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[发明专利]成像装置、成像装置的制造方法和电子设备-CN202180070653.5在审
发明人：望月健矢;中泽圭一;吉田慎一;西尾贤哉;藤井宣年;斋藤卓;冈本正喜;鎌谷良介;山本雄一;厳樫一孝;宫波勇树;吉冈浩孝;堀越浩;黒鸟托也;古瀬骏介;本多孝好 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2021-10-11 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： H01L21/3205 文献下载
摘要：本公开提供了一种成像装置(1)，包括：第一半导体基板(100)，其设置有光电转换元件；第二半导体基板(200)，其隔着层间绝缘膜(123)层叠在所述第一半导体基板上，并且设置有将在所述光电转换元件中生成的电荷作为像素信号读出的像素电路；和通孔(600)，其贯通所述层间绝缘膜并且电气连接所述第一半导体基板的与所述第二半导体基板相面对的第一面和与所述第二半导体基板的与所述第一面相面对的第二面的至少一部分。
成像装置制造方法电子设备

[发明专利]封装和电子装置-CN202010401437.1有效
发明人：平野嵩明;宫泽信二;前田兼作;守屋雄介;古瀬骏介;大冈豊 -专利权人：索尼公司
申请日： 2014-03-07 - 公布日： 2022-09-16 - 主分类号： H04N5/369 文献下载
摘要：本发明涉及一种封装和电子装置。所述封装可包括：多层基板，包括光学元件；透光板，设置在所述多层基板上，以覆盖所述光学元件；以及透镜，设置在所述多层基板和所述透光板之间，其中，当俯视观察所述多层基板时，由与所述透镜相同的材料形成的结构设置在形成有所述光学元件的有效感光区域的外侧的一部分处。本发明能够实施控制以使得不发生透镜变形。
封装电子装置

[发明专利]封装和电子装置-CN202010401822.6在审
发明人：平野嵩明;宫泽信二;前田兼作;守屋雄介;古瀬骏介;大冈豊 -专利权人：索尼公司
申请日： 2014-03-07 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明涉及一种封装和电子装置。所述封装可包括：支撑基板；半导体基板；有效感光区域，包括在所述半导体基板中的光学元件并且包括透镜；有效感光区域外围区域；端部，位于所述封装的外缘和所述有效感光区域外围区域之间；配线层，在所述支撑基板和所述半导体基板之间；以及以与所述透镜相同的材料形成并且设置在所述有效感光区域外围区域的结构。本发明能够实施控制以使得不发生透镜变形。
封装电子装置

[发明专利]半导体器件和电子装置-CN201480010495.4有效
发明人：平野嵩明;宫泽信二;前田兼作;守屋雄介;古瀬骏介;大冈豊 -专利权人：索尼公司
申请日： 2014-03-07 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： H01L27/14 文献下载
摘要：本发明涉及能够实施控制以使得不发生透镜变形的半导体器件和电子装置。所述半导体器件设置有：半导体基板，所述基板上形成有光学元件；透光板，所述透光板以覆盖所述光学元件的方式设置在所述半导体基板上；和无机材料透镜，所述透镜设置在所述半导体基板与所述透光板之间。当以俯视视角观察所述半导体基板时，在形成有所述光学元件的有效感光区域的外侧的部分布置有具有与每单位表面积的透镜相同的力的结构体。例如，所述结构体具有与透镜相同的形状并且由相同的材料形成。本发明能够应用于具有无腔CSP的成像器件。
半导体器件电子装置

[发明专利]封装和电子装置-CN201911080841.7在审
发明人：平野嵩明;宫泽信二;前田兼作;守屋雄介;古瀬骏介;大冈豊 -专利权人：索尼公司
申请日： 2014-03-07 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明涉及一种封装和电子装置。所述封装包括：支撑基板；配线层，在所述支撑基板上；半导体基板，在所述配线层上；有效感光区域，包括在所述半导体基板中的光学元件并且包括透镜；有效感光区域外围区域；端部，位于所述封装的外缘和所述有效感光区域外围区域之间；以及具有与所述透镜的每单位面积强度相同的强度的结构，当俯视观察所述半导体基板时，所述结构设置在形成有所述光学元件的所述有效感光区域的外侧的一部分处。本发明能够实施控制以使得不发生透镜变形。
封装电子装置

[发明专利]封装和电子装置-CN201810208372.1有效
发明人：平野嵩明;宫泽信二;前田兼作;守屋雄介;古瀬骏介;大冈豊 -专利权人：索尼公司
申请日： 2014-03-07 - 公布日： 2020-01-14 - 主分类号： H04N5/369 文献下载
摘要：本发明涉及封装和电子装置。其中封装包括：半导体基板；滤色器层，位于半导体基板的光入射侧；透光板；有效像素区，包括微透镜层和位于半导体基板中的多个光电转换区，其中，所述微透镜层在滤色器层和所述透光板之间；端部；有效感光区域外围区域，包括伪透镜且位于所述有效像素区和所述端部之间，其中，所述伪透镜是通过将所述微透镜层延展至所述有效感光区域外围区域形成的；以及有机材料层，位于所述伪透镜和所述透光板之间，其中，所述有机材料层从所述有效感光区域外围区域延伸至所述端部，其中，所述端部在所述封装的外缘和所述有效感光区域外围区域之间，并且所述透光板的边缘与所述封装的所述外缘一致。
封装透明基板微透镜层过渡区半导体基板有效像素区透镜有机材料层电子装置滤色器层光电转换区光入射微透镜延伸

[发明专利]光检测装置及用于该光检测装置的光学滤光器-CN201110310752.4无效
发明人：中原健;赤坂俊辅;坂本晃辉;藤井哲雄;古瀬骏介;有村聪一郎 -专利权人：罗姆股份有限公司
申请日： 2011-10-14 - 公布日： 2012-05-16 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明提供一种能够有选择地、高灵敏度地检测特定波长区域的光的光检测装置及用于该光检测装置的光学滤光器。在支承基板上形成有两个受光元件。第一受光元件由p型层、n型层、光吸收半导体层、阳极电极、阴极电极、保护膜等构成。第二受光元件由p型层、n型层、透射膜、阳极电极、阴极电极、保护膜等构成。吸收波长范围为λ的光的光吸收半导体层配置在比pn结区域更靠受光面侧的位置。不存在光的吸收区域的透射膜配置在比pn结区域更靠受光面侧的位置。通过计算第一受光元件的检测信号和第二受光元件的检测信号，计测波长范围为λ的光量。
检测装置用于光学滤光