[实用新型]一种顶升测试装置

说明书

本实用新型涉及一种顶升测试装置，包括：支架、设置在支架上的测试底板、连接在测试底板上的测试座、设置在测试座上的测试孔和设置在测试底板下侧的顶升机构，所述顶升机构被配置为用于穿过测试底板伸入测试孔内；其中，所述顶升机构包括升降驱动、连接在升降驱动上的一级浮动结构、连接在一级浮动结构上的二级浮动结构和设置在二级浮动结构上的顶针结构，所述顶针结构被配置为用于伸入测试孔内以接触待测产品。本实用新型的有益效果如下：顶升测试装置上测试座中的产品有由顶升机构浮动接触测试，自动顶升，调节可调节，取代了原有的硬接触测试，测试效果好，防止产品损坏。

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，特别是涉及一种顶升测试装置。

背景技术

随着科技的发展，电子产品的测试设备的需求量也逐渐增加，且对芯片测试的设备也越来越严格，当前，在对电子产品进行测试时，预先将产品放入测试座中，在由测试座下部的浮动探针进行接触测试，现有的浮动测试装置在对产品进行浮动测试时，浮动位置存在偏差，浮动不易调节，探针与产品硬接触，接触位置无法缓冲，甚至造成产品的损坏。

实用新型内容

基于此，有必要针对上述背景技术中的问题，提供一种顶升测试装置，顶升机构测试时可浮动调节，浮动接触产品，测试效果好，防止产品损坏。

为实现上述目的及其他目的，本申请提供一种顶升测试装置，包括：支架、设置在支架上的测试底板、连接在测试底板上的测试座、设置在测试座上的测试孔和设置在测试底板下侧的顶升机构，所述顶升机构被配置为用于穿过测试底板伸入测试孔内；其中，所述顶升机构包括升降驱动、连接在升降驱动上的一级浮动结构、连接在一级浮动结构上的二级浮动结构和设置在二级浮动结构上的顶针结构，所述顶针结构被配置为用于伸入测试孔内以接触待测产品。

优选地，所述测试底板上设置有浮动通槽，所述浮动通槽被配置为用于二级浮动结构的避让。

优选地，所述二级浮动结构上设置有屏蔽环结构。

优选地，所述一级浮动结构包括连接在升降驱动上的浮动底板、设置在浮动底板上的第一固定件和设置在第一固定件上的一级浮动板，所述第一固定件上套设在有与一级浮动板相抵的第一浮动件。

优选地，所述二级浮动结构包括设置在一级浮动板上的第二固定件和连接在第二固定件上的二级浮动板，所述二级浮动板内嵌入有与一级浮动板相抵的第二浮动件。

优选地，所述顶针结构包括设置在二级浮动板上的顶针导向件、滑动设置在顶针导向件顶端的顶针和套设在顶针导向件上第三浮动件。

优选地，所述二级浮动板与一级浮动板之间设置有导向件，所述导向件被配置为用于二级浮动板与一级浮动板的浮动导向。

优选地，所述支架上设置有抖动机构，所述抖动机构被配置为用于推动测试底板以便测试座上的产品准确进入测试位。

优选地，所述抖动机构包括抖动驱动和连接在抖动驱动上的抖动头。

优选地，所述支架上设置有传感器，所述传感器被配置为用于与测试孔相对应。

本实用新型的有益效果如下：

1、顶升测试装置上测试座中的产品有由顶升机构浮动接触测试，自动顶升，调节可调节，取代了原有的硬接触测试，测试效果好，防止产品损坏；

2、顶升测试装置上的顶升机构包括一级浮动结构和二级浮动结构，顶升浮动时，一级浮动结构和二级浮动结构自生调节，与产品缓冲接触，抵消一定误差，测试精准；

3、顶升测试装置上的二级浮动结构上设置有屏蔽环结构，在产品测试时，不受信号干扰，产品测试效果好；

4、顶升测试装置上的抖动机构在产品待检测时，对测试座上的测试孔内的产品进行抖动调节，保证产品在测试座中定位精准，顶升测试装置上的传感器对测试孔内进行产品有无检测，产品测试快速。