“中国兵器工业标准化研究所”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果21个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]红外光学材料杂质测试方法-CN201811138357.0有效
发明人：麦绿波 -专利权人： 中国兵器工业标准化研究所
申请日： 2018-09-28 - 公布日： 2020-09-08 - 主分类号： G01N21/35 文献下载
摘要：本发明涉及红外光学材料杂质测试方法，涉及光学材料杂质测试技术领域。本发明利用红外照相系统的景深特性和场景成像原理，对可见光不透明的红外材料中存在的杂质情况进行红外照相系统景深范围的一次成像获取红外光学材料内部全部杂质状况，该方法对可见光不透明的红外材料内部的杂质进行测试的设备要求简单，不需要承载样品的二维自动移动的精密平台和承载显微物镜的精密一维自动移动平台，降低了测试设备的成本；本测试方法是一次照相真实成像，无重叠成像结果的处理，反映的测试结果真实；本测试方法一次拍照就完成，测试快捷、时间短。
红外光学材料杂质测试方法

[发明专利]光学材料折射率均匀性的评价方法-CN201811218909.9有效
发明人：麦绿波;杨静;胡向平;徐光以;王蕾 -专利权人： 中国兵器工业标准化研究所
申请日： 2018-10-19 - 公布日： 2020-06-30 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及光学材料折射率均匀性的评价方法，涉及光学材料折射率均匀性评价技术领域。本发明建立了光学材料折射率均匀性缺陷与其使用影响的密切联系，提出了光学材料折射率均匀性新的评价概念、指标及其不确定度关系，并建立了这种评价关系的数学计算方法，基于所提出的数学计算方法设计了一种新的光学材料折射率均匀性的评价方法。本发明的光学材料折射率均匀性的评价方法既能真实反映光学材料使用时折射率均匀性对光学系统成像的影响，也能反映光学材料工艺技术对光学材料折射率均匀性的影响，可为光学材料均匀性的测试提供合理的评价指标和方法，也可为高成像质量的光学系统设计提供更可靠的折射率均匀性指标。
光学材料折射率均匀评价方法

[发明专利]光学材料条纹的定量测试方法-CN201811138838.1有效
发明人：麦绿波 -专利权人： 中国兵器工业标准化研究所
申请日： 2018-09-28 - 公布日： 2020-03-31 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及光学材料条纹的定量测试方法，涉及光学材料条纹测试技术领域。本发明首先是创建一个条纹量化表达的概念和条纹量化算法公式，然后应用光电探测器接收的光学投影测试装置，通过建立光电探测器的接收信号的灰度标尺和校准投影装置的标准校样，对光学投影测试装置进行标定或校准，用标定或校准的光学投影测试装置对被测样品进行测试，并由光学投影测试装置对样品的测试图像进行统计，按条纹量化算法公式进行计算，获得被测试样品的条纹缺陷的定量表达值。本发明使光学材料条纹测试的结果由人工评定转变为按照条纹值的算法由光电投影测试装置自动算出定量结果，大大提高了测试的精准性和测试的客观性，同时还大大提高测试工作的效率，使获得测试图像的同时就获得了定量测试结果。
光学材料条纹定量测试方法

[发明专利]红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法-CN201811219048.6有效
发明人：麦绿波 -专利权人： 中国兵器工业标准化研究所
申请日： 2018-10-19 - 公布日： 2020-03-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法，涉及红外光学材料均匀性测试技术领域。本发明基于对红外光学材料折射率均匀性测试期间试样局部小的温度变化对测试结果精度影响的发现，建立了红外光学材料折射率测试精度要求和不同红外光学材料温度变化对折射率影响对应的测试室环境温度控制的二维数值表格关系，并建立了相关计算公式进行数值计算和填表，提供了红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法，建立了红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法的技术解决方案，能够为红外光学材料均匀性测试精度的保证提供温度控制的准确指导。
红外光学材料均匀测试温度影响评估控制方法

[发明专利]红外光学材料均匀性测试的试样面形误差的控制方法-CN201811219047.1有效
发明人：麦绿波 -专利权人： 中国兵器工业标准化研究所
申请日： 2018-10-19 - 公布日： 2020-02-14 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及红外光学材料均匀性测试的试样面形误差的控制方法，涉及红外光学材料均匀性测试技术领域。本发明通过建立红外光学材料均匀性测试试样面形误差与测试原理和测试精度要求的计算关系，将红外测试波段的试样面形误差的波前波差影响转换为可见光条件下加工和检验的试样面形误差关系，并通过建立相关的算法公式进行数值计算，创建了红外光学材料短波、中波、长波波段均匀性测试精度保证的试样面形误差控制的数值表格，并进一步计算给出了红外光学材料短波、中波、长波波段均匀性测试精度保证的试样面形误差控制的用例表。本发明可为红外短波波段、中波波段和长波波段的光学材料均匀性测试精度保证提供试样面形误差控制的具体数值。
面形误差均匀性测试红外光学材料长波波段精度保证短波测试精度要求可见光条件测试原理短波波段光学材料红外测试数值表格数值计算算法公式中波波段波段转换创建检验加工

[发明专利]投影及纹影二合一光学测试系统-CN201811138868.2有效
发明人：麦绿波 -专利权人： 中国兵器工业标准化研究所
申请日： 2018-09-28 - 公布日： 2019-12-24 - 主分类号： G01M11/04 文献下载
摘要：本发明涉及投影及纹影二合一光学测试系统，涉及投影及纹影光学测试技术领域。本发明在一套测试系统中，通过应用两个透镜移动的光学特性组合，分别形成投影望远光学系统和纹影照相光学系统，实现了一套光学系统装置具有投影光学系统和纹影光学两种功能。本发明使需要应用两种不同光学原理建立的两种光学测试功能的装置在一个装置中实现，大大节省了测试装置的设计和制造费用，同时增加测试装置的功能，方便了测试工作的开展，节省了测试设备的放置空间。
纹影投影光学测试系统测试装置二合一光学测试技术光学系统装置投影光学系统望远光学系统照相光学系统设计和制造测试设备测试系统放置空间光学测试光学特性光学原理透镜移动应用测试