元；采样负载用于串接在器件的电源输入端；监测子单元电连接采样负载和主控单元，监测子单元通过监测采样负载两端的电压，结合采样负载的阻值确定器件的用电数据，并将确定的用电数据发送给主控单元。本发明技术方案，实现在芯片测试过程中监测芯片的用电数据，从而测试得到芯片的功耗情况，从而可根据芯片的功耗大小区分芯片的应用等级。
器件用电监测电路芯片测试系统

[发明专利]高功率芯片老化测试柜-CN202310515938.6在审
发明人：张鑫;徐永刚 -专利权人： 成都态坦测试科技有限公司
申请日： 2023-05-08 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种高功率芯片老化测试柜，该高功率芯片老化测试柜包括：柜体；多个老化测试组件，于所述柜体中层层设置，所述老化测试组件包括老化测试板和设置于所述老化测试板上方的液冷散热板，所述老化测试板上具有多个用于放置芯片的测试工位，所述液冷散热板上设有冷却液流动通道和与所述冷却液流动通道连通的冷却液入口、冷却液出口，用于对所述老化测试板及其上的芯片进行液冷散热。本发明高功率芯片老化测试柜在老化测试时通过所配置的液冷散热板对老化测试板及其上的芯片进行液冷散热，相较于传统的风冷散热方式，散热速度快且效率高，有助于保证高功率芯片的测试稳定性。
功率芯片老化测试

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