“北京量拓科技有限公司”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果17个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[实用新型]一种自动控制的自准直样品对准装置-CN202220881805.1有效
发明人：孟永宏;朱宗洋;杨良 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2022-04-15 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G02B27/30 文献下载
摘要：本申请公开了一种自动控制的自准直样品对准装置，其包括光学自准望远系统和显微物镜组，所述光学自准望远系统包括光学器件套筒，所述光学器件套筒的底部设置有自动调节装置，所述自动调节装置能够调节显微物镜组的位置，使显微物镜组的光轴与光学器件套筒的光轴重合。本申请具有便于使显微系统和自准直望远系统的光轴快速重合的效果，进而实现自准直望远系统与显微系统的功能能够便捷切换的目的。
一种自动控制样品对准装置

[实用新型]一种快速高精度宽光谱光学波片的检测系统-CN202220576352.1有效
发明人：孟永宏;朱宗洋;杨良 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2022-03-16 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请涉及一种快速高精度宽光谱光学波片的检测系统，包括起偏臂、样品台以及检偏臂,整个系统的光轴垂直于地面，待测样品水平放置在样品台上，其中检偏臂上半反半透镜的设置能够实现宽光谱的同时检测。该系统可以操作第一电机和第二电机旋转设定角度以实现采用Muller矩阵或单C旋转等不同方式对待测样品进行测量。本申请在减少待测样品上受到的应力、保证样品各处受力均匀、提高测量结果精确性的同时，还可以实现光学波片的快慢轴方位角、相位延迟差的宽光谱超消色差高精度检测。
一种快速高精度光谱光学检测系统

[实用新型]一种可实现入射角从90度扫描到小角度的多波段反射系统-CN202220219312.1有效
发明人：孟永宏;杨良;孙文杰 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2022-01-25 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本申请涉及一种可实现入射角从90度扫描到小角度的多波段反射系统，其包括承载平台、深紫外近红外出光臂、深紫外近红外检测臂、中红外出光臂、中红外检测臂、样品台、第一旋转台以及第二旋转台，深紫外近红外出光臂固定在承载平台的一端，中红外出光臂固定在承载平台远离深紫外近红外出光臂的一端，第一旋转台与承载平台转动连接，转动轴沿垂直承载平台方向设置，深紫外近红外检测臂和中红外检测臂均固定在第一旋转台上，且深紫外近红外检测臂和中红外检测臂相邻设置，中红外检测臂靠近中红外出光臂，第二旋转台与第一旋转台转动连接，转动轴沿垂直承载平台方向设置，且第一旋转台以及第二旋转台为同轴旋转，样品台固定在第二旋转台远离承载平台的一侧，用于承载样品，本申请具有可变入射角范围大的效果。
一种实现入射角 90 扫描角度波段反射系统

[实用新型]一种大入射角度范围调整的偏振态测量系统-CN202220219380.8有效
发明人：孟永宏;杨良;朱宗洋 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2022-01-25 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本申请涉及偏振测量系统，尤其是涉及一种大入射角度范围调整的偏振态测量系统，其技术方案要点是：偏振测量系统包括起偏臂、检偏臂和载物台，还包括支撑架、固定在支撑架上的转轴，以及两个角度调整机构，其中一个角度调整机构用于驱动起偏臂围绕转轴定轴转动，起偏臂与载物台之间的夹角范围大于等于0°且小于等于90°；另一角度调整机构驱动检偏臂围绕转轴定轴转动，检偏臂与载物台之间的夹角范围大于等于0°且小于等于90°；当起偏臂与载物台之间的夹角、检偏臂与载物台之间的夹角均为0°时，起偏臂与检偏臂相互对射；达到了便于对样品的散射光、反射光或透射光进行偏振态测量的目的。
一种入射角度范围调整偏振测量系统

[实用新型]一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统-CN202220219572.9有效
发明人：孟永宏;朱宗洋;杨良 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2022-01-25 - 公布日： 2022-06-07 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请涉及一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统，其包括起偏臂、样品台、底部旋转台以及固设在所述底部旋转台上的检偏臂；所述底部旋转台位于所述样品台下方，且所述底部旋转台和样品台同轴设置。本申请具有该系统对不同厚度的样品既可做入射角扫描的透射也可做入射角扫描的反射的效果。
一种入射角扫描样品相位延迟测量系统

[实用新型]一种高精度光波偏振态检测系统-CN202220219314.0有效
发明人：孟永宏;朱宗洋;杨良 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2022-01-25 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01J4/00 文献下载
摘要：本申请涉及光波偏振态检测领域，尤其是涉及一种高精度光波偏振态检测系统，其技术方案要点是：包括依次设置且光路同轴的可旋转补偿器、偏振棱镜以及探测器，还包括用于支撑偏振棱镜的支撑机构，偏振棱镜能够在支撑机构上转动并能够定位在两个检偏位置上，偏振棱镜在两个所述检偏位置上的偏振方向相互正交；达到了尽可能提高光波偏振态的检测精度的目的。
一种高精度光波偏振检测系统

[发明专利]一种小入射角的多波段反射系统及其使用方法-CN202210088784.2在审
发明人：孟永宏;杨良;孙文杰 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2022-01-25 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本申请涉及一种小入射角的多波段反射系统及其使用方法，其包括承载平台、深紫外近红外出光臂、深紫外近红外检测臂、中红外出光臂、中红外检测臂、样品台、第一旋转台以及第二旋转台，深紫外近红外出光臂固定在承载平台的一端，中红外出光臂固定在承载平台远离深紫外近红外出光臂的一端，第一旋转台与承载平台转动连接，转动轴沿垂直承载平台方向设置，深紫外近红外检测臂和中红外检测臂均固定在第一旋转台上，且深紫外近红外检测臂和中红外检测臂相邻设置，中红外检测臂靠近中红外出光臂，第二旋转台与第一旋转台转动连接，转动轴沿垂直承载平台方向设置，且第一旋转台以及第二旋转台为同轴旋转，样品台固定在第二旋转台远离承载平台的一侧，用于承载样品，本申请具有可变入射角范围大的效果。
一种入射角波段反射系统及其使用方法

[发明专利]一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统的使用方法-CN202210098998.8在审
发明人：孟永宏;朱宗洋;杨良 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2022-01-25 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请涉及一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统的使用方法，涉及入射角扫描的技术领域，其包括以下步骤：S1：将样品放置在样品台上；S2：测量，寻找样品的快慢轴；S3：将快轴或慢轴方向旋转到入射面内，将起偏臂和检偏臂设置在同一条直线上，对样品做透射测量；S4：调整起偏臂和检偏臂之间的夹角，对样品做反射测量；S5：对样品进行旋转，改变入射角，测量透射或反射。本申请具有该系统对不同厚度的样品既可做入射角扫描的透射也可做入射角扫描的反射的效果。
一种入射角扫描样品相位延迟测量系统使用方法

[发明专利]曲面样品顶点定位方法、装置和椭偏仪-CN202010711831.5有效
发明人：孟永宏;朱宗洋;王辉辉 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2020-07-22 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本申请涉及一种曲面样品顶点定位方法、装置和椭偏仪，该方法包括：获取清晰的样品图像；在所述清晰的样品图像上确定基准点，以所述基准点建立三维坐标系；在所述三维坐标系内以第一步长确定多个采集点；在预设波长范围内，采集每个所述采集点处的光强值；将数值最大的所述光强值对应的采集点确定为所述曲面样品顶点。本申请能够快速、精确地寻找出测量曲面样品的最佳测量点。
曲面样品顶点定位方法装置椭偏仪

[实用新型]一种椭偏测量装置-CN202021272230.0有效
发明人：朱宗洋;杨良;尹福钰 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2020-07-02 - 公布日： 2021-01-01 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本申请公开了一种椭偏测量装置，包括基板、样品台、检测部件、角度切换机构和角度定位机构；样品台固定安装在基板上，样品台台面为平面；角度切换机构转动安装在基板上，角度切换机构的转动轴线位于检测面内；检测部件包括起偏臂和检偏臂，起偏臂和检偏臂安装在角度切换机构上；角度定位机构安装在工作平台上，通过刚性抵触限位或自锁结构限定角度切换机构的转动角度。本申请的椭偏测量装置，无需再变换样品台或改变样品台方位，具有结构简单、操作简捷、重复定位精度高的优点，可实现多种类样品采用相同放置位置，降低测试过程中样品碎片风险，实现样品的任意点测试，提高测试效率。
一种测量装置

[发明专利]样品台及具有该样品台的椭偏仪-CN202010711760.9在审
发明人：孟永宏;朱宗洋;王辉辉 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2020-07-22 - 公布日： 2020-12-11 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本申请涉及一种样品台及具有该样品台的椭偏仪，该样品台包括：基台；与所述基台连接的转动驱动机构，用于驱动所述基台在第一方向和第三方向形成的平面，和/或第二方向和第三方向形成的平面内转动；与所述转动驱动机构连接的线性驱动机构，用于驱动所述转动驱动机构在所述第一方向，和/或所述第二方向，和/或所述第三方向上往复运动。本申请能够快速、精确地寻找出被测曲面样品的最佳测量点。
样品具有椭偏仪

[发明专利]一种椭偏测量装置及测量方法-CN202010626758.1在审
发明人：朱宗洋;杨良;尹福钰 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2020-07-02 - 公布日： 2020-09-04 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本申请公开了一种椭偏测量装置及测量方法，包括基板、样品台、检测部件、角度切换机构和角度定位机构；样品台固定安装在基板上，样品台台面为平面；角度切换机构转动安装在基板上，角度切换机构的转动轴线位于检测面内；检测部件包括起偏臂和检偏臂，起偏臂和检偏臂安装在角度切换机构上；角度定位机构安装在工作平台上，通过刚性抵触限位或自锁结构限定角度切换机构的转动角度。本申请的椭偏测量装置及测量方法，无需再变换样品台或改变样品台方位，具有结构简单、操作简捷、重复定位精度高的优点，可实现多种类样品采用相同放置位置，降低测试过程中样品碎片风险，实现样品的任意点测试，提高测试效率。
一种测量装置测量方法

[实用新型]一种高能量利用率的线偏振光产生装置及其应用-CN201220417782.5有效
发明人：孟永宏 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2012-08-21 - 公布日： 2013-01-30 - 主分类号： G02B27/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于线偏振光源的高能量利用率的线偏振光产生装置及其应用，包括：一个线偏振光源101，四分之一波片103、四分之一波片104、安装在中空旋转器105中的线偏振器102。其中，四分之一波片103与线偏振光源101机械固定,其方位角C1与线偏振光源11的偏振面方位角L夹角为C1-L=[0.5*(k2+k1)+0.25]*π；四分之一波片104的方位角C2与线偏振器102的方位角P的夹角为P-C2=[0.5*(k2-k1)+0.25]*π，二者同步旋转,其中k1取值为-1,0,1中任意一个整数；k2取值为-2，-1,0,1中任意一个整数。本方法的优点是，无论线性起偏器102方位角如何设置，始终可以保持光源能量利用率接近100％。
一种高能量利用率偏振光产生装置及其应用

[发明专利]一种高能量利用率的线偏振光产生装置及其应用-CN201210299893.5无效
发明人：孟永宏 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2012-08-21 - 公布日： 2012-11-28 - 主分类号： G02B27/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于线偏振光源的高能量利用率的线偏振光产生装置及其应用，包括：一个线偏振光源101，四分之一波片103、四分之一波片104、安装在中空旋转器105中的线偏振器102。其中，四分之一波片103与线偏振光源101机械固定,其方位角C1与线偏振光源11的偏振面方位角L夹角为C1-L=[0.5*(k2+k1)+0.25]*π；四分之一波片104的方位角C2与线偏振器102的方位角P的夹角为P-C2=[0.5*(k2-k1)+0.25]*π，二者同步旋转,其中k1取值为-1,0,1中任意一个整数；k2取值为-2，-1,0,1中任意一个整数。本方法的优点是，无论线性起偏器102方位角如何设置，始终可以保持光源能量利用率接近100％。
一种高能量利用率偏振光产生装置及其应用

[实用新型]一种用于椭偏仪中晶体硅太阳电池检测的样品台-CN201020579001.3无效
发明人：孟永宏;赵鑫 -专利权人： 北京量拓科技有限公司
申请日： 2010-10-21 - 公布日： 2011-06-29 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于椭偏仪中晶体硅太阳电池检测的样品台，包括方位调节台和设置在其上的台面，方位调节台和台面之间还设置有台面连接件，该台面连接件上设置有两个用于承载台面的定位面，该两个定位面之间设置有54.7°±5°的夹角。本实用新型用于椭偏仪中晶体硅太阳电池检测的样品台，在检测不同类型的样品时，只需要把台面连接并定位到台面连接件上的相应平面上，即可实现对不同类型(单晶、多晶)的太阳电池的检测，以达到操作简捷、更换迅速、重复性定位精度高、测试效率高的要求。
一种用于椭偏仪中晶体太阳电池检测样品

1
2
下一页»
尾页
共 17 条