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- [发明专利]扫描路径形成电路-CN96111531.9无效
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大泽德哉;前野秀史
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三菱电机株式会社
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1996-08-22
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2004-02-11
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G11C29/00
- 连接电路(CC)由选择器(2，3)和触发器(4)形成的。测试保持控制信号(thld)和移位方式控制信号(sm)分别开关地控制着选择器(2，3)。一个扫描输入端(si)连接至选择器(2)的数据输入0端，同时，触发器(4)的输出端连接至它的数据输入1端。选择器(2)的输出端连接至选择器(3)数据输入1端，输入端(d)连接至选择器(3)的数据输入0端，选择器(3)的输出端连接至触发器的一个输入端。触发器(4)的输出端还连接至扫描输出端(so)和连接电路(CC)的一输出端(q)，在常规操作中，通过输入端(d)输入数据，这样，提供了一种扫描路径形成电路，在常规操作中得到高速操作。
- 扫描路径形成电路
- [发明专利]半导体集成电路装置-CN98119300.5无效
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前野秀史;大泽德哉
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三菱电机株式会社
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1998-09-18
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1999-07-21
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G11C29/00
- 得到具有能早期地识别内部的被测试的存储电路的故障的有无的测试电路的半导体集成电路装置。在将移位模式信号SM定为“1”、测试模式信号TM定为“1”的第1测试模式时,如果将比较控制信号CMP定为“1”,则成为测试有效状态。而且,各自在指示故障时成为“0”的输入数据D与预期值数据EXP的比较结果(比较器21的输出)、串行输入SI和锁存数据(D－FF27的数据输出Q)的“与”运算结果经由“与非”门28、29、“与”门30和选择器26,供给D－FF27的D输入端。
- 半导体集成电路装置
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