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[实用新型]一种测量珍珠用夹具以及珍珠无损检测设备-CN201320631373.X有效
发明人：何锦锋;曾明;廖斌;张清 -专利权人： 广西壮族自治区质量技术监督局珍珠产品质量监督检验站
申请日： 2013-10-14 - 公布日： 2014-06-11 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测量珍珠用夹具以及珍珠无损检测设备，夹具包括：容纳体，其包括彼此相邻的两个部分；固定夹头，其固定在容纳体的第一部分上，两端分别伸入两个容纳腔内，固定夹头的任一个端面的形状为：由垂直于一个球面的直径的平面在该球面上截取的曲面，固定夹头的两个端面的直径重合；两个可动夹头，第一可动夹头与所述固定夹头的一个端面相对，以将标准球体夹持在其间，第二可动夹头与所述固定夹头的另一个端面相对，以将待测珍珠夹持在其间。珍珠无损检测设备包括：夹具；X光管；成像设备，用于接收透过所述夹具的X射线，并成像。本实用新型中，标准球体和待测珍珠的中心将被限制在一直线上，以便检测过程的准确进行，检测精度高。
一种测量珍珠夹具以及无损检测设备

[发明专利]一种珍珠珠层厚度的无损检测方法-CN201310477690.5有效
发明人：何锦锋;曾明;廖斌;张清 -专利权人： 广西壮族自治区质量技术监督局珍珠产品质量监督检验站
申请日： 2013-10-14 - 公布日： 2014-01-22 - 主分类号： G01B15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种珍珠珠层厚度的无损检测方法，包括以下步骤：将标准球体设置在X射线放射源和成像平面之间，使标准球体的球心位于参考直线上；利用X射线放射源照射标准球体，从而在成像平面上得到一标准球体图像，测量标准球体图像的半径R0，计算比例系数μ＝r0/R0，其中，r0为标准球体的半径；将待测珍珠设置在X射线放射源和成像设备之间，使待测珍珠的球心位于参考直线上；利用X射线放射源照射待测珍珠，从而在成像平面上得到待测珍珠图像，待测珍珠图像包括珠核图像和环状的珠层图像，测量待测珍珠图像的半径R1以及珠核图像的半径R2，待测珍珠的半径为r1＝μR1，珠核的半径为r2＝μR2，珠层厚度为r＝r1-r2。基于本发明的计算过程中的误差可控，测量结果更为准确。
一种珍珠厚度无损检测方法

[发明专利]一种测量珍珠用夹具以及珍珠无损检测设备-CN201310477310.8有效
发明人：何锦锋;曾明;廖斌;张清 -专利权人： 广西壮族自治区质量技术监督局珍珠产品质量监督检验站
申请日： 2013-10-14 - 公布日： 2014-01-22 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量珍珠用夹具以及珍珠无损检测设备，夹具包括：容纳体，其包括彼此相邻的两个部分；固定夹头，其固定在容纳体的第一部分上，两端分别伸入两个容纳腔内，固定夹头的任一个端面的形状为：由垂直于一个球面的直径的平面在该球面上截取的曲面，固定夹头的两个端面的直径重合；两个可动夹头，第一可动夹头与所述固定夹头的一个端面相对，以将标准球体夹持在其间，第二可动夹头与所述固定夹头的另一个端面相对，以将待测珍珠夹持在其间。珍珠无损检测设备包括：夹具；X光管；成像设备，用于接收透过所述夹具的X射线，并成像。本发明中，标准球体和待测珍珠的中心将被限制在一直线上，以便检测过程的准确进行，检测结果精度高。
一种测量珍珠夹具以及无损检测设备

[发明专利]一种珍珠珠层厚度的无损检测方法-CN201310477360.6有效
发明人：何锦锋;曾明;廖斌;张清 -专利权人： 广西壮族自治区质量技术监督局珍珠产品质量监督检验站
申请日： 2013-10-14 - 公布日： 2014-01-22 - 主分类号： G01B15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种珍珠珠层厚度的无损检测方法，包括：利用X射线放射源逐一照射两个待测物体，得到两个初始图像；依据像素点的灰度值，判断一个像素点是否为边界点，从而从初始图像中识别出待测物体图像的所有的边界点；对于标准球体，利用识别出的边界点拟合成一个圆，并以该圆的半径为标准球体图像的半径R0；对于待测珍珠，利用识别出的边界点拟合成三个同心圆，其中，以位于中心的一个圆的半径为珠核图像的半径R2，以位于最外侧的一个圆的半径为待测珍珠图像的半径R1；待测珍珠的半径为r1=μR1，珠核的半径为r2=μR2，则珠层厚度为r=r1-r2，其中，比例系数μ=r0／R0，r0为标准球体的半径。本发明实现了珠层厚度的计算，测量结果更为准确。
一种珍珠厚度无损检测方法