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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]带电粒子束装置-CN201880092617.7在审
发明人： 大津贺一雄;今井悠太;野间口恒典 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2018-06-12 - 公布日： 2020-11-27 - 主分类号： H01J37/244 文献下载
摘要：带电粒子束装置，包含：带电粒子源，生成对样品照射的带电粒子束；带电粒子检测部，检测当对所述样品照射了所述带电粒子束时发生的带电粒子；强度数据生成部，生成由所述带电粒子检测部检测出的带电粒子的强度的数据；波高值数据生成部，生成由所述带电粒子检测部检测出的带电粒子的波高值的数据；以及输出部，输出基于所述强度的数据的所述样品的第1图像、和基于所述波高值的数据的所述样品的第2图像。
带电粒子束装置

[发明专利]半导体集成电路-CN201210451048.5有效
发明人：小野内雅文;大津贺一雄;五十岚康人;森田贞幸;石桥孝一郎;柳泽一正 -专利权人：瑞萨电子株式会社
申请日： 2012-11-12 - 公布日： 2013-05-15 - 主分类号： G05F1/56 文献下载
摘要：本发明提供了一种半导体集成电路，该半导体集成电路包括：多个输出晶体管，每个输出晶体管根据施加到控制端的阻抗控制信号所指示的控制值，相对于负载电流的量值控制输出电压的量值；电压监控电路，其输出输出电压监控值，该输出电压监控值指示输出电压的电压值；以及控制电路，其根据指示输出电压的目标值的基准电压和输出电压监控值之间的误差值的量值来控制控制值的量值，并且基于控制值来控制是否使这些晶体管的任一个成为导通状态。根据预先通知负载电流变化的预告信号，在预定时段内，控制电路相对于误差值增大控制值的变化步长。
半导体集成电路

[发明专利]半导体集成电路-CN200810184445.4无效
发明人： 大津贺一雄;长田健一;菅野雄介 -专利权人：株式会社瑞萨科技
申请日： 2008-12-24 - 公布日： 2009-07-01 - 主分类号： H03K19/00 文献下载
摘要：本发明提供一种在装载了多个功能块的SoC中适用于基于向量输入的漏电流削减方法的扫描链结构及其控制方法。该半导体集成电路器件包括具有多个功能块的多个电源块(Area1～AreaN)、能够对电源块提供工作用电源的电源开关(PSW1～PSWN)、对每个电源块设置的扫描链、对扫描链提供能够转变为低漏电状态的向量的存储部(VEC)，通过将扫描链改为仅连接非工作的功能块，而能在短时间内转变为低漏电状态。
半导体集成电路

[发明专利]片内电流测量方法和半导体集成电路-CN200710199829.9无效
发明人： 大津贺一雄;山田哲也;长田健一;菅野雄介 -专利权人：株式会社瑞萨科技
申请日： 2007-12-13 - 公布日： 2008-06-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种片内电流测量方法和半导体集成电路，用于测量芯片在正常工作状态下的电路块的电流。该半导体集成电路包括：具有预定功能的电路块(C1)；能对上述电路块提供工作用电源的电源开关(PSW1)；以及根据上述电源开关被接通状态下的电源开关的端子间电压和电源开关的导通电阻，算出流入上述电路块的电流的电流测量电路(100)。根据上述电源开关被接通状态下的上述电源开关的端子间电压和上述电源开关的导通电阻，算出流入上述电路块的电流，从而能够测量芯片在正常工作状态下的电路块的电流。
电流测量方法半导体集成电路

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