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[实用新型]多功能美容仪-CN202320266534.3有效
发明人：邓利平;毕仁爱;张经祥 -专利权人：广东金豪漾科技控股有限公司
申请日： 2023-02-17 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： A61N1/40 文献下载
摘要：本实用新型的多功能美容仪，包括美容仪本体和充电底座，充电底座设有腔口朝上的安装腔，美容仪本体底部插入安装腔中，以此方式可拆卸地安装在充电底座上，美容仪本体设有可由充电底座进行充电的蓄电池，安装腔腔壁的顶部开有供手机倾斜卡入放置的卡槽。在美容过程中，用户先用第一只手握住美容仪本体，将其拆离充电底座，然后用第二只手握住手机并让手机倾斜卡入充电底座的卡槽中，便可松开第二只手，无需持续握住手机，此时充电底座兼作手机支架，支撑手机使其保持倾斜，那么用户的第二只手就可以较为方便地拿起其他物品。
多功能美容

[发明专利]一种钢轨超声导波信号时间同步处理方法-CN202211619359.8在审
发明人：李志强;张经祥;程朝;秦凯;李树茂;王鹏跃;谭树林 -专利权人：陕西靖神铁路有限责任公司;西安全路通号器材研究有限公司
申请日： 2022-12-15 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01N29/44 文献下载
摘要：本发明属于超声导波结构健康监测技术，特别是关于一种钢轨超声导波信号时间同步处理方法，本发明采用GCC‑PHAT，即权值为PHAT的广义互相关方法，在互相关函数基础上增加权重函数，在功率谱域对信号进行加权，使相关函数的峰值锐化，提高了基准信号与测量信号间时延量计算的有效性及准确性，并利用该时延量对测量信号进行时域平移，实现了钢轨超声导波信号的时间同步处理，避免了由时延量导致的钢轨伤损误检。
一种钢轨超声导波信号时间同步处理方法

[发明专利]一种半导体开路测试机-CN202211427293.2在审
发明人：魏津;张经祥;胡雪原 -专利权人：胜达克半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2022-11-15 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体开路测试机，本发明通过设置两个多路复用器，一个多路复用器的复用端连接参数测量单元通道的Force信号，另一个多路复用器的复用端连接参数测量单元通道的Sense信号，两个多路复用器的多路端按照顺序一一连接后共同连接至对应的测试通道，两个多路复用器可以独立控制，亦可实现配对使用。当独立控制时，两个多路复用器可以各自选通不同的测试通道，当配对使用时，两个多路复用器会同时选通同一个测试通道，相当于被选通的测试通道就近短接Force和Sense，可以实现远端SENSE，可以抵消线缆及线路压降造成的误差，实现更精准的电压输出和电压测量。在测试通道资源比较充裕，且对于测量电压精度要求比较高的情况下，可提高测试机性能。
一种半导体开路测试

[发明专利]一种应用于相位调整电路的误差补偿计算方法-CN202110109098.4有效
发明人：魏津;张经祥;杜宇 -专利权人：胜达克半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2021-01-27 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种应用于相位调整电路的误差补偿计算方法。具体流程如下：S1：FPGA初始化；S2：FPGA自检，若显示正常，则继续步骤S3；若自检显示有误，则系统上报错误；S3：读取FPGA使用时间的长度；S4：计算电路漂移系数K=（1＋αt）*(1‑βt)*(1‑γ)；S5：根据电路漂移系数，计算相位补偿值T=RC*Ln[UVG1/(UVG1‑UC)]*K=RC*Ln[UVG1/(UVG1‑UC)]*（1＋αt）*(1‑βt)*(1‑γ)；S6：计算出需要输出给相位调整电路的比较器的电压值；S7：将输出的电压值给相位调整电路的数模转换器；S8：相位调整电路补偿配置完成。同现有技术相比，采用实测对相位偏移误差和时间建模，从而预测相位调整电路随时间产生误差，低成本方便的实现对使用时间造成的误差进行补偿。
一种应用于相位调整电路误差补偿计算方法

[发明专利]测试机AC校准方法及系统-CN202211310328.4在审
发明人：魏津;张经祥;燕南;胡雪原 -专利权人：胜达克半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2022-10-25 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开一种测试机AC校准方法，包括通过布线将多个测试通道汇聚一节点；以一测试通道为待校准测试通道，将其工作于驱动模式，其余测试通道工作于接收模式；在工作于驱动模式的测试通道上加载驱动信号，由工作于接收模式的测试通道捕获驱动信号；将工作于接收模式的测试通道预设为不同的捕获电压；基于驱动信号电压与捕获电压得到多个捕获时间；将捕获电压与捕获时间的组合代入等效电路的数学公式，得到时间常数与时间校准量的方程式；将多个关于时间常数与时间校准量的方程式进行拟合求解，得到待校准测试通道的时间校准量。本发明克服了多个测试通道汇聚于同一节点带来的线路阻抗突变、驱动波形变形严重以及信号时间无法精确校准的问题。
测试 ac 校准方法系统

[发明专利]一种用于晶圆测试的晶粒加权补偿计算方法-CN202110025085.9有效
发明人：魏津;张经祥;杜宇 -专利权人：胜达克半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2021-01-08 - 公布日： 2021-12-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种用于晶圆测试的晶粒加权补偿计算方法。具体流程如下：S1：通过PMU初测方法，找出晶圆上有代表性的某个晶粒的补偿值；S2：找出补偿值后，使用“过‑不过”测试方法对剩下的晶粒做快速测试；S3：如果S2中的“过‑不过”测试方法的结果使得大部分晶粒不通过，则回到S1初测方法，重新修正加权系数和补偿值；如果S2中的“过‑不过”测试方法的结果使得大部分晶粒通过，则确定该加权系数和补偿值；S4：对于S3中的剩下小部分不通过的晶粒，采用传统的PMU验证方法来进行测试。同现有技术相比，采用预设经验值和加权实际测试结果反馈系数的迭代算法，解决了测试时间的问题，快速找出每颗晶圆对应的补偿数值。
一种用于测试晶粒加权补偿计算方法

[实用新型]一种集成电路测试机的自诊断电路-CN202121143268.2有效
发明人：魏津;张经祥;吴艳平 -专利权人：胜达克半导体科技(上海)有限公司
申请日： 2021-05-26 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路。包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若干ODD‑EVEN载具板、Utility Diag载具板，ODD‑EVEN载具板一端连接数字通道模块，ODD‑EVEN载具板另一端分别连接精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块，Utility Diag载具板连接多功能继电器模块。同现有技术相比，充分利用了集成电路测试机本身的资源，无需使用额外的测试设备，大大节省了设备成本。采用互联互测方案，对相同的测试项，可以并发性测试，整个自诊断测试可以在半小时以内完成诊断，节省了时间成本。
一种集成电路测试诊断电路

[实用新型]一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路-CN202121144435.5有效
发明人：魏津;张经祥;吴艳平 -专利权人：胜达克半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2021-05-26 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路。一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路，所述的高压通道自检模块包括DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_S3端口、DPS_R0端口至DPS_R3端口、DPS_RS0端口至DPS_RS3端口、PMU_F0端口至PMU_F3端口、PMU_S0端口至PMU_S3端口、PMU_R0端口至PMU_R3端口、PMU_RS0端口至PMU_RS3端口，HV0端口至HV3端口。同现有技术相比，提供一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路，完成了普通的集成电路测试机内也能实现高压测试通道的自检的功能，增加了载具板的测试性能，大大降低了测试时间及测试成本。
一种集成电路测试高压数字通道自检模块诊断电路

[发明专利]一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法-CN202110026569.5有效
发明人：魏津;张经祥;胡雪原 -专利权人：胜达克半导体科技(上海)有限公司
申请日： 2021-01-08 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：本发明涉及模拟数字转换器技术领域，具体地说是一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，设置高精度参数测量单元工作参数；S2，设置数字测试通道为输入捕获模式；S3，执行数字测试通道样式程序，被测模拟数字转换器转换触发信号，并被数字测试通道捕获；S4，数字测试通道对抓取的数据进行成功‑出错判断，如果出错，记录出错的数据报告；S5，重复步骤S3‑S4，直至高精度参数测量单元电压升高至结束值；S6，查询出错报告，判断行‑不行，获得所有出错的数据报告进行分析。同现有技术相比，缩减了测试时间，精度高，提高测试效率。
一种低成本测试模拟数字转换器线性方法

[发明专利]一种半导体测试机多个测试通道直流参数的校准方法-CN202110853883.0有效
发明人：魏津;张经祥;胡雪原 -专利权人：绅克半导体科技（苏州）有限公司
申请日： 2021-07-28 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种半导体测试机多个测试通道直流参数的校准方法。包括半导体测试机，半导体测试机的每个待校准通道的输入端分别连接一个线性运算电路模块，其特征在于具体包括如下步骤：S1，每个线性运算电路模块共同连接一个非线性运算模块；S2，获取非线性变换公式；S3，得出每个待校准通道的线性变换公式；S4，将线性变换公式的斜率值、截距值写入线性运算电路模块；S5，对每个通道输入一个相同的输入值，运算得出第一中间值；S6，运算得出第二中间值；S7，运行得到相同的输出值。同现有技术相比，既满足了多个测试通道同步性、时效性的要求，又解决了多个测试通道直流参数校准的问题。
一种半导体测试机多个通道直流参数校准方法

[发明专利]一种集成电路测试机的自诊断电路及方法-CN202110577647.0在审
发明人：魏津;张经祥;吴艳平 -专利权人：胜达克半导体科技(上海)有限公司
申请日： 2021-05-26 - 公布日： 2021-08-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路及方法。包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若干ODD‑EVEN载具板、Utility Diag载具板，ODD‑EVEN载具板一端连接数字通道模块，ODD‑EVEN载具板另一端分别连接精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块，Utility Diag载具板连接多功能继电器模块；同现有技术相比，充分利用了集成电路测试机本身的资源，无需使用额外的测试设备，大大节省了设备成本。采用互联互测方案，对相同的测试项，可以并发性测试，奇数和偶数通道各测一次即可，节省了时间成本。
一种集成电路测试诊断电路方法

[发明专利]一种用于芯片测试机的自动校准方法及其应用-CN202011217240.9有效
发明人： 张经祥;魏津;蒋子凡 -专利权人：胜达克半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2020-11-04 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于芯片测试机的自动校准方法及其应用，包括以下步骤：获取芯片测试机的校准数据并根据校准数据绘制散点图；分别计算散点图中相邻的每两点的斜率(斜率数据)；将散点图中散点按照横坐标或纵坐标分为K1和K2两部分；分别针对K1和K2，分别计算第一个斜率数据、前2个斜率数据……所有斜率数据的标准差得到K1和K2的标准差数据组；分别筛选两标准差数据组中的标准差最大值，以该标准差最大值对应的点作为分段点将所有散点分为三段，分别进行曲线拟合得到拟合曲线。本发明的方法，采用斜率标准差法选取分段点，为芯片测试机测试数据的校准提供了一种标准化且可全自动完成的操作标准，极具应用前景。
一种用于芯片测试自动校准方法及其应用

[发明专利]一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法-CN202110345508.5在审
发明人：魏津;张经祥;吴艳平 -专利权人：胜达克半导体科技(上海)有限公司
申请日： 2021-03-31 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明涉及芯片测试机技术领域，具体地说是一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，取理想变化点；S2，取样本点，对每个样本点及理想变化点分别进行检测扫描，并记录每检测扫描结果；S3，多次重复步骤S2；S4，建立统计数据模型；S5，得到真实变化点；S6，重复步骤S2‑S5；S7，计算信号的整体偏差时间∆t；S8，将整体偏差时间∆t补偿在信号输入端。同现有技术相比，取一个时间周期内所有点，并对所有点进行多点、多次扫描获取若干个真实点的位置，再对若干个真实点取平均以覆盖一个周期内信号在各个位置变化的情况，充分考虑信号的分布，获取信号变化的精准位置进行补偿，从而提高信号抓取精度。
一种芯片测试提高抓取信号精度方法

[实用新型]一种平衡风道结构-CN202021472953.5有效
发明人： 张经祥;魏津;徐润生 -专利权人：胜达克半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2020-07-23 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： H05K7/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种平衡风道结构，包括纵向挡板和横向挡板；纵向挡板布置方向与板卡插槽平行，其完全覆盖板卡插槽且其上开有均匀分布的通孔结构，通孔结构的总面积占板卡插槽面积的50～70％；横向挡板垂直与纵向挡板，其布置在板卡布置槽的开口侧且完全覆盖板卡布置槽的空置位置。本实用新型的平衡风道结构，能够较为真实的模拟板卡插槽插入板卡的风路特性，在板卡布置槽空置位置布置该平衡风道结构能够保证板卡布置槽整体风道的平衡，保证板卡布置槽各处板卡的散热效果；结构简单，成本低廉，能够很好的平衡风道，极具应用前景。
一种平衡风道结构

[实用新型]一种芯片测试机的远程监控和维护系统-CN202022826594.5有效
发明人： 张经祥;魏津;杜宇 -专利权人：胜达克半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2020-11-30 - 公布日： 2021-07-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片测试机的远程监控和维护系统，包括FPGA自检系统、通讯模块及远程监控服务器；FPGA自检系统与芯片测试机主控FPGA通讯连接且通过通讯模块与远程监控服务器连接；FPGA自检系统获取芯片测试机主控FPGA输出的芯片测试机运行数据信号后通过通讯模块发送至远程监控服务器，远程运维人员通过远程监控服务器即可获知芯片测试机当前运行状态，如有需要其可通过远程监控服务器、通讯模块、FPGA自检系统向芯片测试机主控FPGA发送处理指令，完成对芯片测试机的远程维护。本实用新型的系统，整体结构简单，成本低廉，实现对芯片测试机的远程监控和维护，大大降低了人力成本，极具应用前景。
一种芯片测试远程监控维护系统

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