专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]自动分析装置-CN202180094737.2在审
  • 岩濑友一;宫川拓士;宫本隼佑;三宅雅文 - 株式会社日立高新技术
  • 2021-12-03 - 2023-10-24 - G01N35/00
  • 实现一种能够自动检测注射泵单元中的柱塞的故障的自动分析装置。自动分析装置具备:试样分注机构,其具有液面检测功能,向液体收纳容器(11)排出试样;试剂分注机构(60),其向液体收纳容器(11)排出试剂;以及控制部,其控制试样分注机构以及试剂分注机构(60)的动作,对上述试样进行分析。试样分注机构和试剂分注机构分别具有吸取并排出液体的柱塞(45)以及驱动柱塞(45)的柱塞驱动部(47、48、49),控制部进行动作控制使得通过试剂分注机构(60)的柱塞驱动部(47、48、49)使柱塞(45)以背隙的距离往复移动预定次数,并通过液面检测功能检测排出到液体收纳容器(11)的液量来检测柱塞(45)的故障。
  • 自动分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN201880011681.8有效
  • 森高通;川原铁士;岩濑友一 - 株式会社日立高新技术
  • 2018-01-23 - 2022-12-13 - G01N35/10
  • 本发明提供具有即使扩大探针的清洗范围,也能够以短时间实施从探针的清洗到干燥的清洗机构的自动分析装置。自动分析装置具有:具有能够插入探针且设有吸引口(43a~c)的清洗端口的清洗槽(33);真空罐(56);使真空罐成为相比大气压为负压的状态的真空泵(55);真空瓶(51);连接清洗端口的吸引口和真空瓶的吸引喷嘴(53);连接真空罐和真空瓶的真空喷嘴(54);以及控制器,其中,在清洗端口正在吐出清洗探针的清洗液的期间,控制器使成为负压的状态的真空罐和清洗端口经由真空瓶导通。
  • 自动分析装置
  • [发明专利]电解质分析装置-CN202080093006.1在审
  • 熊谷孝宏;宫川拓士;岩濑友一;山本遇哲;川原铁士 - 株式会社日立高新技术
  • 2020-12-03 - 2022-09-02 - G01N27/28
  • 本发明涉及一种电解质分析装置(100),其基于由离子选择电极(1)测定预先决定的离子浓度的试剂后的结果以及由离子选择电极测定样本后的结果,来测定样本中的特定离子的浓度,该电解质分析装置具备利用纯水将浓度比预先决定的离子浓度高的浓缩内部标准液进行稀释还原而生成预先决定的离子浓度的试剂的试剂部(103)以及机构部(104),试剂生成部以使由稀释还原而得到的试剂与纯水的温度差的绝对值比由稀释还原而得到的试剂与试剂原液的温度差的绝对值小的方式生成试剂。由此,能够用更简便的结构来控制试剂的温度。
  • 电解质分析装置
  • [发明专利]电解质分析装置-CN202080090800.0在审
  • 岩濑友一;宫川拓士;熊谷孝宏;山本遇哲;川原铁士 - 株式会社日立高新技术
  • 2020-12-03 - 2022-08-19 - G01N35/00
  • 具备:第一流路,从容纳高浓度试剂的高浓度试剂瓶输送高浓度试剂;第二流路,从容纳用于稀释高浓度试剂的试剂稀释液的试剂稀释液瓶输送试剂稀释液;合流部,使第一流路与第二流路合流;第三流路,从合流部输送作为高浓度试剂与试剂稀释液的混合液的调制试剂;稀释槽,容纳调制试剂;调制试剂喷出管嘴,用于将由第三流路输送的调制试剂向稀释槽喷出;输送机构,将高浓度试剂和试剂稀释液以预定的比率向合流部输送,以使经由第三流路从调制试剂喷出管嘴向稀释槽喷出的调制试剂成为预定的浓度;以及分析部,利用容纳于稀释槽的调制试剂进行分析。由此,能够以更简便的装置结构更高精度地稀释试剂来进行调制。
  • 电解质分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN201980054937.8在审
  • 岩濑友一;野中昂平;川原铁士 - 株式会社日立高新技术
  • 2019-10-18 - 2021-04-09 - G01N35/10
  • 通过使得样品分注系统的配管内部的流体温度稳定,能够稳定地维持高精度分注性能。自动分析装置包括使用样品探针(20)对样品分注位置处的样品进行分注的样品分注系统和控制样品分注系统的装置控制部(26),装置控制部在样品被运送至样品分注位置前的待机状态下通过第一动作序列(40),在对位于样品分注位置的样品进行分注的分析状态下通过第二动作序列(30),使得样品分注系统动作,将在第一动作序列的1个循环中进行样品探针的内部清洗的时间设定为比在第二动作序列的1个循环中进行样品探针的内部清洗的时间短,或者,将第一动作序列设定为以多个循环中1次的比例进行样品探针的内部清洗。
  • 自动分析装置

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