专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于高斯混合模型的WAT异常数据检测方法及系统-CN202310348151.5在审
  • 庄均珺;陈旭;魏峥颖 - 上海华力微电子有限公司
  • 2023-03-31 - 2023-07-14 - G06F18/2321
  • 本发明提供了一种基于高斯混合模型的WAT异常数据检测方法及系统,方法包括:获取WAT数据服从多峰分布时的峰数;基于所述峰数定义N个高斯分布,并初始化各个高斯分布的参数;利用高斯混合模型进行迭代,直至各参数收敛,得到多个高斯分布,以及得到各个高斯分布的权重;计算所述WAT数据在不同高斯分布中的概率密度,并根据所述概率密度以及对应高斯分布的权重计算所述WAT数据为正常数据的概率。本发明基于高斯混合模型对呈多峰分布的WAT数据进行分峰处理,将多峰数据分解为多个高斯分布,再根据WAT数据在不同高斯分布中的概率密度以及对应权重计算其为正常数据的概率,即可检测出数据是否异常,避免出现误报或者漏报的情况。
  • 基于混合模型wat异常数据检测方法系统
  • [发明专利]晶背缺陷图检索及预警方法、存储介质及计算机设备-CN202010577051.6在审
  • 庄均珺;王泽逸;郭明;陈旭;王艳生 - 上海华力微电子有限公司
  • 2020-06-22 - 2020-10-09 - G06T7/00
  • 本发明提供了一种晶背缺陷检测及预警方法、存储介质及计算机设备,通过自编码器神经网络对数据库中已知晶背缺陷图进行训练,得到晶背缺陷图检索模型并利用晶背缺陷检索模型提取已知晶背缺陷图的高维特征,并对其编码产生第一编码数据库;对于待检索晶背缺陷图,利用晶背缺陷图检索模型第二编码数据,利用最近邻算法在第一编码数据库中搜索第二编码数据;根据所述第二编码数据在第一编码数据库中存在与否,得出待待检索晶背缺陷图为未知缺陷预警还是已知缺陷类型。由此,不仅节约了人力成本,大大缩短了判断时间,提高了效率,而且,基于现有已知晶背缺陷图,提高了检索的精准率,降低了漏检率和误报率,为提高后续工艺的良率提供了重要保证。
  • 缺陷检索预警方法存储介质计算机设备
  • [发明专利]晶圆图形提取方法及其提取系统-CN201911133023.9在审
  • 庄均珺;陈旭 - 上海华力微电子有限公司
  • 2019-11-19 - 2020-03-10 - G06T7/00
  • 本发明公开了一种基于神经网络组合单一图形分类器将晶圆图像训练分类的晶圆图形提取方法,包括:将晶圆图形调整为预设尺寸,并提取图像初级纹理特征;利用神经网络对图像纹理特征进行高阶特征提取,训练后形成不同晶圆图形的单一图形分类器;按单一图形分类器组合规则将单一图形分类器组合形成判断分类器;将晶圆图像输入到判断分类器,判断分类器根据判断规则输出该晶圆图像存在哪几类图形。本发明还公开了一种基于神经网络单一图形分类器将晶圆图像训练分类的晶圆图形提取系统。本发明利用神经网络训练单一图形分类器,组合形成判断分类器,相对于人工晶圆图形识别分类效率更高,准确率更高,能减轻工程师的负担。
  • 图形提取方法及其系统

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