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[发明专利]一种空间光磁光仪及其制作方法-CN202110320010.3有效
发明人：刘阳;王启盼;冉书能;李智 -专利权人：北京大学
申请日： 2021-03-25 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： G01R33/12 文献下载
摘要：本发明提出一种空间光磁光仪及其制作方法，涉及材料表面磁性测量领域，该空间光磁光仪包括激光器、衰减器、第一半透半反镜、格兰泰勒棱镜、电光晶体、扩束镜、四分之一波片、第一光阑、第一聚焦透镜、第二光阑、第三光阑、第二聚焦透镜、光电探测器、示波器、锁相放大器、信号发生器和带磁铁的样品槽，不需外场调制可直接测量磁光效应，可以准确地反映样品的静态磁性。
一种空间光磁光仪及其制作方法

[实用新型]一种基于IP成像板的透射电镜成像及扫描系统-CN201220580560.5有效
发明人：张焱;贾春燕;陈晶;冉书能;刘国超;李增杰 -专利权人：北京大学
申请日： 2012-11-06 - 公布日： 2013-04-10 - 主分类号： H01J37/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于IP成像板的透射电镜成像及扫描系统。本实用新型的透射电镜成像及扫描系统包括：透射电镜及扫描装置；其中，透射电镜中采用IP成像板，透过样品后的电子束曝光在IP成像板上形成影像；扫描装置对已曝光的IP成像板进行影像扫描，直接生成影像的数码信息。本实用新型采用IP成像板，形成影像的曝光时间短，从而提高了透射电镜的灵敏度，并且操作快捷，图像对比度高；存储在IP成像板内的影像可以保持7天以上；IP成像板可在正常的可见光环境中操作；IP成像板中的信息可选择性的重复读取或消光，能够重复利用近两万次。因此，本实用新型在可方便地观察图像的细节的同时，消除资源浪费和环境污染，提高测量精度。
一种基于 ip 成像透射扫描系统

[发明专利]基于IP成像板的透射电镜成像扫描系统及其控制方法-CN201210439813.1有效
发明人：张焱;贾春燕;陈晶;冉书能;刘国超;李增杰 -专利权人：北京大学
申请日： 2012-11-06 - 公布日： 2013-02-20 - 主分类号： G01N23/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于IP成像板的透射电镜成像扫描系统及其控制方法。本发明的透射电镜成像扫描系统包括：透射电镜及扫描装置；其中，透射电镜中采用IP成像板，透过样品后的电子束曝光在IP成像板上形成影像；扫描装置对已曝光的IP成像板进行影像扫描，直接生成影像的数码信息。本发明采用IP成像板，曝光时间短，从而提高了透射电镜的灵敏度，操作快捷，图像对比度高；存储在IP成像板内的影像保持7天以上；IP成像板可在正常的可见光环境中操作，使用方便；IP成像板中的信息可选择性的重复读取，已曝光的IP成像板经消光后，可以重复利用近两万次。因此，本发明在可方便地观察图像的细节的同时，消除资源浪费和环境污染，提高测量精度。
基于 ip 成像透射扫描系统及其控制方法

[发明专利]一种热对流斑图测试仪及其测量方法-CN201210058539.3有效
发明人：贾春燕;冉书能;周路群 -专利权人：北京大学
申请日： 2012-03-07 - 公布日： 2012-08-01 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种热对流斑图测试仪及其测量方法。本发明的测试仪包括：样品腔；在样品腔的上表面安装制冷系统；在样品腔的下表面安装加热系统；以及用来观测热对流斑图的光学观测系统。本发明在冷却板和加热板之间，通过胶圈密封，内部通有样品液体，形成样品腔，并通过冷水机的温度设置控制冷却板的温度，以及温控电路控制加热板的加热功率，样品腔的上表面和下表面能够较快地获得不同的温差，形成热对流，以及利用阴影法来观察样品腔内的斑图。此种设计，能够精确地控制样品腔的上和下表面的温度，并且样品腔内无气泡。本发明的测试仪，直观、简单、易于操作。
一种对流测试仪及其测量方法

[实用新型]变温肖特基二极管特性测试仪-CN200920106228.3无效
发明人：贾春燕;刘国超;冉书能;孙鼎;蒋莹莹;荀坤;邢启江 -专利权人：北京大学
申请日： 2009-03-17 - 公布日： 2010-03-17 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪，属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统，变温系统用于改变肖特基二极管的温度，测得温差电动势信号；数据采集系统用于对肖特基二极管样品的两端施加电压信号，收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据，以及获得温差电动势数据；计算机控制系统用于对数据采集系统进行控制，并根据数据采集系统的数据信息，计算出肖特基二极管的势垒高度qφ_b、有效理查德常数A^**、理想因子n和串联电阻R。本实用新型可直接获得肖特基二极管的特性参数，提高了测量效率。
变温肖特基二极管特性测试仪

[发明专利]变温肖特基二极管特性测试仪-CN200910080023.7无效
发明人：贾春燕;刘国超;冉书能;孙鼎;蒋莹莹;荀坤;邢启江 -专利权人：北京大学
申请日： 2009-03-17 - 公布日： 2009-08-12 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪，属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统，变温系统用于改变肖特基二极管的温度，测得温差电动势信号；数据采集系统用于对肖特基二极管样品的两端施加电压信号，收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据，以及获得温差电动势数据；计算机控制系统用于对数据采集系统进行控制，并根据数据采集系统的数据信息，计算出肖特基二极管的势垒高度qφ_b、有效理查德常数A^**、理想因子n和串联电阻R。本发明可直接获得肖特基二极管的特性参数，提高了测量效率。
变温肖特基二极管特性测试仪