专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光子数分辨探测装置-CN202211056837.9在审
  • 刘想靓;甘海勇;傅杨挺;赫英威;徐楠 - 中国计量科学研究院
  • 2022-08-31 - 2022-12-16 - G01J11/00
  • 本发明涉及光子数分辨技术领域,提供一种光子数分辨探测装置,其包括信号接收模块、光纤分束器、多根延时调节光纤以及单光子探测器,信号接收模块用于接收光信号;光纤分束器具有至少一个光纤分束器入口和多个光纤分束器出口,光纤分束器入口连接信号接收模块;多根延时调节光纤的一端与多个光纤分束器出口一一对应连接,且不同延时调节光纤的长度不同;多根延时调节光纤的另一端均对接至单光子探测器的传感芯片表面。本发明的光子数分辨探测装置,通过光纤分束器和不同长度的延时调节光纤配合,协同探测多个光子,实现基于时分复用的光子数分辨探测,而且结构简单,能够利用多种单光子探测器实现光子数的分辨,扩展单光子探测器的应用领域。
  • 光子分辨探测装置
  • [发明专利]基于光子数分辨探测器的测量装置及方法-CN202211058589.1在审
  • 甘海勇;刘想靓;傅杨挺;徐楠 - 中国计量科学研究院
  • 2022-08-30 - 2022-12-13 - G01J11/00
  • 本发明提供一种基于光子数分辨探测器的测量装置及方法,基于光子数分辨探测器的测量装置包括样品座、相干光源和光子数分辨探测器,样品座被配置为能够接收样品,还被配置为能够容置样品进行化学反应、调节样品的温度以及调节样品的机械和运动状态;相干光源被配置为能够向样品座上的样品发射入射光;光子数分辨探测器被配置为能够测量经过样品座上的样品的透射光、反射光及散射光的数据并进行统计、分析,以得到透射光、反射光及散射光的光子统计特性。本发明的基于光子数分辨探测器的测量装置及方法,利用光子数分辨探测器实现对样品的化学成分和反应过程、温度、机械和运动状态的测量,使得光子数分辨探测器的应用领域范围得到扩展。
  • 基于光子分辨探测器测量装置方法
  • [发明专利]单光子探测器量子效率校准装置和方法-CN202210770298.9在审
  • 傅杨挺;甘海勇;刘想靓;赫英威;徐楠;林延东 - 中国计量科学研究院
  • 2022-06-30 - 2022-10-18 - G01J11/00
  • 本发明提供一种单光子探测器量子效率校准装置和方法,涉及单光子探测技术领域。单光子探测器量子效率校准装置包括:脉冲激励源,用于产生激励脉冲;单光子源,在激励脉冲的激励下能够发出具有特定波长的单光子辐射;光子收集器,包括显微物镜,用于接收单光子辐射并成像;标准单光子探测器,用于和待测单光子探测器交替置于光子收集器的成像点位置,以使单光子辐射能够分别照射到标准单光子探测器和待测单光子探测器的光敏面,且标准单光子探测器的单光子探测量子效率经过标定。本发明的单光子探测器量子效率校准装置和方法,通过将单光子源作为标准定标光源,利用单光子源的单光子特性,实现准确校准单光子探测器的量子效率,校准准确度高。
  • 光子探测器量子效率校准装置方法
  • [发明专利]光子通量标准源与光子通量响应度测量方法-CN202210583523.8在审
  • 甘海勇;傅杨挺;刘想靓;王英策;赫英威;徐楠;林延东 - 中国计量科学研究院
  • 2022-05-25 - 2022-09-20 - G01M11/02
  • 本申请涉及显微成像辐射校准技术领域,提供一种光子通量标准源与光子通量响应度测量方法。光子通量标准源包括积分球光源与光阑;所述积分球光源出口外侧包括具有第一面积的第一平整表面,所述光阑靠近所述积分球光源一侧为具有第二面积的第二平整表面,所述第一平整表面与所述第二平整表面之间平行且存在平面间隔,所述积分球光源出口在所述光阑限定的立体角内具有平均亮度;其中,所述平面间隔、所述平均亮度、所述第一面积与所述第二面积,用于计算确定待测探测器的光子通量响应度的光子通量。本申请可以准确地确定出进入显微成像系统的光子通量,因此可以提高根据光子通量标定的显微成像系统的光子通量响应度精确度。
  • 光子通量标准响应测量方法
  • [发明专利]一种用于单光子探测系统的超导薄膜及其制备方法-CN201410810977.X在审
  • 常相辉;刘想靓;韦强;郭伟杰;李海杰;周品嘉;韦联福 - 西南交通大学
  • 2014-12-23 - 2015-05-13 - H01L39/24
  • 本发明公开了一种用于单光子探测系统的制备方法,包括以下步骤:S1硅片清洗;S2磁控溅射在硅片上生长金属薄膜;S3在金属薄膜的表面均匀的覆盖一层光刻胶,并烘烤定型;S4预制的掩膜板覆盖光刻胶,用紫外线对光刻胶进行曝光;S5取下掩膜板,用显影液腐蚀掉光刻胶中被曝光的部分;S6将显影后的薄膜刻蚀掉裸露的金属薄膜部分;S7、将刻蚀后的薄膜清洗并风干。本发明还公开了一种用于单光子探测系统的超导薄膜,该薄膜以硅片作为基底材料,薄膜材质为金属,薄膜上制备有定位标记,以便于实现自动切片。通过本发明方法制备的薄膜表面平整,不易脱落,无光刻胶残留,同时,薄膜上设计有定位标记,便于后续切割的精准对位,实现自动切割。
  • 一种用于光子探测系统超导薄膜及其制备方法
  • [实用新型]一种用于制备单光子探测器的自动切片机-CN201420826314.2有效
  • 常相辉;韦强;郭伟杰;刘想靓;韦联福 - 西南交通大学
  • 2014-12-23 - 2015-04-15 - H01L31/18
  • 本实用新型公开了一种用于制备单光子探测器的自动切片机,包括用于安装各组件的机架;安装在机架上的运动平台、切片组件和识别组件,运动平台可在X轴方向和Y轴方向移动,切片组件和识别组件均位于运动平台上方,识别组件用于对固定在运动平台上的薄膜进行对位,切片组件用于切割固定在运动平台上的薄膜;与运动平台和识别组件相连的控制组件,控制组件用于接收识别组件的数据信号并控制运动平台在X轴方向和Y轴方向的移动;本实用新型的自动切片机,整个切割划线过程相对于以前的每次切割划线均需要对位一次相比效率大大的提高了,切割划线的精度也大大的提高了,相对于通过设置切割间距来实现半自动切割的切片机相比,适用范围更广。
  • 一种用于制备光子探测器自动切片机

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