专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]测试针装置及芯片测试机-CN202221716920.X有效
  • 段雄斌;张利利;庞华贵;何选民 - 深圳市标谱半导体股份有限公司
  • 2022-07-05 - 2022-12-16 - G01R31/28
  • 本申请属于芯片测试技术领域,尤其涉及一种测试针装置及芯片测试机,该测试针装置包括固定座、应变式传感器、连接座和测试针;应变式传感器具有相对设置的固定端和检测端,固定端安装于固定座上;连接座与检测端连接;测试针具有相对设置的测试端和安装端,测试端用于与芯片的引脚接触,安装端安装于连接座上。该测试针装置通过该应变式传感器反馈电信号可准确地判断出测试针是否与芯片的引脚接触,而无需来回反复地升降测试针,识别时间短,效率高,且判断准确性好,精度高,可避免测试过程中良品误判,另外,根据应变可换算出测试针的实际受力,从而使得测试针的受力能够量化,实现自动化获取测试针所受压力的数据量化。
  • 测试装置芯片
  • [实用新型]芯片检测收光装置及芯片测试机-CN202221716169.3有效
  • 段雄斌;张利利;庞华贵;何选民 - 深圳市标谱半导体股份有限公司
  • 2022-07-05 - 2022-12-09 - G01N21/01
  • 本申请属于芯片光测试技术领域,尤其涉及一种芯片检测收光装置及芯片测试机,该芯片检测收光装置包括安装座、积分球、光线和转盘,所述积分球安装于所述安装座上;所述光纤安装于所述安装座上,所述光纤的进光端与所述积分球的出光口相对设置;所述转盘转动安装于安装座上并位于所述光纤的进光端与所述积分球的出光口之间,所述转盘的周缘开设有多个安装孔,所述安装孔沿所述转盘的周向分布,不同的所述安装孔内安装有不同的透光片;其中,所述转盘相对于所述安装座转动时能够驱动不同的所述透光片与所述积分球的出光口相对设置。该芯片检测收光装置能够满足多样化多档位的测试需求,适用范围广,通用性好。
  • 芯片检测装置测试
  • [实用新型]探针升降驱动装置及芯片测试机-CN202221731107.X有效
  • 段雄斌;张利利;庞华贵;何选民 - 深圳市标谱半导体股份有限公司
  • 2022-07-05 - 2022-12-09 - G01R31/28
  • 本申请属于芯片测试技术领域,尤其涉及一种探针升降驱动装置及芯片测试机,该探针升降驱动装置包括固定座、安装座、电机、凸轮、随动器和弹性件;安装座用于供探针安装,安装座与固定座滑动连接并能够相对于固定座上下滑动;电机与固定座连接;电机的输出轴与凸轮连接,并用于驱动凸轮转动;随动器与安装座连接,凸轮和随动器上下分布;弹性件的两端分别与安装座和固定座连接,并用于在凸轮转动的过程中能够使得随动器始终与凸轮的外周壁抵接。该探针升降驱动装置内的安装精度低,生产时间短,生产效率高,生产成本低;另外,电机的输出轴转动较小的角度时可通过凸轮实现探针的较大位移,从而提高了探针的运行速度,提高了芯片测试机的测试效率。
  • 探针升降驱动装置芯片测试
  • [实用新型]晶元蓝膜测试盘及晶元测试机-CN202221731124.3有效
  • 段雄斌;张利利;庞华贵;何选民 - 深圳市标谱半导体股份有限公司
  • 2022-07-05 - 2022-11-11 - G01N21/01
  • 本申请属于晶元测试技术领域,尤其涉及一种晶元蓝膜测试盘及晶元测试机,该晶元蓝膜测试盘包括基板、支撑板、子母环和铁环:所述基板开设有镂空孔;所述支撑板安装于所述基板上,并封盖住所述镂空孔;所述子母环安装于所述基板上,并环绕所述支撑板设置;所述铁环安装于所述基板上,并环绕所述子母环设置。该晶元蓝膜测试盘能够兼容铁环及子母环的测试固定方式,即能够兼容不同的晶元蓝膜固定方式;另外,在生产过程中,如需要更换不同的固定方式,也无需更换晶元蓝膜测试盘,选择对应固定方式的固定部件即可,从而大大提高了转产速度。
  • 晶元蓝膜测试
  • [发明专利]测试针调节组件及芯片测试设备-CN202210781965.3在审
  • 段雄斌;张利利;庞华贵;何选民 - 深圳市标谱半导体科技有限公司
  • 2022-07-05 - 2022-08-05 - G01R31/28
  • 本申请属于芯片测试技术领域,尤其涉及一种测试针调节组件及芯片测试设备,该测试针调节组件包括固定座、与固定座滑动连接的X轴移动座、与X轴移动座活动连接的X轴调节件、与X轴移动座滑动连接的Z轴移动座、与X轴移动座活动连接的Z轴调节件、与Z轴移动座滑动连接的Y轴移动座和与Z轴移动座活动连接的Y轴调节件,X轴调节件能够驱动X轴移动座相对于固定座沿X方向滑动;Z轴调节件能够驱动Z轴移动座相对于X轴移动座沿Z方向滑动;Y轴调节件能够驱动Y轴移动座相对于Z轴移动座沿Y方向滑动;X轴调节件、Z轴调节件和Y轴调节件位于测试针调节组件的同一侧,这样操作人员可从一侧对测试针进行调节,调节效率高,调节所需空间小。
  • 测试调节组件芯片设备
  • [发明专利]芯片测试设备-CN202210782000.6在审
  • 段雄斌;张利利;庞华贵;何选民 - 深圳市标谱半导体科技有限公司
  • 2022-07-05 - 2022-08-05 - G01R31/28
  • 本申请属于芯片测试技术领域,尤其涉及一种芯片测试设备,包括机架、芯片载台、测试组件、视觉组件、积分球组件和平移机构,芯片载台安装于机架上;测试组件安装于机架上,测试组件包括用于与芯片的引脚接触的测试针;视觉组件位于芯片载台的上方;积分球组件能够收集芯片发出的光线,积分球组件能够安装于机架上;平移机构与机架连接,平移机构的移动端与视觉组件连接;积分球组件还能够安装于平移机构的移动端上;积分球组件在安装于机架上时位于芯片载台的下方;积分球组件在安装于平移机构的移动端上时位于芯片载台的上方并与视觉组件沿平移机构移动端的平移方向并排设置,该芯片测试设备能够同时兼容正装芯片和倒装芯片的测试需求。
  • 芯片测试设备
  • [实用新型]一种荧光膜检测设备-CN201921570901.9有效
  • 刘振辉;庞华贵;林港睿;李方;蔺龙 - 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
  • 2019-09-20 - 2020-06-30 - G01N21/64
  • 本实用新型公开了一种荧光膜检测设备。所述荧光膜检测设备包括,用于发出测试荧光膜用光线的光源,所述光源通过伸展臂安装于机架;用于收集光线的积分球,所述积分球位于光源的正上方并安装于机架;所述积分球于光源之间设置有荧光膜运动空间,使荧光膜的荧光粉区域能够位于光源和积分球之间,积分球能够收集光源发出的且穿过荧光膜的光线;用于放置荧光膜的载片部,所述载片部通过多个支撑柱连接于固定在机架上的XY平台;所述多个支撑柱分布于荧光膜左侧,所述安装有光源的伸展臂沿平行于荧光膜左右方向最大尺寸安装于荧光膜右侧;支撑柱不影响光源到达荧光粉区域任意位置,载片部体积小。
  • 一种荧光检测设备
  • [实用新型]一种荧光膜检测设备-CN201921570096.X有效
  • 刘振辉;庞华贵;林港睿;李方;蔺龙 - 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
  • 2019-09-20 - 2020-06-30 - G01N21/84
  • 本实用新型公开了一种荧光膜检测设备。所述荧光膜检测设备设置有,基板;料盒安装部,通过第一竖直滑轨连接于基板,所述料盒安装部能够沿所述第一竖直滑轨沿竖直方向运动;所述料盒安装部用于放置并固定料盒;取料部,通过第二竖直导轨连接于第一水平导轨,所述第一水平导轨固定于支撑部;载料部,用于放置待测试的荧光膜;所述取料部能够将荧光膜沿第一水平导轨传送到载料部;所述取料部从料盒取荧光膜水平高度等于载料部水平高度;所述取料部沿第二竖直导轨运动的距离小于料盒中相邻两张荧光膜之间的距离;取料部沿竖直方向位置参数少,便于保证取料部竖直方向的位置,增强所述荧光膜检测设备的稳定性。
  • 一种荧光检测设备

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