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[发明专利]测试板、测试机及测试系统-CN202310333227.7在审
发明人：张军强 -专利权人： 北京华峰装备技术有限公司
申请日： 2023-03-30 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及一种测试板、测试机及测试系统。测试板包括：测试序列存储器，存储有测试序列，所述测试序列包括至少一个测试任务；时钟存储器，存储有所述测试序列中各个所述测试任务的测试开始时刻；控制单元，与所述测试序列存储器和所述时钟存储器分别连接，用于接收测试启动信号，并根据所述测试启动信号从所述测试序列存储器获取测试序列、从所述时钟存储器获取所述测试序列中各个所述测试任务的测试开始时刻，以按照所述测试序列中各个所述测试任务的测试开始时刻执行对应的所述测试任务。采用该测试板能够提高测试效率。另外，该测试机中通过测试时序控制器实现了测试板间并行协同工作。
测试系统

[实用新型]一种连接辅助装置及连接结构-CN202223320893.7有效
发明人：郭步骞;周昊鹏 -专利权人： 北京华峰装备技术有限公司
申请日： 2022-12-09 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：一种连接辅助装置及连接结构，包括：电路板，所述电路板上焊接有簧片；限位件，所述限位件与所述电路板可拆卸连接，所述限位件上设置有第一辅助孔，所述第一辅助孔呈通孔状，所述簧片位于所述第一辅助孔内，所述第一辅助孔的宽度与所述簧片的宽度相适配，所述第一辅助孔的长度设定为所述簧片在所述第一辅助孔内弯折到预定角度时与所述第一辅助孔相抵接。通过将第一辅助孔的长度设定为簧片在第一辅助孔内弯折到预定角度时与第一辅助孔相抵接，从而可以对簧片的弯折角度进行限定，从而防止簧片弯折角度过大，影响与管脚插入第一辅助孔内与簧片进行插拔连接时的连接效果，避免簧片变形过大影响使用寿命。
一种连接辅助装置结构

[发明专利]指令发送方法及装置-CN202211515601.7在审
发明人：全斌;张军强 -专利权人： 北京华峰装备技术有限公司
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： H04L69/22 文献下载
摘要：本申请涉及一种指令发送方法及装置，包括：当接收到待发送的一指令时，将所述指令写入缓存器以缓存，复位计数器并启动自计数；使用竞争方式执行第一操作与第二操作：所述第一操作包括：当所述计数器计数达到预设周期阈值时，读取所述缓存器已缓存的指令，封装于一帧数据中，并复位计数器；所述第二操作包括：当所述缓存器中缓存的指令个数达到预设个数阈值，读取所述缓存器已缓存的指令，封装于一帧数据中，并复位计数器；发送所述一帧数据。本申请可以提高指令的发送效率。
指令发送方法装置

[实用新型]辅助测试电路及差分输出运放测试电路-CN202221568387.7有效
发明人：姜祎春;管树正 -专利权人：北京华峰测控技术股份有限公司;北京华峰装备技术有限公司
申请日： 2022-06-22 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请提供了一种辅助测试电路，包括减法运算电路、第一电阻网络和第二电阻网络，其中，减法运算电路与被测差分输出运算放大器的输出端连接，被测差分输出运算放大器的输出端包括正输出端和负输出端，减法运算电路的放大倍数为1；第一电阻网络包括第一端和第二端，第一电阻网络的第一端与被测差分输出运算放大器的负输出端连接；第二电阻网络包括第一端和第二端，第二电阻网络的第一端与被测差分输出运算放大器的正输出端连接，第二电阻网络的第二端与第一电阻网络的第二端连接。本申请提供的辅助测试电路可以实现通过辅助运放环路完成差分输出运放的全部直流参数自动化测试，提高测试效率。
辅助测试电路输出

[实用新型]高速运放测试电路-CN202221629796.3有效
发明人：孙衍翀;姜祎春 -专利权人：北京华峰测控技术股份有限公司;北京华峰装备技术有限公司
申请日： 2022-06-28 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请提供了一种高速运放测试电路，包括被测运算放大器、辅助运放环路、第一补偿电路和第二补偿电路，其中，第一补偿电路与被测运算放大器的反相输入端连接；第二补偿电路与被测运算放大器的同相输入端连接；被测运算放大器、第一补偿电路以及第二补偿电路与所述辅助运放环路连接。本申请提供的高速运放测试电路消除了失调电流对失调电压测试的影响。
高速测试电路

[发明专利]半导体器件封装检测方法、计算机设备及可读存储介质-CN201910992348.6有效
发明人：孙衍翀;闫肃;祁建军 -专利权人：北京华峰测控技术股份有限公司;北京华峰装备技术有限公司
申请日： 2019-10-18 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请提供了一种半导体器件封装检测方法、计算机设备及可读存储介质，首先对待测半导体器件的热阻特征参数施加测试激励，并采集待测半导体器件的热阻特征参数的测试波形；然后将所述测试波形中上升沿波形与所述热阻特征参数的预设上升沿波形进行比对，得到比对结果；最后基于所述比对结果确定所述半导体器件的封装是否存在缺陷。本申请采用上述方法，在检测时只需对待测半导体器件的热阻特征参数施加测试激励，并将采集的所述测试波形中上升沿波形与所述热阻特征参数的预设上升沿波形进行比对，从而确定所述半导体器件的封装是否存在缺陷。避免了测试过程中加入专门的热阻测试项，节约测试时间，进而提高测试效率，同时还能够降低测试成本。
半导体器件封装检测方法计算机设备可读存储介质

[实用新型]一种时间测量电路-CN202122614881.4有效
发明人：张军强;胡国庆 -专利权人： 北京华峰装备技术有限公司
申请日： 2021-10-28 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： G04F10/00 文献下载
摘要：本实用新型属于半导体测试领域，具体提供了一种时间测量电路。该时间测量电路包括：前端调理电路和后端测量电路，所述前端调理电路和所述后端测量电路连接；其中，所述前端调理电路用于接收待测的模拟信号并输出待测的数字信号；所述后端测量电路用于接收所述待测的数字信号以对所述待测的数字信号进行时间测量。基于本实用新型提供的技术方案，避免了线缆传输过程对模拟信号的衰减，以提高时间测量的准确性。
一种时间测量电路

[实用新型]一种连接器支撑结构-CN202122619155.1有效
发明人：张军强;胡国庆 -专利权人： 北京华峰装备技术有限公司
申请日： 2021-10-28 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： H01R13/62 文献下载
摘要：一种连接器支撑结构，设置在电气设备的壳体上，壳体上设置有连接器的插座，连接器的插头可以插入插座实现电连接，包括：支撑件，支撑件设置在壳体上，具有与插头形状相适配的支撑部，插头插入插座后，支撑部与插头相抵接。由此，可以通过设置在壳体上的支撑件与插头抵接，从而对插头提供支撑，避免插头朝向支撑件抵接方向倾斜，从而保证了电连接。同时，避免插头朝向支撑件抵接方向倾斜，对插头及插座的结构造成损坏。
一种连接器支撑结构

[外观设计]半导体测试机（小型）-CN202130661895.4有效
发明人：张军强;胡国庆 -专利权人： 北京华峰装备技术有限公司
申请日： 2021-10-09 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：半导体测试机（小型）。2.本外观设计产品的用途：本产品用于测试电子元器件的电气性能。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。5.本产品右视图与左视图相同，省略右视图;本产品底面不常见，省略仰视图。
半导体测试小型

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